Электромагнитный структуроскоп

 

ОП ИСАНИ

ИЗОБРЕТЕН И

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ

Союз Советских

Социалистических

Республик (ti) 896532 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 04.04.80 (21) 2905526/25-2 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет—

Опубликовано 07.01.82. Бюллетень X

Дата опубликования описания 07.01.8 (51) М. К .

G 01 N 27/90

Государственный комитет (53) УДК 620.179..1 (088.8) ло делан нэобретеннй и открытий

*: 4

).:е - -..:- -, В. М. Малов, А. Д. Покровский и А. И лвостов ", ",;-;- .;; 4 .,«;-,у .. *

7 д (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Московский ордена Ленина энергетический институт (54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ СТРУКТУРОСКОП

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при контроле структуры стальных изделий.

Известен электромагнитный структуроскоп, содержащий генератор, соединенные с генератором два параллельных канала измерения квадратурных составляющих (1) .

Недостатком известного структуроскопа является невысокая точность, вследствие изменения в процессе работы уровня компенсации.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является электромагнитный структуроскоп, содержащий генератор, вихретоковый преобразователь и автоматический компенсатор, выполненный в виде двух подключенных к генератору каналов формирования компенсирующего напряжения, и сумматор, входы которого подключены к выходам каналов через управляемые регуляторы амплитуды. Каналы формирования компенсирующих напряжений выполнены в виде двух усилителей с регулируемыми коэффициентами передачи, подключенных входами один непосредственно, а другой через цепь, сдвигающую фазу на 90 к генератору (2) .

Недостаток этого структуроскопа заключается в уменьшении точности вследствие изменения в процессе работы уровня компенсации из-за нестабильности элементов компенсирующей цепи и генератора.

Цель изобретения — повышение точности.

Эта цель достигается тем, что один канал выполнен из последовательно соединенных счетчика импульсов, запоминающего блока и цифро-аналогового преобразователя, выход которого через вихретоковый преобразователь подключен к выходу сумматора, другой канал выполнен в виде последовательно соединенных регистра сдвига, второго счетчика импульсов, второго запоминающего блока и второго цифро-аналогового преобразователя, а генератор выполнен импульсным.

На чертеже показана структурная схема электромагнитного структуроскопа.

Структуроскоп содержит импульсный генератор 1, подключенный к генератору автокомпенсатор, выполненный в виде двух каналов, первый из которых состоит из последовательно соединенных счетчика 2 импульсов, запоминающего блока 3 и цифро-аналогового преобразователя 4. Второй канал сос896532

Формула изобретения

Составитель И. Кесоян

Редактор О. Персиянцева Техред А. Бойкас Корректор Н. Стец

Заказ 11689/33 Тираж Зйй Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий! 13035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП -.Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4 з тоит из последовательно соединенных регистра 5 сдвига, второго счетчика 6 импульсов, второго запоминающего блока 7 и второго цифро-аналогового преобразователя 8.

Структуроскоп содержит также сумматор 9, входы которого подключены к выходам каналов через управляемые регуляторы 10 и 11 амплитуды. Вихретоковый преобразователь

12 включен между выходом первого канала и сум м ато ром 9.

Структуроскоп работает следующим образом.

Импульсы высокой частоты поступают от генератора 1 на вход счетчика 2 импульсов и через регистр 5 сдвига — на вход счетчика 6 импульсов. На выходах счетчиков

2 и 6 формируются коды адресов ячеек памяти, поступающие на запоминающие блоки

3 и 7, в которых записаны в цифровой форме значения функций синуса на протяжении периода. С выхода запоминающих блоков 3 и 7 цифровые значения функций поступают на цифро-аналоговые преобразователи 4 и

8, на выходе которых формируется напряжение, пропорциональное величине цифрового кода, поступившего с запоминающих блоков, т. е. синусоидальное напряжение. Благодаря наличию регистра 5 сдвига код на счетчике

6 формируется с задержкой, определяющей сдвиг фаз между синусоидальными напряжениями на выходах цифро-аналоговых преобразователей 4 и 8. С выходов цифро-аналоговых преобразователей синусоидальные напряжения низкой частоты, сдвинутые по фазе друг относительно друга. поступают через управляемые регуляторы 10 и 11 амплитуды на вход сумматора 9. С выхода пифро-аналогового преобразователя 4 сигна", поступает на вихретоковый преобразователь 12, выходное напряжение которого подается на вход сумматора 9. В режиме компенсации коэффициенты управляемых рег ляторов 10 и ll изменяются так, чтобы сигнал на выходе сумматора стал равным

IIX,1 О.

Структуроскоп обеспечивает высокую тонность формы и частоты компенсирующих напряжении за счет высокой точности записи значений функции синуса в запоминающих блоках 3 и 7 и стабильности задающего высокочастотного генератора импульсов. Эти преимущества особенно силно выражены при работе на низких частотах.

Применение предлагаемого электромагнитного стнуктуроскопа позволяет повысить качество контроля структурного состояния деталей в производственных условиях, например, при контроле качества термообработки.

Электромагнитный структуроскоп, содержащий генератор, вихретоковый преобразователь и автоматический компенсатор, выполненный в виде двух подключенных к ге2О нератору каналов формирования компенсирующего напряжения, и сумматор, входы которого подключены к выходам каналов через управляемые регуляторы амплитуды, отличающийся тем, что, с целью повышения

25 точности, один канал выполнен из последовательно соединенных счетчика импульсов, запоминающего блока и цифро-аналогового преобразователя, выход которого через вихретоковый преобразователь подключен к выходу сумматора, другой канал выполнен в зо виде последовательно соединенных регистра сдвига, второго счетчика импульсов, второго запоминающего блока и второго цифроаналогового преобразователя, а генератор выполнен импульсным.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 682815, кл. G 01 N 27/86, 1977.

2. Авторское свидетельство СССР № 352481, кл. G 01 N 27/86, 1968 (прототип) .

Электромагнитный структуроскоп Электромагнитный структуроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх