Способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ ни783711

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (51)М. Кл. (22) Заявлено 081278 (21} 2693637/18-09 с присоединением заявки № (23) Приоритет

С 01 и 27/26

G 01 N 22/00

Государственный комитет

СССР

l10 делам изобретений и открытий

Опубликовано 301180.Бюллетень ¹ 44

Дата опубликования описания 30,1180 (53) V4K 621.317. .335(088.8) (72) Автор. изобретения

Е.A. Воробьев (71) Заявитель

ЛеНинградский институт авиационного приборостроения (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПОСТОЯННОЙ

РАСПЛАВА ТЕРМОСТОЙКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

Изобретение относится к технике измерения на СВЧ и может использоваться при разработке радиопрозрачных термостойких диэлектрических материалов для обтекателей антенн и ракет.

Известен способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков, основанный на сверхвысокочастотном измерении параметров холодною диэлектрика и расплава $1(.

Однако известный способ измерения не обеспечивает измерения диэлектрической постоянной расплава при температурах, превышающих 1500ОС.

Цель изобретения — расширение рабочего диапазона температур.

Для этого в способе измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков, основанном на сверхвысокочастотном измерении параметров холодного диэлектрика и расплава, предварительно пропускают через плоскопараллельный образец диэлектрика известной толщины сфокусированный электромагнитный луч и из- меряют электрическую толщину образца в холодном состояли, затем нагревают образец с одной стороны до появле- ЗО ния поверхностного. расплава и измеряют температуру расплава, повторно пропускают сфокусированный электромагнитный луч и измеряют суммарную электрическую толщину образца с поверхностным расплавом, затем охлаждают образец до затвердения расплава, разрушают расплав скалыванием и измеряют толщину затвердевшей части расплава образца и по электрическим толцинам образца в холодном и нагретом состоянии с расплавом, а также по толщине плоскопараллельного образца и затвердевшего поверхностного расплава определяют величину диэлектрической постоянной расплава.

Предлагаемый способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких материалов показывает, что основ ное влияние на ухудшение радиотехнических параметров радиопрозрачных обтекателей при их интенсивном аэродинамическом нагреве и оплавлении оказывает образующийся на их поверхности расплав материала. Измерение диэлектрической постоянной расплава при температурах, превышающих 1500в, дает воэможность разрабатывать новые термостойкие днэлектри783711

Формула изобретения

Составитель N.ÕàçàH

Редактор Г.Прусова Техред Ж.Кастелевич Корректор Н Грнгорук

Заказ 8539/48 Тираж 1019 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", г. Ужгофод, ул. Проектная, 4 ческие материалы, необходимые в обтекательной технике.

Способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков, основанный на сверхвысокочастотном измерении параметров холодного диэлектрика и расплава, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения рабочего диапазона темлератур, предварительно пропускают через плоскопараллельный образец диэлектрика известной толщины сфокусированный электромагнитный луч и измеряют электрическую толщину образца в.холодном состоянии, затем нагревают образец с одной стороны до появлення поверхностного расплава и измеряют температуру расплава, повторно пропускают сфокусированный электромагнитный луч и измеряют суммарную электрическую толщину образца с поверхностным расплавом, затем охлаждают образец до затвердения расплава, разрушают расплав скалыванием и измеряют толщину затвердевшей части расплава образца и по электрическим толщинам образца в холодчом и нагретом состоянии с расплавом, а также по толщине плоскопараллельного образца и затвердевшего поверхностного расплавà определяют величину диэлектрической постоянной расплава.

Источники информации, 15 принятые во внимание при экспертизе

1. Тишер Ф. Техника измерений на .сверхвысоких частотах, И.„ ФМЛ, 1963 с. 285-286 (прототиn).

Способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков Способ измерения диэлектрической постоянной расплава термостойких диэлектриков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться в цифровых микроомметрах
Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла

Изобретение относится к электроизмерительной технике, а именно к способам определения сопротивлений, и может быть использовано при экспериментальных измерениях

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к измерению электрического сопротивления, преимущественно в микроомном диапазоне, например сопротивления контактов коммутационных аппаратов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение при неразрушающем контроле печатного монтажа многослойных печатных плат

Изобретение относится к расчету переходных процессов, в сложных электрических цепях с распределенными параметрами

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к резонансному способу измерения емкости на высоких частотах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к резонансному способу измерения малой емкости на высоких частотах при воздействии высокой температуры, давления и радиации

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в авиационной, машиностроительной, металлургической промышленности для контроля качества электропроводящих изделий по величине удельной электрической проводимости их материалов
Наверх