Фотометрический шар для абсолютныхизмерений

 

(71) Заявитель (54) ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ

ИЗМЕРЕНИЙ

25 где

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а более конкретно — к деталям фотометров.служащих для измерения коэффициентов отражения.

Известны фотометрические шары (интегрирующие сферы )для абсолютных измерений коэффициентов диффузного отражения (11 .

Недостатком данных фотометричес- !() ких шаров является наличие существенной систематической погрешности.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является фотометрический шар для абсолютных 15 измерений с îòâåðñòèÿìè для образца фотоприемника (2), содержащий экран, установленный между отверстием образца и фотоприемника, который для исключения систематической пог- 20 решности изготовлен из материала с коэффициентом пропускания J -Р

" РЬ в — коэффициент отражения материала стенки шара .

Р— эффективный коэффициейт

О отражения внутренней поверхности шара.

Однако при измерениях в широком спектральном диапазоне, иногда трудно подобрать материал для экрана с постоянным значением коэффициента пропускания, что приводит к систематической погрешности.

Цель изобретения — уменьшение систематической погрешности.

Поставленная цель достигается тем, что в известном фотометрическом шаре для абсолютных измерений с отверстиями для образца и фотоприемника, содержащем экран, установленный между отверстиями образца и фотоприемНика, экран установлен с возможностью перекрытия от образца участка 5 чувствительной площадки фотоприемника, определяемого по формуле 1- Ðд

ЬЬ-5 „., -го где S - площадь чувствительной площадки фотоприемника;

Ро - коэффициент отражения ма-! териала стенки шара

Г

P — эффективный коэффициент отражения внутренней поверхности шара.

На чертеже изображена схема фотометрического шара для абсолютных измерений.

842421

Формула изобретения

Составитель А.Шуров

Техред Н.Майорош Корректор Н.Швыдкая

Редактор Е.Кинив

Заказ 5051/40 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул,Проектная,4

Шар содержит входное отверстие 1 для светового потока Ф„, выходное отверстие для фотоприемника 2, отверстие для исследуемого образца

3, непрозрачный экран 4, выполненный, например, в виде круга с отверстием, который макет фиксироваться в двух положениях А и A

Устройство работает следующим образом.

Когда экран 4 находится в положении А, свет направляется на исследуемый диффузно отражающий образец

3 и фиксируется отсчет Й фотоприемника 2,при этом освещенность стенки шар4 равна

К й. .Р Уо -Pb

i .=Когда экран 4 находится в положении А, свет направляют на свободную поверхность шара и фиксируют второй отсчет NG фотоприемника 2, при этом освещенность стенки шара равна

Ф.,Ро Ро 4 Ро о S I 1-я б <-р так как отношение отсчетов и и Nq. равно отношению освещенностей„ искомый коэффициент отражения 9= М/g

Изобретение позволяет проводить абсолютыне измерения коэффициентов отражения с уменьшением погрешности одновременно в широком спектральном диапазоне и поэтому может найти применение в измерениях в различных областях спектра.

Фотометрический шар для абсолют5 ных измерений с отверстиями для образца и фотоприемника, содержащий экран, установленный между отверстиями образца и фотоприемника, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности из- мерений, экран установлен с возможностью перекрытия от образца участка дб чувствительной площадки фотоприемника, определяемого по формуле . с где 5 — площадь чувствительной площадки фотоприемника, p0 — коэффициент отражения материала стенки шара; > †эффективный коэффициент отражения внутренней поверхности шара.

Источники информации, 25 принятые.во внимание при экспертизе

1. Торопец. Фотометрический шар для .абсолютных измерений.-"Оптика и спектроскопия", X,âûï.4, 1961,528.

2. Авторское. свидетельство СССР по заявке Р 2550944/18-25, кл. G 01 J 1/04, 05.12.77 (прототип).

Фотометрический шар для абсолютныхизмерений Фотометрический шар для абсолютныхизмерений 

 

Похожие патенты:

Фотометр // 813141

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх