Вихретоковый структуроскоп с калибратором

 

fP ° .

, =ll"

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ (iii 785731

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 31.10.78 (21) 2679411/25-28 (51)М. Кд. с присоединением заявки,%

G 01 N 27/90

Государственный комитет (28) Приоритет

CCC1 по делам изобретений н открытий

Опубликовано 07,12.80. Бюллетень. Ле 45

Дата опубликования описания 07.12.80 (53 ) УД К620,179, .14 (088.8) (72) Автор изобретения

А. Д. Покровский (71) Заявитель

Московский ордена Ленина энергетический институт (54) ВИХРЕТОКОВЫЙ СТРУКТУРОСКОП

С КАЛИБРАТОРОМ

Изобретение относится к электромагнитным средствам контроля материалов и изделий и может быть использовано для неразрушающего контроля качества ферромагнитных материалов.

Известен вихретоковый дефектоскоп с калибратором, содержащий генераторы сигналов, свя5 занный с ними преобразователь и блок обработки сигнала (11. Однако схема этого дефектоскопа сложная.

Наиболее близким к данному изобретению является вихретоковый структороскоп с калиб10 ратором содержащий генератор сигналов, связанный с нйм проходной преобразователь, выполненный в виде индуктивно связанных двух возбуждающих и одной измерительной обмоток, 15 и подключенный к измерительной обмотке входом блок обработки сигнала (2).

Точность контроля этим дефектоскопом недостаточная, так как отсутствует средство для выделения гармоник иэ сигнала генератора.

Целью изобретения является повышение точности калибровки.

Эта цель достигается тем, что вихретоковый структуроскоп с калибратором снабжен включенным между генератором сигналов и одной иэ возбуждающих обмоток блоком формирования калибровочных сигналов из гармонических составляющих сигнала генератора, выполненным в виде последовательно соединенных усилителя первой гармоники, ограничителя, по крайней мере двухканального селектора гармонических составляющих и сумматора сигналов.

На чертеже представлена блок-схема вихретокового структуроскопа с калибратором, Структуроскоп содержит генератор 1 сигналов, связанный с ним проходной преобразователь 2 с двумя возбуждающими и одной измерительной обмопсами (на чертеже не указаны), подключенный к измерительной обмотке блок 3 обработки сигнала и соединенный с ним индикатор 4. К выходу размещаемой в преоб. разователе измерительной обмотки через избирательный усилитель 5 подключен ограничитель6, Выход ограничителя через двухканальный селектор 7 гармонических составляющих, содержащий избирательные усилители 8 и 9 высших гармоник, управляемые фазовращатели 10 и 11 и регуляторы 12 и 13 амплитуды, подключен

785731 ф ла поступает ЭДС первой и высших гармоник, амплитуду и фазу которых по показаниям индикатора 4 составляют с предварительно выбранными при настройке фазовращателей и регуляторов амплитуды, и таким образом судят о правильности калибровки одновременно как возбуждающей, так и измерительной обмоток структуроскопа на высших гармониках, Применение описанного вихретокового структуроскопа позволяет повысить качество контроля структурного состояния термообработанных стальных деталей в процессе их изготовления.

Вихретоковый структуроскоп с калибратором, содержащий генератор сигналов, связанный с ним проходной преобразователь, выполненный в виде индуктивно связанных двух возбуждающих и одной измерительной обмоток, и подключенный к измерительной обмотке входом блок обработки сигнала, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности калибровки, он снабжен включепным между генератором сигналов и одной из возбуждающих обмоток блоком формирования калибровочных сигналов иэ гармонических составляющих сигнала генератора, выполненным в виде последовательно соединенных усилителя первой гармоники, ограничителя, по крайней мере двухканального селектора гармонических составляющих и сумматора сигналов.

Источники информации, принятые во внимание лри экспертизе

1. Патент СНА N 3826976, кл, 324/40, 1974.

2, Городинский И. А; Магнитные и электрические методы испытания металлов. Госпланиэдат. М,— Л., 1940, с. 46 — 50 (прототип).

3 к входам сумматора 14, а выход сумматора подключен к одной из возбуждающих обмоток преобразователя 2. Управляющие входы фаэовращателей и регуляторов подключены к выходу избирательного усилителя 5 первой гармоники.

Структуроскоп работает следующим образом, Переменным напряжением генератора 1 возбуждают преобразователь 2. Переменное электромагнитное поле преобразователя 2 индуцирует переменную ЭДС основной гармоники, В измерительной обмотке преобразователя зта

ЭДС усиливается избирательным усилителем 5 первой гармоники и превращается в прямо- 1 Ф о р м у л а и э о б р е т е н и я угольные импульсы ограничителем 6. Из спектра гармонических составляющих прямоугольного импульса выделяются две гармонические составляющие с помощью избирательных усилителей

8 и 9 высших гармоник. Предварительно выбранная и используемая при калибровке амплитуда и фаза каждой из высших гармоник устанавливается с помощью фазовращателей 10 и

11 и регуляторов 12 и 13 амплитуды, Их изменение происходит в соответствии с изменением первой гармоники посредством использования напряжения с выхода усилителя первой гармоники для управления фазовращателями и регуляторами амплитуды.

Выходное напряжение регуляторов 12 и 13, 30 сигнал по амплитуде суммируется сумматором

14 и поступает на возбуждающую обмотку преобразователя 2, Электромагнитное поле возбуждающей обмотки индуцирует ЭДС высших гармоник в измерительной обмотке преобразователя 2. Одновременно в этой обмотке индуцируется ЭДС высших гармоник, не влияющая на работу устройства, так как она не пропускается усилителем 5 первой гармоники. С выхода преобразователя 2 на блок 3 обработки сигна785731

Составитель А. Духанин

Техред А. Кепанская КорректорМ. Вигула

Редактор Ж. Рожкова

Тираж 1019 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 8832/46

Филиал ПЛП "Патент", r, Ужгород, ул. Проектная, 4

Вихретоковый структуроскоп с калибратором Вихретоковый структуроскоп с калибратором Вихретоковый структуроскоп с калибратором 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх