Прибор для определения толщины хромовых и других немагнитных покрытий, наносимых на ферромагнитные изделия

 

_#_y 9042а ссс|,)Ф " }t$ (y y Ф 34t<ФЩфф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Класс 42b, 11

С. А. Винокурский и М. В..Гутерман

ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЪ| ХРОМОВЪ|Х

И ДРУГИХ НЕМАГНИТНЫХ ПОКРЫТИЙ, НАНОСИМЫХ

НА ФЕРРОМАГНИТНЫЕ ИЗДЕЛИЯ

Заявлено 3 марта 1950 г. за М 413925 в Гостехнику СССР

Известны приборы для определения толщины хромовых и других немагнитных покрытий, наносимых на ферромагнитные изделия, выполненные в виде смонтированных на корпусе прибора: стола, предназначенного для перемещения изделия, и уппорта, несущего пружинный рычаг с укрепленным на нем постоянным магнитом. Однако такие приборы обладают низкой чувствительностью.

Описываемый прибор не имеет указанного недостатка.

Это достигается применением находящейся под воздействием пружинного рычага оптической системы, связанной с несущим магнит-пружинным рычагом, и применением микрометрического винта для подачи стола с изделием относительно пружины с укрепленным на ней магнитом.

На чертеже изображена схема прибора.

Прибор выполнен в виде смонтированных на корпусе 1 стола 2, предназначенного для перемещения исследуемого изделия 3, и суппорта 4, несущего постоянный магнит 5, укрепленный на нем с помощью пружинного рычага 6. Для повышения чувствительности прибора применена находящаяся под воздействием пружинного рычага 6 оптическая система, выполненная в виде закрепленного на качающемся рычаге 7 зеркала 8, отбрасывающего луч 9 от источника света 10 на шкалу 11 прибора. Для перемещения стола 2 с изделием 3 относительно неподвижного узла, в котором закреплены пружинный рычаг 6 с магнитом 5, применяется микрометрический винт 12.

Определение толщины покрытия производится по отклонению светового луча, отражаемого зеркалом 8, в момент отрыва магнита 5 от. из дел и я 3.

ЭЪ 90425

Комитет но делам изобретений и открытии при Совете Министров СССР

Гр 164

Редактор Р. Л. Гальцева

Информационно-издательскии отдел. Поди. к печ. 4/1П-1960 г.

Объем 0,17 и. л. Заказ 1968. Тираж 300. Цена 25 коп.

Гор. Алатырь, типография ¹ 2 Министерства культуры Чувашской АССР.

В 1" : Предмет изобретения

"Ф « ь».

1. Прибор дл „определения толщины хромовых и других немагнитных покрытий наносимых на ферромагнитные изделия, выполненный в виде1 смонтированных на корпусе прибсра: стола, предназначенного. для Перемещения изделия, и суппорта, несущего пружинный рычаг с укрепленным на нем постоянным магнитом, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности прибора, в нем применена находящаяся под воздействием пружинного рычага оптическая система, выполненная в виде закрепленного на качающемся рычаге зеркала, отбрасывающего луч от источника света на шкалу прибора.

2. Прибор по п. 1, о т л и ч аю щ и йся применением микрометрического винта для перемещения стола с изделием относительно неподвижного узла, в котором закреплены пружинный рычаг с магниьтОм. к

Прибор для определения толщины хромовых и других немагнитных покрытий, наносимых на ферромагнитные изделия Прибор для определения толщины хромовых и других немагнитных покрытий, наносимых на ферромагнитные изделия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх