Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения

 

Союз Советски к

Социалистичесиик

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()892288 (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 24.01 .79 (21) 2717034/25-28 с присоединением заявки №(5l)M. Кл.

G 01 и 27/90 (23)приоритет9кудауктекккы5 кемитет

СССР

Ао делам нзебретений и еткрытнк

Опубликовано 23.12 81- Бюллетень № 47

Дата опубликования описания 23. 12.81. (53) УДК 620.179..1 4(088. 8) (72) Автор . изобретения

Ю.М.Брон 1ти, .). i ий

Научно-исследовательский и опытно-констр институт автоматизации черной металлургии (7!) Заявитель (54) ДЕФЕКТОСКОП ПОВЕРХНОСТИ ПРОКАТА

КРУГЛОГО СЕЧЕНИЯ

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для дефектоскопии поверхности проката круглого сечения.

Известны электромагнитные дефектоскопы, содержащие одно или несколько измерительных каналов, состоящих иэ последовательно соединенных накладного вихретокового преобразователя, усилителя и амплитудного дискримина" тора, и блок сортировки, соединенный

1О своими, входами с выходами измерительных каналов 11.

Недостаток известных дефектоскопов состоит в воэможности перебраковки

15 при одновременном взаимодействии вих" ретоковых преобразователей дефектосМпа более чем с одним дефектом.

Наиболее близок к предлагаемому по технической сущности дефектоскоп поверхности .проката круглого сечения, содержащий два первичных измерительных преобразователя, установленных на расстоянии, необходимом для размещения между ними контролируемого проката, два усилителя, соединенных своими входами с соответствующими преобразователями, два амплитудных дискриминатора и блок сортировки (2).

Однако в процессе работы этого дефектоскопа возможна перебраковка при одновременном взаимодействии обоих преобразователей с дефектами.

Цель изобретения - повышение достоверности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен двумя включенными между соответствующими усилителем и амплитудным дискриминатором расширителями сигналов, сумматором, подключенным своими входами к выходам соответствующих расширителей сигналов, дополнительным амплитудным дискриминатором, включенным между выходом сумматора и первым входом блока сортировки, и двумя логическими схемами антисовпадений, подключенными своими первыми входами

892288

so формула изобретения к выходам соответствующих амплитудных дискриминаторов, вторыми входамик выходу дополнительного амплитудного дискриминатора, а своими выходамисоответственно ко второму и третьему входам блока .сортировки.

На чертеже, представлена блок-схема дефектоскопа поверхности проката круглого сечения.

Дефектоскоп содержит два первич" ных измерительных преобразователя 1 и 2, установленных на расстоянии, необходимом для размещения между ними контролируемого проката, два усилителя 3 и 4, соединенных своими входами соответственно с преобразо" вателями 1 и 2 и своими выходами через соответствующие расширители

5 и 6 сигналов с соответствующими входами сумматора 7, амплитудные дискриминаторы 8, 9 и 10, соединенные своими входами с выходами, соответственно, расширителя 5 сигна. лов, сумматора 7 и расширителя б сигналов, схемы 11 и 12 антисовпадений, подключенные своими входами, к амплитудным дискриминаторам 8, 9 и 10 соответственно, и блок 13 сортировки, подключенный своим первым входом к амплитудному дискриминатору

9, а вторым и третьим входами - к выходам схем 11 и 12 антисовпадений соответственно.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Сигналы преобразователей 1 и 2, усиленные усилителями 3 и 4, поступают на соответствующие расширители

5 и 6 сигналов. Расширители 5 и 6 сигналов при наличии сигналов от дефектов вырабатывают стробирующий импульс, длительность которого равна времени прохождения преобразователем сектора пологой зачистки дефектов. 8 пределах стробирующего импульса на выходе расширителей сигналов существует сигнал, соответствующий максимальному из обнаруженных в данном секторе дефектов.

Причем при каждом обнаруженном дефекте большей глубины стробирующий импульс возобновляется.

С выходов расширителей 5 и 6 сигналы одновременно поступают на входы сумматора 7 и амплитудных дискриминаторов 8 и 10, которые автономно оценивают глубину дефектов и выдают сигналы о них íà первые входы схем 11 и 12 антисовпаде5

36

45 ф ний. На сумматоре 7 происходит сложение величин сигналов от диаметрально расположенных дефектов, а также дефектов, расположенных в зонах действия стробирующих импульсов.

Сигнал, пропорциональный суммарному сигналу от двух максимальных дефектов, находящихся в зоне действия стробирующих импульсов, с выхода сумматора 7 подается на вход дополнительного амплитудного дискриминатора 9, в котором происходит сравнение суммарного сигнала от дефектов с величиной установки, пропорциональной максимально допустимому уменьшению поперечного размера изделия. Если суммарный сигнал от дефектов превышает допустимый, на выходе амплитудного дискриминатора 9 появляется сигнал, который поступает на вторые входы схем 11 и 12 антисовпадений и один из входов блока 13 сортировки. Наличие сигналов на вторых входах схем 11 и 12 антисовпадений запрещает прохождение .сигналов от амплитудных дискриминаторов 8 и

10 к блоку 13 сортировки, Если суммарный сигнал от дефектов меньше критичного, на выходе амплитудного дискриминатора 9 сигнала нет, и сигналы с амплитудных дискриминато" ров 8 и 10, беспрепятственно пройдя через схемы 11 и 12 антисовпадений, поступают на входы блока 13 сортировки, который маркирует обнаруженные дефекты и выдает команду на сортирующее устройство.

Использование в дефектоскопе расширителя сигналов, сумматора, схем антисовпадений и дополнительного амплитудного дискриминатора позволяет повысить точность оценки величины допустимых дефектов и установить более точные критерии разбраковки изделий на годные, подлежащие ремонту и окончательный брак. Зто позволяет повысить достоверность контроля и уменьшить процент перебраковки металла.

Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения, содержащий два первичных измерительных преобразователя, установленных на расстоянии, необходимом для размещения между ни" ми контролируемого проката, два

892288

Составитель П.Шкатов

Редактор И.Николайчук Техред T. Иаточка . Корректор И.Коста

Заказ 11240/64 Тираж 910 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

«Р

Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 усилителя, соединенных своими входами с соответствующими преобраэоватеЛями, два амплитудных дискриминатора и блок сортировки, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, он снабжен двумя включенными между соответствующими усилителем и амплитуд" ным дискриминатором расширителями сигналов, сумма тором, подключенным своими входами к выходам соответст" вующих расширителей сигналов, дополнительным амплитудным дискриминатором, включенным между выходом сумматора и первым входом блока сортировЬ ки, и двумя логическими схемами антисовпадений, подключенными своими первыми входами к выходам соответст= вующих амплитудных дискриминаторов, 5 вторыми входами - к выходу дополнительного амплитудного дискриминатора, а своими выходами " соответственно ко второму и третьему входам блока сортировки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. "Дефектоскопия", 1970, Н 2, . с.23-25.

2. "Дефектоскопия", 1969, И 4, is с..116-123 (прототип).

Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх