Способ вихретоковой дефектометрии не-ферромагнитных об'ектов

 

О Il И С А Н И Е ()847176

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Ф

/ у

/ с

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 08. 10. 79 (21) 2827059/25-28 с присоелинением заявки № (23) Приоритет (53)M. Кл.

G Ol и 27/86, Государстеенный комитет но делам изобретений и открытий

Опубликовано 15. 07. 81 . Бюллетень ¹ 26 (53) УДК 620.179. .14(088.8) Дата опубликования описания25.07.81 (54) СПОСОБ IfHXPETOKOBOA ДЕн ЕКТОМЕТРИИ

:НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ОБЪЕКТОВ

Изобретение относится к неразрушающвму контролю и может быть использовано для определения параметров дефектов в неферромагнитных объектах.

Известен способ вихретоковой дефектометрии электропроводящих объектов, заключающийся в том, что в объекте контроля возбуждают вихревые токи, измеряют с помощью катуш10 ки индуктивности, вносимое ими напряжение, проводят амплитудно-фазовый анализ:вносимого напряжения

I по результатам которого определяют размеры дефекта и глубину его ,залегания (1).

Недостаток,данного способа заключается в невозможности дефектометрии произвольно ориентированных дефектов. .Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ вихретоковой дефектометрии неферромагнитных объектов, заключа2 ющийся в том, что в объекте контроля возбуждают вихревые токи, сканируют его поверхность, воспроизводят на комплексной плоскости годограф вектора магнитной индукции вихревых токов и по его параметрам судят о выявленном дефекте (2 ).

Однако и этот способ не позволяет измерять параметры произвольно ориентированных дефектов.

Цель изобретения †обеспечен возможности дефектометрии произвольно ориентированных дефектов.

Поставленная цель достигается тем, что в качестве параметров годографа выбирают отношение отклонения

ОВ годографа от середины прямой

АС, соединяющей наиболее удаленные одна от другой точки годографа к ее длине, по которому судят об угле между плоскостью .дефекта и поверхностью объекта контроля, угол d, наклона прямой АС к одной из координатных осей комплексной плоскости

847176 4 ориентацию дефектов, что повышает достоверность разбраковки.

Формула изобретения

Способ реализуется следующим образом.

В объекте контроля возбуждают вихревые токи, сканируют его поверхность и воспроизводят в комплексной плоскости годограф вектора магнитной индукции вихревых токов с помощью экрана векторметра или двухкоординатного самописца, Измеряют расстояние АС между двумя наиболее удаленными точками годографа, угол б(. наклона прямой АС к оси координат комплексной плоскости и отношение отклонения ОВ годографа от середины прямой АС к длине этой прямой, то есть ОВ/АС, Экспериментально установлено, что между измеренными величинами и параметрами дефектов существует взаимно однозначное соответствие.

По отношению OB)pC.спомощью экспериментально полученных диаграмм определяют угол между плоскостями дефекта и контролируемой поверхностью, по углу Д. — глубину залегания дефекта, а по найденному отношению ОВ/АС и длине прямой АС вЂ” величину этого дефекта.

Таким образом, предлагаемый способ вихретоковой дефектометрии неферромагнитных объектов позволяет определить размеры, глубину залегания и

Составитель И.Кесоян

Техред Н. Ковалева

Редактор Н.Воловик

Корректор Г.Решетник

Заказ 5475 69 Тираж 907

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3. и длину этой прямой, по углу < . судят о глубине залегания дефекта, а по найденному отношению ОВ/АС и длине прямой АС о величине этого дефекта °

Способ вихретоковой дефектомет5 рии, неферромагнитных объектов, заключающийся в том, что в объекте контроля возбужают вихревые токи, сканируют его поверхность, воспроиз10 водят на комплексной плоскости годограф вектора магнитной индукции вихревых токов и по его параметрам судят о выявленном дефекте, о т л ич а ю шийся тем, что, сцелью

15 обеспечения возможности дефектометрии произвольно ориентированных дефектов, в качестве параметров годографа выбирают отношение отклонения ОВ годографа от середины прямой АС, соединяющей наиболее удаленные одна от другой точки годографа к ее длине, по которому судят об угле между плоскостью дефекта и поверхностью объекта контроля, угол <; наклона прямой АС к одной из координатных осей комплексной плоскости и длину этой прямой, по углу о1 судят о глубине залегания дефекта, а по найденному отношению ОВ/AC и длине прямой

АС о величине этого дефекта °

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Ф 632946, кл. G 01 и 27/86, 1979.

2. Авторское свидетельство СССР

N"- 190049, кл. (j 01 и 27/86, 1965 (прототип).