Устройство для исследования микроструктуры образца при механических испытаниях

 

Класс 42k, 20щ.% 79240

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬ

-:1

В. П. Лебедев

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ

ОБРАЗЦА ПРИ МЕХАНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЯХ

Заявлено 8 февраля !9И года в Комитет по изобретениям и открытиям при Совете Министров СССР за № 391704

Опубликовано 31 января 1950 года

1 5 !:í 1 . 1п >cc:c l, .c c, I, 1я:0 гc

Обычно исследование микроструктуры и процесс механических испытаний образцов производятся р аздел ьно.

Предлагаемое устройство дает возможность производить наблюдение за микроструктурой образцов в процессе их механических испытаний при различных внешних усло-; виях, т. е. при различных давлениях и температурах. Шлиф изготовляется непосредственно на испытуемом образце. Наблюдение за структурой образца производится посред-; ством микроскопа, а регистрация посредством фотографирования на кинопленку.

На схематическом чертеже представлен общий вид устройства.

Испытуемый образец 1 зажимается клиновидными плашками в верх- нем и нижнем захватах 2 и 8 устройства, которые закрепляются в захватах разрывной ма шины.

Образец 1 с предварительно изготовленным на нем шлифом 4 устачавливается против смотрового окна микроскопа. Затем корпус прибора герметически соединяется с крышками верхнего и нижнего захватов зажимными оолтами 6, По окончании сборки устройства производится при помощи регулировочного механизма 8 установка на фокус микроскопа 7.

В случае проведения во время деформирования образца киносъемки окуляр микроскопа присоединяется к киносъемочному àïïàрату 9.

При исследовании микрострукту-, ры образца в различных внешних условиях через штуцер 10 производится заполнение внутреннего объема инертным газом, создается давление или вакуум, а при помощи нагревателя 11 плп системы охлаждения создается требуемая темпер атур а.

Температура контролируется термопарой 12, расположенной в непосредственной близости к образцу.

После достижения требуемых условий включается испытателвная машина и производится деформация образца.

Предмет изобретения

Устройство для исследования микроструктуры образца при меха1 нических испытаниях в различных внешних условиях с применением микроскопа и фотографирования на

225 № 7924О

226 кинопленку, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью наблюдения за микр оструктурой при механических испытаниях образца, оно выполнено в виде снабженной подогревом и водяным охлаждением для регулировки температурного режима и со. единенной с насосом для создания ()тв. редактор М. М. Акишии необходимого давления герметичной камеры, в боковой стенке которой" вмонтировано окно для наблюдения. и фотографирования микроструктуры шлифа, изготовленного на боковой поверхности нагружаемого образца, укрепленного в захватах, установленных в днищах камеры.

Редактор P Я. НЗзефовив

Устройство для исследования микроструктуры образца при механических испытаниях Устройство для исследования микроструктуры образца при механических испытаниях 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для исследования деформационных полей на поверхности образцов материалов и изделий, подвергаемых сложному нагружению

Изобретение относится к методам и средствам контроля, применяемым для исследования поведения и свойств образцов изделий и материалов в процессе ударных испытаний их структурных характеристик и прочностных параметров

Изобретение относится к конструктивному элементу (11) из электроизолирующего материала, в котором предусмотрена выполненная в виде проводников (14а, 14b, 14с) структура для обнаружения механических повреждений, таких как трещины

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для определения показателей износоустойчивости литьевого оборудования, в частности оборудования для литья различных деталей, изготавливаемых литьем из полимерных материалов, например стеклонаполнителей с 30%-ным содержанием стекловолокна, а также и без наполнителей

 // 81326
Наверх