Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев

 

ОПИСАНИЕ (И845

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Соцналнстнцеских

Республик оа

К ПАТЕпТУ (6I) Дополнительный к патенту— (22) ЗаЯвлено21.06.77 (21) 2501304/18-28 (51) М. Кл. (23) Приоритет 21.06.76(32) (31) Р 2627753. 2 (33) ФРГ

GO1 Вl

/06

Гееударетеенный кемитет

СССР ае делан нзееретеиий и открытий

Опубликовано 07.07,8 1.Бюллетень № 25

Дата опубликования описания 09.07.81 (53) УДК 5З

° 53 (О.7 17.

8.8 ) Иностранцы

Хорст Швиккер, Гернот Торн и Ханс-Петер (ФРГ) (72) Автори изобретения рльз,т Пд ТЕПТКО

TF. Х и К :.,"=, у йа Блафф

Иностранная фирма

"Лейбольд-Херойс ГмбХ унд КО КГ (ФРГ) . (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОПЩИНЫ

ОПТИЧЕСКИ ТОНКИХ СЛОЕВ ми рим усиом3 й, спочувстI ля ° мпакоди дифобо

Изобретение отюсится к контрольноизмерительной технике, а именно к конструкции устройств для измерения толщины оптически тонких слоев.

Наиболее близким по своей технической сущности к данному изобретению является устройство для измерения оптически тонких слоев пленок, содержащее вакуумную камеру, имеющую испаритель, приспособление для прерывания процесса напыления що и держатель образца и выполненную со светопроницаемым окном, последовагельно установленные вдоль оси, проходящей через центр окна, источник излучении, узел прерывания излучения и светодели- . ld тель, а также последовательно размещенные в измерительной ветви светоделителя, установленного под углом в 45 к оси, проходящей через центр, монохроматор с узлом управления, приемник излучения 20 и усилитель Pl) .

Недостаток известного устройства состоит в том, что на результатах измерений в значительной степени сказывается как отклонения яркости источника иэ- И лучения, так и изменение чувствит усилителя и приемника.

Белью изобретения является по ние точности измерений.

Поставленная цель достигается счет того, что устройство снабжен вторыми приемником излучения и у телем, последовательно установле в опорной ветви светоделителя, эл чески связанными блоком сравнен фазочувствительны м фото метрическ лителем, дифференцирующим элеме нуль-детектором и логической схем выход которой связан со входом пр собления для прерывания процесса ления триггером, связанным входо выходом второго приемника излуче а выходом со вторым входом фаз вительного <ротометрического усили связанным входом с его выходом к ратором, выход которого соединен вторым входом логической схемы и рующим элементом, подключенным ференцирующему элементу, а выход

3 8458 их усилителей подключены ко входам блока сравнения.

Двигатель прерывателя излучения выполнен с кварцевой стабилизацией, источник излучения размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечения плеч которого расположен светоделитель, а плечо, противолежащее источнику излучения, сое динено с вакуумной камерой. Соединение между первым приемником излучения и 10 корпусом устройства выполнено разъемным.

Ъ

На фиг. 1 изображена конструктивная схема устройства; на фиг. 2 «описываемое устройство в разрезе.

Устройство для измерения толщины оптически тонких слоев содержит источник излучения 1, узел прерывания из» лучения 2, выполненный в виде цилиндрического барабана с выемками, приводимо20 го в действие двигателем с кварцевой стабилизацией, светоделитель 3, состоящий из полупрозрачного зеркала, расположенного под углом 45 к оси измерительного луча, и вакуумную камеру 4, имеющую испаритель 5, приспособление для п. ерывания процесса напыления, состоящее из бленды 6 с приводом 7, держатель 8 образца, эталонный образец, например стекло 9, и магазин 10 эталонных стекол с управляющим блоком (не пока30 зан).

Источник излучения 1, узел прерывания излучения 2 и светоделитель 3 установлены вдоль оси, проходящей через центр

35 светопроницаемого окна 11, которое выполнено в нижней стенке 12 вакуумной камеры 4.

В измерительной ветви светоделителя

3 последовательно размещены монохро40 матор 13 с узлом управления, выполненным в виде шагового двигателя 14 и цифрового управляющего блока 15, прием ник 16 излучения и усилитель 17. В опорной ветви светоделителя 3 также 4 последовательно установлены приемник излучения 18 и усилитель 19. Выходы усилителей 17 и 19 связаны со входом блока сравнения 20, который мсюкет выдавать как разность, так и отношение

50 выходных сн;гналов обоих, усилителей.

Выход блока сравнении подключен к фазочувствите п ному фотометрическому усилителю 21, который получает управляющий сигнал от триггера 22. Выход фааочувствительного фотометрического усилителя

21 связан со входами дифференцирующего элемента 23 и компаратора 24. Второй вход дифференцирующего элемента

04 4

23 связан с кодирующим элементом 25.

К выходу дифференцирующего элемента

23 подключен нуль-детектор 26. Нульдетектор 26 и компаратор 24 своими выходами связаны со входами ло1 ической схемы 27, а выход последней подключен на вход приспособления, которое обеспечивает процесс прерывания налыления.

1.

Источник излучения 1, узел прерывания излучения 2, светоделитель 3 и приемники 16, 18 излучения размещены в крестообразном корпусе 28, причем светоделитель 3 установлен в точке пересечения плеч корпуса, а плечо, противолежащее источнику излучения 1, соедине но с помощью штуцера 29 и накидной гайки 30 с вакуумной камерой 4. Между источником излучения 1 и узлом прерывания излучения 2 находится оптическая диафрагма 31, которая с помощью юстировочных винтов (не показаны) подвижна в радиальном направлении относительно корпуса 28. Соединение между приемниками излучения 16, 18 и корпусом выполнено с помощью штекеров 32, 33.

