Устройство для проверки качества объективов

 

ii7l272l

ОПИС

ИЗОБР

К АВТОРСКОМ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное (22) Заявлено 11.08.7 с присоединением (23) Приоритет (43) Опубликовано 30 (45) Дата опубликова

1) М. Кл.

G 01 М 11/02

1осударствеииый комитет

СССР

3) УДК 535.313.082. . 55 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения

О. А. Ачкасов, В. С. Кокунько, И. С. Орлов, А. А. Поляков, А. Я. Терехов, Д. Ш. Галиакберов и H. К. Херувимов (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ КАЧЕСТВА

ОБЪЕКТИВОВ

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам для проверки качества оптических деталей и плоских пластин фотоэлектрическим методом, предназначенных для использования в оптической и стекольной промышленности.

Известно, например, устройство для проверки качества поверхности стекла (1).

Однако из-за сложности измерительной схемы этого устройства, состоящего из двигателя, преобразователя, автокомпенсатора, ролика, обтянутого светопоглощающим слоем (черным бархатом), резервуара, наполненного глицерином, создает большие неудобства при его эксплуатации.

Наиболее близкое к изобретению техническое решение — устройство для проверки качества объективов путем измерения кружка рассеяния, содержащее передающую систему, которая включает в себя установленные последовательно источник света, конденсатор, диафрагму, расположенную в фокальной плоскости объектива, и объектив, формирующий параллельный пучок лучей, испытуемый объектив и приемную систему, включающую установленные последовательно анализирующий узел, состоящий из радиальной миры, вращаемой двигателем вокруг оси, параллельной оптической, и приемник излучения, соединенный через усилитель с регистрирующим прибором (2).

Это устройство недостаточно точно имеет плохую помехозащищенность от посторонних засветок.

Цель изобретения — повышение чувствительности и точности устройства.

Для достижения этой цели в передаю1о щую систему введен модулятор светового потока, вращающийся с частотой, соответствующей чувствительности приемника излучений, установленный по ходу луча за конденсором, а анализирующий узел при15 емной системы выполнен в виде фотоэлектрического микроскопа, установленного за испытуемым объективом, предметная плоскость которого сопряжена с плоскостью изображения испытуемого объектива.

На чертеже схематично показано устройство.

Устройство состоит из передающей системы 1, которая включает источник излучения 2, конденсор 3, модулятор 4 и входд ную диафрагму 5, расположенную в фокальной плоскости коллиматорного объектива 6, испытуемого объектива 7 и приемной системы 8, включающей анализирующий узел, выполненный в виде фотоэлек30 трического микроскопа 9, состоящего из

3 объектива 10, перекидного зеркала 11, приемника излучения 12 и окуляра 13. Весь микроскоп имеет микрометрические перемещения в плоскости, перпендикулярной к оптической оси, и вдоль нее и блок 14 и обработки сигнала, состоящий из предусилителя 15, усилителя 16, стрелочного индикатор а 17 и о сцилл огр а ф а 18.

Световой поток, формируемый передающей системой 1 и модулированный с часто- lo той f, собирается в фокальной плоскости испытуемого объектива 7. Кружок рассеяния, получаемый после испытуемого объектива, увеличивается объективом микроскопа 10, с помощью перекидного зеркала 11 15 проецируется в плоскость чувствительной площадки приемника излучения 12. Увеличенное изображение кружка рассеяния с помощью микрометрических перемещений сканируется чувствительной площадкой приемника излучения, и по величине сигнала на стрелочном индикаторе 17 и осциллографе 18 определяются границы кружка рассеяния при любом соотношении сигнала к шуму. Отсчетные барабаны анализирующей головки позволяют измерять размер кружка рассеяния в различных плоскостях.

Окуляр 13 необходим при предварительной настройке оптической системы. Частота модуляции подбирается в зависимости от чувствительности приемника, блок обработки сигнала настроен на несущую частоту.

Этим достигается хорошая помехозащищенность оптико-электронной схемы от паразитных засветок и высокая чувствительность всего устройства. Для работы оптической системы в любом диапазоне оптические элементы выполнены в виде зеркал, кроме окуляра, который является элементом настройки.

Одновременное использование модулятора и фотоэлектрического микроскопа позволяет повысить чувствительность устройства и точность измерений.

Формула изобретения

Устройство для проверки качества объективов, содержащее передающую систему, которая включает в себя у становленные последовательно источник излучения, конденсор, диафрагму, расположенную в фокальной плоскости объектива и объектив, формирующий параллельный пучок лучей, испытуемый объектив и приемную систему, включающую установленные последовательно анализирующий узел и фотоприемник, соединенный через усилитель с регистрирующим прибором, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений, в передающую систему введен модулятор светового потока, установленный по ходу луча за конденсором, а анализирующий узел приемной системы выполнен в виде фотоэлектрического микроскопа, установленного за испыту емым объективом, предметная плоскость которого сопряжена с плоскостью изображения испытуемого объектива, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 402773, кл. G 01 М 11/02, 1973.

2. Авторское свидетельство СССР

¹ 176099, кл. G 01М 11/02, 1965 (прототип) .

712721

Корректор 3. Тарасова

Редактор Т. Рыбалова

Типография, пр. Сапунова, 2

Составитель H. Вашковская

Техред А. Камышникова

Заказ 2793/15 Изд. № 119 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5