Импульсно-вихретоковый способ толщино-метрии

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ нн848988

Союз Советских

Социалистических

Республик.Ф, Ф

Х АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, свид-ву

I (22) Заявлено 2612,78 (21) 2702090/18-28 (51)М. Кл3

G 01 В 7/Об с присоединением заявки ¹

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 2307,81. Бюллетень 89 27 (53) УДК,820.179.14 (OS8. 8) Дата опубликования описания 230781 (72) Авторы изобретения

Е.A.Ñàõàðoâ и E N Øóáèí.

1

Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматиеа", Уральский филиал (71) Заявитель (54) ИИПУЛЬСНО-ВИХРЕТОКОВЫИ СПОСОБ ТОЛЩИНОМЕТРИИ

Изобретение относится к средствам размерометрии электромагнитными методами и может быть использовано для измерения толщины тонкомерных электропроводящих листовых материалов.

Известен импульсно-вихретоковый способ неразрушающего контроля метал лов, заключающийся в том, что индуктивность резонансного контура вводят во взаимодействие с контролируемым металлическим объектом, возбуждают этот контур импульсным током и регистрируют параметры затухающего колебательного процесса. Декремент затухания при этом является мерой для анре- 15 деления профиля или размЕров контролируемого объекта (,1) .

Однако точность контроля толщины этим способом недостаточная из-за влияния на декремент затухания заза- 20 ра между индуктивностью контура и контролируемым объектом., Наиболее близким к изобретению по технической сущности является импульсно-вихретоковый способ толщинометрии, заключающийся в том., что контролируемый объект устанавливают между обмотками экранного вихретокового преобразователя, который возбуждают импульсным током и по вы ЗО

2 ходному сигналу этого преобразователя определяют толщину объекта (2) .

Однако точность контроля толщины тонкомерных электропроводящих материалов этим способом недостаточная, так как измеряют только амплитуду выходного сигнала, которая нестабильная при изменении структуры контра- ° лируемого материала, например проката.

Цель изобретения — повышение точности контроля тонкомерных листовых электропроводящих материалов..

Эта цель достигается тем, что иэ выходного сигнала преобразователя выделяют гармонические составляющие и измеряют их затухание, которое используют в качестве меры толщины материала.

На чертеже представлено устройство, реализующее предлагаемый способ.

Устройство содержит генератор 1, импульсных сигналов, соединенный с его выходом буферный усилитель 2, нагруженный на возбуждающую обмотку

3 экранного преобразователя 4, изме-. рительная обмотка 5 которого включена на вход амплитудного дискримина тора б, соединенного с каскадом 7 сравнения сигналов, другой вход ко848988

Формула изобретения

СоставительА.Духанин

Техред С.Мигуйова Корректор В.Вутяга

Редактор О.Черниченко

Заказ 6075/52 Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 торого соединен непосредственно с выходом генератора 1.

Способ осуществляется следующим образом.

Между обмотками экранного вихретокового преобразователя 4 устанавливают контролируемый объект 8, подают на обмотку 3 через усилитель 2 импульсный ток от генератора 1, выходной сигнал с обмотки 5 поступает через амплитудный дискриминатор 6 на ; каскад сравнения 7, одновременно на этот каскад поступает сигнал генера 1.

Таким образом, после дискриминатора 6 иэ сигнала преобразователя 4 как бы выделяют его гармонические составляющие, состав которых определяется порогом дискриминации, формой сигнала генератора 1 и толщиной контролируемого объекта 8. Последняя связана с затуханием указанных гармонических составляющих, которое измеряют путем сравнения сигнала с дискриминатора 6 с сигналом непосредственно с выхода генератора .l.

Результат этого сравнения в виде сигнапа с выхода 9 каскада 7 служит мерой толщины контролируемого объекта 8 °

Импульсно-вихретоковый способ тол щинометрии, заключающийся в том, что контролируемый объект устанавливают между обмотками экранного вихретокового преобразователя, который возбуждают импульсным током, и по выходному сигналу этого преобразователя определяют толщину объекта, о т л и ч à ю шийся тем, что, с целью повышения точности контроля тонкомерных листовых электропроводящих материалов, из выходного сигнала

1$ преобразователя выделяют гармонические составляющие и измеряют их затухание, которое используют в качестве меры толщины материала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Дубицкий Л.Г. Радиотехнические методы контроля изделий. Машгиз, М., 1963, с. 171-195.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 662856, кл. G Ol В 7/06, 1976 (прототип).

Импульсно-вихретоковый способ толщино-метрии Импульсно-вихретоковый способ толщино-метрии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх