Способ оценки реальной чувствитель-ности уьтразвукового контроля изо-тропных материалов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ВТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик оо8365?7 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 010377 (21)2457365/25-28

<Я)М. Клз с присоединением заявки Йо

G 01 и 29/04

Государственный комитет

СССР оо делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 07.0681. Еюллетеиь М 21

Дата опубликования описания 10.0631 (53) УДК620.179 ° . 16 (088. 8) (54) СПОСОБ ОЦЕНКИ РЕАЛЬНОИ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ

УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ ИЗОТРОПНЫХ

МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для ультразвукового контроля изотропных материалов, обладающих малым уровнем структурны помех," например, фторопласт, мелкозернистые металлы.

Известен способ аналитичЕского определения чувствительности контроля, заключающийся в определении по формуле величины дефекта, залегающего на заданной глубине (1).

Однако данный способ дает низкую точность измерений чувствительности контроля.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому .результату является способ оценки . реальной чувствительности ультразвукового контроля изотропных.материалов, заключающийся в том, что анали-. зируют ультраэВуковой сигнал, про-. шедший исследуемый материал (2).

Однако при таком способе контроля требуется большой расход материалов для изготовления комплекта специальных образцов с жесткими требованиями по их выполнению, которые в процессе испытаний разрушаются.

Целью изобретения является обеспечение возможности оценки реальной чувствительности контроля материалов без Разрушения.

Эта цель достигается тем, что измеряют коэффициент затухания ультразвука в материале и.запас усиления . эхо-дефектоскопа, используемого при измерении, строят АРД-диаграмму, наносят на нее линию минимально регистрируемого эхо-сигнала с учетом запаса усиления эхо-дефектоскопа и коэффициента затухания ультразвука в материале, а по точкам пересечения нанесенной линии с семейством кривых диаграммы судят о реальной чувствительности материала.

На фиг. 1 показана нормированная

20 АРД-диаграмма искателя с нанесенной на ней линией минимально регистрируемого отражателя (A — относительная величина ослабления амплитуды эхоh

25 сигнала, Р = — — нормированное рас,Н стояйие; h — глубина залегания отражателя; N — - зона Френеля).

На фиг. 2 показана измеренная предлагаемым способом реальная чувст30 вительность ультразвукового контроля

836577

Формула изобретения

У(РР g4 бфЧ Р,„4 б Ю Ю Л 40 (030100, 7 = — в»

Юкг.1

70 на частоте 2 МГц следующих материалов:

1. Капролон Б 2. Оргстекло

3. Титановый сплав ВТ 3-1 4. Алюминиевый сплав Д16Т

Способ оценки реальной чувствительности ультразвукового контроля изотропных материалов заключается в следующем. Измеряют по известной методике коэффициент затухания ультразвука в исследуемом материале. С помощью тонкой пластины из исследуемого материала определяют величину. ослабления аттенюатора при уменьшении амплитуды донного эхо-сигнала из пластины на 2/5, наблюдаемого на экране электроннолучевой трубки. По положению шкалы аттенюатора определяют величину А — запас усиления эхо-дефек:оскопа. От линии ординат нормированной АРД-диаграммы из точ- ки A проводят линию минимально ре1 гистрируемого эхо-сигнала А = A - h, и по точкам пересечения этой лийии с семейством кривых АРД-диаграммы строят кривую реальной чувствительности контроля материала.

Предлагаемый способ исключает необходимость разрушения деталей из исследуемого материала и значительно ускоряет процесс измерения реальной чувствительности ультразвукового контроля изотропных материалов.

Способ оценки реальной чувствительности ультразвукового контроля изотропных материалов, заключающийся в том, что анализируют ультразвуковой

1 сигнал, прошедший исследуемый материал, отличающийся тем, что, с целью оценки реальной чувствительности контроля материалов без разрушения, измеряют коэффициент затухания ультразвука в материале и запас усиления эхо-дефектоскопа,используемого при .измерениях, строят АРД-диаграмму, наносят на нее линию минимального регистрируемого эхо-сигнала с учетом запаса усиления эхо-дефетоскопа и коэффициента затухания ульт20 развука в материале, а по точкам пересечения нанесенной линии с семейством кривых диаграмм судят о реальной чувствительности контроля материала.

Источники информации, 5 принятые во внимание при экспертизе

1. "Дефектоскопия", 1972, Р 1, с. 136.

2. Выборнов Б.И. Ультразвуковая дефектоскопия. М., "Металлургия", 1974, с. 119.

836577

Составитель Г. Федорсв

Редактор Ж. Рожкова Техред T.. Маточка . Корректор Н. Бабинед

Заказ 3107/34 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Гоеударственного, комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. ужгсрод, ул. Проектная, 4 ф(Ю !

И

glj

72.

И

4Ю

ДЮ

Р4

/2.

У

AI J

Я7 J0 Я39ЩК ЮО ДЮ ЯРАЯ 46РДЮ4ЯЮ