Патент ссср 76963

 

Класс 42Ь, 12ва № 769G3

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

+=т т 7 () ° ъ

К. И. Таганов

5. 111ЛИО! (! 11

СПЕКТРОАНАЛ ИТИЧЕСКИ и СПОСОБ ЭКСПРЕССНОГО

ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИИ

Заявлено 21 1947 i. за № 0980 4003!О в Наролнгяй комиссариат осетровы СССР

Оиубликоваио в «Бюллетене изобретений и товарнгих знаков» ¹ 17 за 1964 т.

Известные приемы применения спектрографических методов анализа для определения голщины металлических покрытий, использующие принцип различия интенсивности спектра основного металла в за«исимости от толщины покрытия (такой прием описан в работе Пассера и Лауенстейна), не получили применения в производстве, так как фотографическая регистрация спекгра и последующая его оценка занимают продолжительное время.

Целесообразно применить для этой цели упрощенные приемы оценки толщины металлических покрытий стилоскопом, который к гому же нашел широкое распространение в нашей промышленности для сортировки металлов и сплавов.

По предлагаемому способу работа осуществляется визуальньгм ме одом на стилоскопе и в качестве основного критерия толщины покрытий на металлическом изделии служит продолжительность времени оТ

1иачала действия разряда до момента равноинтенсивности выбранных для сравнения пар линий, одна из которых принадлежит материалу покрытия (или постоянного электрода), вторая — материалу основы.

Между исследуемым изделием и электродом из чистого металла, который»е входит в состав покрытия, создают электрический разряд и визуально с помощью стилоскопа наблюдают за спектром в исследуемой области.

По секундомеру отсчитыва1от время от включения разряда до момента равной интенсивности выбранных для сравнения линий и, пользуясь заранее построенными градуировочными графиками для данного сорта покрытия, определяют толщину последнего.

Источником питания разряда служит генератор активированной

1уги переме1гного тока, при этом для тонких покрытий (до 50 як) прн¹ 76963 меняют один высокочастотный разряд; для покрытий свыше 50,н/. в генераторе выключают катушку ипдуктивности контура дуги и используют схему искрового режима.

Важнейшие преимущества предлагаемого способа:

1) Определение толщины покрытия на металлическом изделии производится с весьма малой затратой времени, которая определяется продолжительностью установления равновесного состояния в поступлении паров вещества OcHQBbI в канал разряда. Например, для никелевого покрытия толщиной 3 ик это время равно 4 сек, для 12 мк—

20 сек. В последнем случае все операции, связанные с определением толщины покрытия по трем отсчетам, занимают не более 1,5 — 2 мин.

2) Повреждение, наносимое искрой изделию, весьма незначиз ельно.

3) Одновременно с определением толщины покрытия, применяя ооычные приемы работы на стилоскопе, удается определять состав основы изделия без нарушения его целости.

4) Способ может быть успешно применен для оценки распределения толщины покрытия по поверхности изделия.

5) Выполнение всех операций по описанному способу крайне просто и не требует дополнительной аппаратуры.

Предмет изобретения

Спектроаналитический способ экспрессного определения толщины металлических покрытий при помощи спектрального аналитического прибора, например стилоскопа, отличающийся тем, что для определения толщины покрытия измеряют время, протекающее от начала воздействия электрического разряда до момента достижения равной интенсивности двух спектральных линий, одна из которых принадлежит металлу основы, вторая — металлу покрытия.

1 едактор Н. Г. Копылова Техред А. А. Кудрявицкая Корректор О. М. Пискунова

Поди. к печ. 15/IX — 64 г. Формат бум. 70Х108 /ы Объем 0,18 изд. л.

Заказ 23;)6/3 Тираж 200 Цена 5 ког..

ЦНИИГ1И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Патент ссср 76963 Патент ссср 76963 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии
Наверх