Способ ультразвукового контроляразмеров дефектов b изделии

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 231078 p1) 2686706/25-28 f51)HL. с присоединением заявки Йо (23) ПриоритетG 01 N 29/04

ГосударственныМ комитет

СССР по делам изобретеиий и открытий

Опубликовано 300681. бюллетень HP 24 (53) УДК 620.179. . 16 (088. 8) Дата опубликования описания 300681 (72) Автор изобретения

Р.С.Огрызков (71) Заявитель (54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ РАЗМЕРОВ

ДЕФЕКТОВ В ИЗДЕЛИИ

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано при ультразвуковом контроле сварных швов.

Известен способ ультразвуковой дефектоскопии, состоящий в том, что прозвучивают иэделие и по величине наибольшего ослабления относительно опорного сигнала судят о размере дефекта (11 .

Недостатком данного способа является необходимость в изготовлении тест-образцов, их прозвучивании и разрушении.

Наиболее близкий к предлагаемому способ ультразвукового контроля размеров дефектов в изделии заключается в том, что перемещают искатель по контролируемому изделию, возбуждают и при 20 нимают ультразвуковые импульсы в иссле- дуемом изделии с помощью искателя и по величине ослабления параметров. принятых импульсов судят о размере каждого дефекта Я .

Недостатком способа является низкая производительность контроля, связанная с изготовлением тест-образцов, их проэвучиванием, разрушением и расче том коэффициентов перехода. 30

Цель изобретения — повышение производительности контроля.

Поставленная цель достигается за. счет того, что, предварительно в конт- ролируемом изделии создают эталонное препятствие, при приеме ультразвуковых импульсов снимают огибающие последовательности амплитуд импульсов в зоне измеряемых дефектов и эталонного препятствия, сравнивают ширину огибающИх на уровне 0,5 динамическо- го диапазона и выбирают дефект. ширина огибающей которого на этом уровне равна ширине огибающей эталонного препятствия, определяют ослабление для всех остальных дефектов и сравнивают его с ослаблением выбранного дефекта и величину сравнения принимают за параметр, по которому судят о размере каждого дефекта.

На фиг. 1 показана схема прозвучивания исследуемого изделия, на фиг. 2 - то же, вид сверху; на фиг.3ргибающие последовательностей принятых амплитуд;А; импульсов на экране дефектоскопа от перемещения искателя в зоне измеряемых дефектов и эталонного препятствия в направлении !.

Схема содержит излучатель 1 и приемник 2 искателя.

842563

Способ осуществляется следующим образом.

B контролируемом изделии формируют эталонное препятствие в виде цилиндрического сквозного отверстия диаметром

Оц в плоскости, перпендикулярной плос- 5 кости контроля, устанавливают излучатель 1 и приемник 2 соосно на одном расстоянии В друг от друга с двух сторон от эталонного препятствия. Перемещают излучатель 1 и приемник 2, возбуждая и принимая ультразвуковые импульсы, снимают огибающие последовательности амплитуд импульсов в зонах эталонного препятствия и измеряемых дефектов (не показаны), размеры которых не известны, сравнивают шири- 15 ну огибающих на уровне 0,5 динамического диапазона

A0 А где A - -амплитуда опорного сигнала; соответствующая положению 20 искателя вне зон эталонного препятствия и дефектов, A . .— -минимальная амплитуда сигна " лов от эталонного препятствия (А,„;„или дефектов А . ), 25 и выбирают дефект, ширина огибающей которого на этом уровне равна ширине огибающей эталонного препятствия.

Величину ослабления А -A>. выбранО те ного дефекта принимают за .эталонное значение и сравнивают с ним ослабления от остальных Дефектов и по параметру сравнения определяют размер де фекта.

Формула изобретения

Способ ультразвукового контроля ,размеров дефектов в изделии, заключающийся в том, что перемещают искатель по контролируемому изделию, возбуждают и принимают ультразвуковые импульсы в исследуемом изделии с помощью искателя и по величине ослабления параметров принятых импульсов судят о размере каждого дефекта, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, предварительно в контролируемом изделии создают эталонное препятствие, при приеме ультразвуковых импульсов снимают огибающие последовательности амплитуд импульсов в зоне измеряемых дефектов и эталонного препятствия, сравнивают ширину огибающих на уровне 0,5 динамического диапазона, и выбирают дефект, ширина огибающей которого на этом уровне равна ширине огибающей эталонного препятствия, определяют ослабление для всех .остальных дефектов и сравнивают его с ослаблением выбранного дефекта и величину сравнения принимают за параметр, по которому судят о размере каждого дефекта..

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Гурвич A.Ê. Зеркально-теневой метод ультразвуковой дефектоскопии, М., "Машиностроение", 1970, с.7.

2. Краткие тезисы докладов научнотехнической конференции "Ультразвуковая дефектоскопия сварных конструкций". Л. РТПЦНИИТС, 1973, с. 144147 (прототип).

842563

/ min

in о

4 min

Составитель Р. Восканян

Техред С,Мигунова . Корректор Е.Рошко

Редактор A.Ìàêoâñêàÿ

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 5069/47 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ:Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская Наб., д. 4/5