Способ измерения толщины непроводящегопокрытия

 

ОЛИСАНЙЕ

ЙЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик.

«i> 815474 (6t ) Дополнительное к авт. саид-ву(51)М. Кл.з (22) Заявлено 23.03.79 (23) 2739140/25-28

G 01 В 7/06 с присоединением заявки ЙР—

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 23,0381. Бюллетень Йо 11

Дата опубликования описания 250381 (53) УДК 620.179..14(088.8) (72) Авторы изобретения

В. Г. Брандорф и В. Л. Котляров .,З1

1 стит т

Львовский ордена Ленина политехнический и и Львовский лесотехнический институт (71) Заявители (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫТИЯ

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины непроводящих покрытий на проводящих неферромагнитных основаниях.

Известен оптический способ измерения толщины покрытии (1).

Однако несмотря на высокую точность, этот способ непригоден для измерения толщины непрозрачных покрытий.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения толщины непроводящего покрытия на проводящем неферромагни ном основании, заключающийся в том, что накладывают на контролируемое изделие со стороны непроводящего покрытия вихретоковый накладной преобразователь и измеряют величину ЭДС, наводимую в его измерительной катушке 12).

Недостатком этого способа является сравнительно невысокая точность измерений, вызванная влиянием электропроводноети и толщины основания, погрешностями измерения ЭДС, Цель изобретения — повышение точности измерений.

Поставленная цель достигается тем, что устанавливают на фиксированном расстоянии соосно с первым второй накладной вихретоковый преобразователь, возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитное поле, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют значение этого отношения в момент равенства нулю вихревых токов в основании и по нему судят о толщине покрытия..

На чертеже приведен один из возмож-. ных.примеров конкретной реализации

15 способа.

На контролируемое изделие с основанием 1 и покрытием 2 наложены два идентичных жестко связанных коаксиальных вихретоковых преобра2О зователя 3 и 4, катушки которых Ы, с к

М2, Ч, - измерительные, М<, У, и компенсационные. Пары катушек Ити Ч, w и Н вЂ” соединены последователь2 2

/ но — согласно, W и Из - последовательно-встречно. Катушки У„, W a W<, W включены на выходы двух идентичных источников 5 и 6 тока, выходные сопротивления которых много больше полных сопротивлений их нагрузок.

ЗО Входы источников 5 и 6 тока через

815474 управляемые резистивные аттенюаторы

7 и 8 соединены с выходом генератора

9 синуссидального напряжения, который соединен также со входом схемы

10 управления. Выходы схемы 10 управления соединены со входами управления аттенюаторов 7 и 8. Выходы катушек М> и Ы включены на вход нуль-органа 11, выход которого соединен со схемой 10 управления, которая имеет также вход 12 "начальная установка".

Способ измерения толщины покрытия осуществляется следуищим образом.

В начальный момент на вход 12 схе10 управления подт иульс, и 15 аттеиюаторы 7 и .8 устанавливаются в начальное положение, при котором, например, аттенюатор 8 не ослабляет сигнал генератора 9, а аттенюатор 7 ослабляет сигналгенератора 9 до нуля. 20

В ЭТОМ СЛУЧаЕ ТОК 12 . г2 АСС И 1 =0 > т.е.. отношение чисел ампервитков

p» О. Вследствие близости проводящего основания 1 к катушкам И й2, Ч. разность ЭДС аб катушек Ч и М> йе равна нулю, на выходе нульоргана 11 отсутствует сигнал, и на выходах схемы 10 управления появляются управляющие сигналы, в результате чего величины ослабления аттенюаторов 7 и 8 начинают изменятьсяг у аттенюатора 8 " возрастать, у аттенюатора 7 " умень|иться. Возникает ток

i 2., амплнтуда которого возрастает, а амплитуда тока 12 уменьшается. это приводит к монотонному увеличению значения ампервитнов i M . и монотонному уменьшению вихревых токов в основании 1, при этом величина разнос-. ти ЗПС монотонно уменьшается. В момент, когда достигнуто состояние, 40 при котором е=0, срабатывает нульорган 11, на его выходе появляется сигнал "стол", воздействующий на схему 10 управления, что приводит к фиксации положения аттенюаторов 7 и 8.

В этом положении определяют значение ампервитков рр и по нему судят о величине измеряемой толщины покрытия 2.

Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерений, так как результат измерения не зависит от изменения напряжения генератора 9, величина р может быть задана, а следовательно, и зарегистрирована с малой погрешностью, отсутствуют операции измерения вносимой ЭДС или вносимых сопротивлений и связанные-с ними погрешности; результат измерения мало зависит от значения электропроводности основания. формула изобретения

Способ измерения толщины непроводящего покрытия на проводящем неферромагнитном основании, заключающийся в том, что накладывают на контролируемое изделие со стороны непроводящего покрытия вихретоковый накладной преобразователь и измеряют величину ЭДС, наводимую в его измерительной катушке, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности измерений, устанавливают на фиксированном расстоянии соосно с первым второй накладной вихретоковый преобразователь, возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитное поле, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют значение этого отношения в момент равенства нули вихревых токов в основании и по нему судят о толщине покрытия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Справочник "Неразрушающие испытания". Под ред. P. Мак-Мастера. М., "Энергия", 1965, ч.1, с. 195-216.

2. Справочник "Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий". Под ред. В.В. Клюева, М., "Машиностроение", 1976, ч. «й с.144 (прототип).

815474

Составитель Н. Долгова

Редактор О. Малец Тех ед Р..Бабинец Ко екто О ° Билак

Заказ 1010/65 Тираж 642

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Ра окая наб. . 4 5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,

Способ измерения толщины непроводящегопокрытия Способ измерения толщины непроводящегопокрытия Способ измерения толщины непроводящегопокрытия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх