Устройство для измерения динамических параметров микросхем

 

Союз Советсиик

Социалистических

Республик

ОЛ ИСАНИЕ

ИЗЬВРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ iii 894619 (8l ) Дополнительное к авт. саид-ву 1"- 432431 (22) Заявлено 05. 01. 79 (21) 2709435/18-21 (5l)M. Кл. с присоедииеиием заявки лв

G 01 R 31/28 тввуаарвтиева4 квинтет

Фь.ьР ав авави взе4рфтека11 и виуытвв (23) П риоритет—

0публиковаио 30,12.81. Бвллетеиь М 48

Дата олубликоваиия описания 30.12.81 (531 УДК 621.317. .799:621.3. .049.75(088.8) (72) Авторы изобретеиия..хсгс " -" "-

И иссл@фя фтфльског

В.И.Глебова, Г.И,Лобанов н О.Ф.Павл

Пензенский филиал Всесоюзного научи технологического института приборос (7! ) Заявитель ое (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ

Изобретение относится к электр измерительной технике и может быть использовано для измерения динамичес" ких параметров микросхем, логических элементов полупроводниковых эле"

5 ментов и т.п.

По основному авт. св. Ф 432431 известно .устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее цепь последовательно соединенных микросхем, переключатели, дискриминатор напряжения, регулируемый источник опорного напряжения и элемент совпадения LI) .

Недостаток известного устройства заключается в erî ограниченных функ" циональных возможностях, так как оно ( не позволяет измерять выходное со» противление контролируемой микросхемы °

Цель изобретения — расширение функциональных воэможностей.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство, содержащее элемент совпадения, к выходу которого подключена цепь последовательно соединенных микросхем, выход которой соединен с контролируемой микросхемой и через первый переключатель-с одним из входов элемента совпадения, другой вход которого соединен с выходом второго переключателя, вход которого соединен с выходом дискриминатора, один вход которо-, го соединен с выходом контролируемой микросхемы, а другой вход — с выходом регулируемого источника опорного напряжения, введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа.

На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.

894619

Устройство содержит цепь 1 последовательно соединенных микросхем, переключатели 2 и 3, ключ 4, дискриминатор 5 напряжения, регулируемый источник 6 опорного напряжения, эта" лонный конденсатор 7 и элемент 8 сов падения.

Устройство работает следующим образом.

На вход контролируемой микросхе- 10 мы 9 поступает импульс напряжения с выхода цепи 1 последовательно сое диненных микросхем. С выхода контропируемой микросхемы 9 сигнал поступает на один нз входов дискриминатора 15

5 напряжения, на другой вход которого поступает опорное напряжение с выхода регулируемого источника 6 опорного напряжения. 11ри достижении уровня выходного сигнала контролируемой микросхемы 9 уровня заданного опорного напряжения дискриминатор 5 напряжения переключается. Таким образом, дискриминатор 5 напряжения с регулируемым источником 6 опорного напряже- zg ния предназначен для измерения времени задержки контролируемой микросхема 9.

При подаче на вход дискриминатора

5 напряжения опорного напряжения

U4 получают значения t " Uq и t> 04, а при подаче опорного напряжения 04значения t> Оа и t Ug, где t> и t время задержки контролируемой микросхема 9 при переключении из состояния

"0" в состояние "1" и из "1" в "0"

3S соответственно. Разность этих времен дает время переключения контролируемой микросхемы 9 t„ и t„ из состояния "0" в состояние "1" и из "1" в

"0" соответственно

t " U> — 11„- ф

>u„-t, î, = "„ причем t u t определяется из соотl1

45 ношений (0а = T U tl 504 ЬО1 G UQ T@ Ug где Т U и Т .U - периоды повторения

50 импульсов, вырабатываемых устройством при подаче на вход дискриминатора

5 напряжения опорного напряжения U и l4 соответственно, причем Ть соответствует замыканию переключателей

2 и 3 Тз - замыканию переключателя 3.

Цикл измерения выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 состоит из двух тактов. В первом такте производится измерение времени задержки контролируемой микросхемы 9, а втором такте к выходу контролируемой микросхемы 9 с помощью ключа 4 подключается эталонный конденсатор 7 н далее вновь производится измерение времени задержки испытуемой микросхемы 9.

По результатам измерения времени задержки контролируемой микросхемы

9 в первом (йс„) и вторым (йс) так3 тах осуществляется вычисление неличины выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 как функции 7 (сд"йс ), где Сз - емкость эталонного конденсатора 7 С вЂ” паразитная емкость, подключаемая к. выходу кон-. тролируемой микросхемы 9 в первом такте.

Использование предлагаемого уст" ройства позволяет получить более полную информацию о динамических параметрах контролируемой микросхемы.

Формула изобретения

Устройство для измерения динамических параметров микросхем по авт. св.

9 432431, отличающееся тем, что, с цепью расширения функциональных возможностей, в него введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с ныходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 432431, кл. G 01 R 31/28, 1972.

894619

Составитель С. Бычков

Редактор И.Михеева Техред M.Òåïåð Корректор M.Êîñòâ

Заказ 11482 74 Тираж 735 11одписное

ВНИКНИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ПП11 "Патент", r. ужгород, ул. Проектная, 4