Способ магнитографического контроля ферромагнитных материалов

 

Оп ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социаннстичесннх

Республнк

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. сеид-ву— (22) Заявлено 170779 (21) 2799092/25-28 (51) AA

3 с присоединением заявки ¹

6 01 и 27/85

Государствеииый комитет

СССР ио делам изобретеиий и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 301081 Бюллетень Мо 40

Дата опубликования описания 301081 (53) УДК 820.179..14 08 (08&.8) 1

А.М.Шарова, В.A.Новиков и В.П.Куликов (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Могилевский машиностроительный институт (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ

ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использо- вано при контроле качества изделий иэ ферромагнитных материалов. 5

Наиболее близким к предлагаемому является способ магнитографического контроля ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что на поверхность контролируемого материала укладывают ферромагнитную ленту, осуществляют намагничивание материала постоян.ным магнитным полем и о качестве судят по полученной магнитограмме $1 ).

Недостатком известного способа является невозможность использования при контроле наличия полного расслоения металла, так как полное расслоение не создает магнитных возмущений, способных изменить контраст записи ьа магнитной ленте.

Цель изобретения — обеспечение . контроля расслоений ферромагнитных материалов, Поставленная цель достигается тем, что с противоположной стороны контролируемого материала создают поле рассеяния, а считанный с ленты сигнал сравнивают с сигналом, снятым с эталонного образца аналогичным образом.

На фиг.1 изображено намагничиваемое известным способом контроля изделие при наличии расслоений; на фиг.2 то же, предлагаемым способом, на фиг.3 — то же, при контроле эталонного образца предлагаемым способом.

При известном способе контроля (фиг.1) магнитосило.".ые линии 1 замыкаются между полюсами 2 магнита и не выходят на поверхность контролируемого иэделия 3 в виде полей рассеяния. При предлагаемом способе контроля (фиг.2) поля рассеяния 4.обусловлены искусственным дефектом, выполненным в дополнительной пластине 5.

Причем при отсутствии расслоений это поле рассеяния 6 (фиг.3) больше, чем при наличии расслоений. Сравнивая магнитограммы, полученные в обоих случаях, по уменьшению сигнала судят о наличии и величине расслоений.

Пример. Предлагаемым способом контролируют образцы иэ стали 09Г2С толщиной 5 мм на наличие расслоений, Образцы набирают из 2, 3, 4, 5 пластин различной толщины, содержащих одну, две, три или четыре плоскости разъема, имитирующие полное расслоение. С обратной стороны образца укладывают вспомогательную пластину

877417

1. Авторское свидетельство СССР

Р 102537, кл. G 01 N 27/82, 1952.

Фиг

Фиг. 5

Составитель Е.Артамонова

Редактор Е.Дичинская Техред T.Ìàòo÷êà Корректор С.Шекмар

Подписное

Заказ 9604/67 Тираж 910

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", r.jæãîpoä, ул.Проектная,4 толщийой 6 мм из того же материала, содержащую искусственный дефект в виде канавки 80% от толщины пластины.

При наличии четырех плоскостей разъе- ма по 0,15 мм сигнал, обусловленный дефектом, уменьшается примерно на

50%,при наличии одной плоскости разъе ма - на 10-15% в зависимости от ее расположения, по сравнению с эталонным образцом беэ расслоений.

Известным способом наличие оасслое- 10 ний не обнаружено.

Применение предлагаемого способа позволяет осуществлять контроль ферромагнитных материалов на наличие расслоений.

Формула изобретения

Способ магнитографического контроля ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что на поверхность контролируемого материала уклад;знают ферромагнитную ленту, осуществляют намагничивание материала постоянным магнитным полем и о качестве судят по полученной магнитограмме, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью контроля расслоений, с противоположной стороны контролируемого материала создают поле рассеяния, а считанный с ленты сигнал сравнивают с сигналом, снятым с эталонного образца аналогичным образом.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе