Способ измерения диаметра отверстия

Авторы патента:

ШВЕЛЕР АНАТОЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

СЕМИДА ВИТАЛИЙ СЕРАФИМОВИЧ

G01B11/12 - отверстий

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

И АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. саид-вувЂ” (22) Заявлено 17. 04. 78 (21) 2607658/18-09 с прнсоединением 3aявки ¹â€” (23) Приоритет

Опубликовано 231080. Бюллетень № 39

Дата опубликования описания 23.1080 (5!)М. Кл.з

G 01 В 11/12

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открыти и (53) УДК 621.317 (088.8) (72) Авторы изобретения

A.B.Ìâåëåð и В.C.Cåìèäà (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ОТВЕРСТИЯ

Изобретение относится к измерительной технике.

Известен способ измерения диаме тра отверстия путем облучения отверстия электромагнитной волной и измерения амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник полученной комбинированной дифракционной и интерференционной картин $1) .

Однако при известном способе ограничен диапазон измеряемых отверстий.

Цель изобретения вЂ” расширение . диапазона измеряемых отверстий.

Для этого в способе измерения диаметра отверстия путем облучения отверстия электромагнитной волной и измерения амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник полученной комбинированной дифракционной и интерференционной картин изменяют длину электромагнитной волны и фиксируют длину волны, при которой амплитуда интерференционного сигнала нечетных гармоник равна удвоенному значению амплитуды электромагнитной волны в свободном пространстве.

На чертеже приведена диаграмма, поясняющая способ измерения.

Способ осуществляется следующим образом.

Электромагнитной волной облучают из точки 1 измеряемое отверстие 2, с другой стороны которого получают комбинированную дифракционную и интерференционную картину. Затем опретп деляют амплитуду излученной волны в точке 3 свободного пространства.

При этсв. измерение амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник ведут по максимальной амплитуде в точке 4 с одновременным изменением длины волны облучения до значения длины волны 3, при которой амплитуда интерференционного сигнала нечетных гармоник в точке 4 равна удвоенному значению амплитуды электромагнитной волны в точке 3 свободного пространства.

Диаметр О измеряемого отверстия

25 2 определяют по формуле D = 2ЛЯ, где E вЂ” - расстояние между точкой 4 приема и измеряемым отверстием 2.

Способ по сравнению с известным расширяет диапазон измеряемых от3р верстий в 300 раз.

773429

Формула изобретения

Составитель A.Êóçíåöîâ

Редактор Т.Киселева Техред C.Мигунова Корректор М.Коста

Заказ 7486/52 Тирап 801 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", г.укгород, ул.Проектная,4

Способ измерения диаметра отверстия путем облучения отверстия электромагнитной волной и измерения амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник полученной комбинированной дифракционной и интерференционной картин, о т л и ч а юшийся тем„ что, с целью расширения диапазона измеряемых отверстий, изменяют длину электромагнитной волны и фиксируют длину волны, при которой амплитуда интерференционного сигнала нечетных гармоник равна удвоенному значению амплитуды электромагнитной волны в свободном пространстве.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США 9 3954337, щ кл.С 01 В 9/02, 197б.

Вптб ! -^-пм^ г';>&';п^-;\ // 397746

Прибор для дистанционного изл\ерения внутреннего диаметра отверстия // 347565

Устройство для контроля продольного сечения отверстия детали // 324487

Устройство для измерения отверстий изделий // 318329

Интерференционный нутромер для измерения диаметров отверстий изделий // 315913

Проекционный прибор для контроля линейных и угловб1х размеров детали // 284307

Патент 277270 // 277270

Способ измерения диаметров отверстий в кольцах // 207400

Патент 193740 // 193740

Оптическое устройство для измерения диаметра и контроля внутреннего профиля крупногабаритных изделий // 2288446

Изобретение относится к оптическим измерительным устройствам и может быть использовано для измерения диаметра и контроля внутреннего профиля крупногабаритных изделий

Проекционно-измерительное устройство // 2037772

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для точного измерения геометрической формы элементов, образующих протяженные каналы, и для проецирования световых изображений внутрь каналов

Устройство для контроля геометрических параметров глубоких отверстий // 896395

Способ измерения параметров глубоких отверстий // 911148

Способ определения диаметра отверстий // 1413415

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частг нести к фетоэлектрическим способам контроля диаметра отверстий

Устройство для измерения параметров глубоких отверстий // 1415053

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения непрямолйнейнос-

Устройство для размерного контроля отверстия // 1534302

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для размерного контроля отверстия

Способ определения диаметра цилиндрических отверстий // 1597533

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении и приборостроении для контроля точности изготовления диаметра отверстий

Способ определения диаметра отверстий и устройство для его осуществления // 1620826

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении диаметра отверстий

Способ бесконтактного измерения диаметра отверстий // 1651093

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано лля бесконтактного измерения отверстий, в том числе с переменным диаметром Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона контролируемых отверстий