Работе устройства заключается в следу юще м.

Во время процесса напыления луч от источника 1 проходит через узел прерывания излучения 2 и попадает на светоделитель 3. Благодаря светоделителю

3 часть измерительного луча под углом

90 отклоняется и попадает на опорный о приемник 18, а прошедшая через светоделитель часть измерительного луча проходит через окно 11 и попадает на стекло 9, расположенное на оптической оси системы. От объекта измерения часть измерительного луча отражается и по оптической оси отклоняется обратно на светоделитель 3. От светоделителя приходящая из вакуумной камеры часть измерительного луча также под углом 90 отклоняется к измерительному приемнику

16, проходя при этом монохроматор 13, посредством которого измерительный приемник сенсибилизируется для определенной длины волны.

Электрический сигнал от измерительного приемника 16 подается на усилитель

17, а сигнал, возбужденный опорным приемником - на компенсационный усидитель 19 и параллельно этому — на триггер

22. Выходной сигнал блока сравнения

2 О р представляющий собой разность или отношение выходных сигналов усилителей

17, 19, поступает на фазочувствительный фотометрический усилиель 21, который

5 8468 получает свой управляющий сигнал относительно значения фазы от триггера 22.

Выходной сигнал фотометрическогс усилителя 21 является непрерывным и подается с одной стороны на дифференцирующий элемент 23, на который через второй вход подается цифровой сигнал от кодирующего элемента 25 для изменения временной постоянной дифференцирующего элемента, а с другой стороны — на компа-1б ратор 24, в котором действительная величина интенсивности фотометрического усилителя 21 сравнивается с подаваемой через второй вход аналоговой заданной величиной интенсивности. Как только действительная величина достигает задет ной, выдается кратковременный импульс, посылаемый на логическую схему 27, которая содержит также выходные сигнально нуль-детектора 26. Нуль-детектор 26 на щ выходе дает сигнал тогда, когда дифференцированный сигнал на выходе элемента

23 проходит через нулевой уровень. В зависимости от поставленных задач напыления логическая схема 27 может быть 2 выполнена как в виде И, так и в виде

ИЛИ элемента. Так, если требуется чтобы толщина пленки лежала между значениями нуль и 1/4 длины волны применяемого измерительного света, выключение напы- 30 пения следует перед первым прохождением через нуль на дифференцирующем элементе

2 3. При этом показания HyJtb-индикатора не обрабатываются и компаратор проводит выключение, как только действительная 35 и заданная величина согласуется. Однако, если выключение при определенной толшине пленки следует между любыми прохоыдениами через нуль, нуль-индикатор и компаратор активизируются и логи- 40 ческая схема начинает работать в режиме

ИЛИ. Следствием этого является тот факт, что сигнал может быть передан транзитом только тогда, когда достигнуто выбранное число переходов через нуль 45 и после чего происходит новое согласова ние действительной и заданной величины интенсивности.

Таким образом, описываемое устройс - 50 во дает возможность управлять процессом напыления и измерать величину тонкой пленки с высокой степенью точности. во время продолжительного процесса просветления, а также получать хорошую И воспроизводимость достигнутых резульгатов ри многослойных покрытиях.

04 6

Ф ор мула изобр етени

Устройство для измерении толщины оптически тонких слоев, содержащее в умную камеру, имеющую испаритель, пр пособление для прерывания процесса на пыления и держатель образца, и выполненную со светопроницаемым. окном, по-.следовательно установленные вдоль оси, проходящей через центр окна, источник излучения, узел прерывания излучения и светоделитель,- последовательно размеще ные в измерительной ветви свето?вселите установленного под углом в 45 к оси, проходящей через центр, монохроматор с узлом управления, приемник излучения и усилитель, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено вторыми прием ником излучения и усилителем, последов тельно установленны м в опорной ветв светоделителя, электрически связанными блоком сравнения, фазочувствительным фотометрическим усилителем, дифференц рующим элементом, нуль-детектором и логической схемой, выход которой сваэ со входом приспособления для прерыван процесса напыления триггером, связанны входом с выходом второго приемника излучения, а выходом — со вторым вход фазочувствительного фотометрического усилителя, связанным входом с его выходом компаратором, выход которого соединен со вторым входом логической схемы и кодирующим элементом, подкл ченным к дифференцкрующему элементу, а выходы обоих усилителей подключены ко входам блока сравнения.

2. Устройство по п. 1, о т л и ч а щ е е с я тем, что двигатель прерыва ля излучения выполнен с кварцевой стабилизацией.

3. Устройство по п. 1, о т л и ч а щ е е с а тем, что источник излучения размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечения плеч которого распол% жен светоделитель, а плечо, противолежащее источнику излучения, соединено с вакуумной камерой.

4. Устройство по п. 3, о т л и ч а

m е е с а тем, что соединение между первым приемником излучения и корпусо вйполнено разъемным.

Источники инфор мацки, принятые ВО внимание IzpE экспертизе

1. Акцептованная заявка ФРГ

М 1079920, кл. 01 В 11i06, 1970 (прототип) °

845804

Составитель О. Строганов

Редактор И Гохфельд Техред 3 Фанта Корректор М Деччик

Заказ 4545/l6 Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

l13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ПГ1Г1 "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев Устройство для измерения толщиныоптически тонких слоев 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх