Способ измерения параметров приемно-усилительных и генераторных ламп

 

Класс 21а, 71; 9 01 ь

21 > 13/50; Н Oij

М 97050

Ф

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Д.В. СЕРГИЗ

СПОСОБ KdMEPXHHH ПАРАМЕТРОВ

ПРИСНО-УСИЛИТКЗЫЫХ И ГИ{ЕРАТОИШХ ЛАМП

Заявлено I2 апреля 1952 г. за Ф А-Тб35/Мб756 в Миииотерство промышлеваоств средств связи

СССР

Опубликовяио в "Бюллетене изобретениИ t» 2 за 7954 г.

Известные способа иэмеревия параметров приемно-усилктвльпих генератореих ламп ие позволяют производить измерения при значительной величине аиодиой иа1 рума.

В описываемом способе иэмереиия параметров приемво-уса.жтехьвик и геиератормик ламп возмоипость проведевия измереиий прм эвачвтельвой величие аводиой ва1рузки достигнута тех, Что Осущеотвдяют стабилизацию aanpsиеввя ва конце анодвой нагрузки, присоединеввом х аиоду испытуемой лампи. с помощью чувствительного элемевта, соединенного своим владом о аиодом и управляющего внутренним сопротивлевием регулирующей леюпм, вклзяевиой в аводвув цепь испытуемой лампы мекду ее аводной нагрузкой и источвиком питания. При этом подают к испытуемой лаже переменное запримемие от особого источвика пвтавия: для вэмереыия крутизны — в цепь сетки, длк изме ревия ввутреввего сопротивлевия - в аводвую цепь и для измеревии ксаффи97050

2. цкента усиления - в вводную цепь, а на оетку - переменное напряжение из цепи обратной связи, ооединенной с анодной нагрузкой, На чертеже Iaodpaaeas принципиальная электрическая схема для осуществления предлагаеиого способа.

Напряжение от источника питания, не покааанного на чертеже, подается на анод испытуемой лампы 1 череа регулирующую лампу 2 электронного стабилизатора, управляемую чувствительным алеиентои - усилительной лампой Э, вход которой присоединен к аноду испытуемой лампы. При етом опорное наItpeaeBae снимается с электродов газового стабилизатора 4 напряжения. Для установления резжма лампы служит делитель 6, анодной нагрузкой испытуемой лампы является сопротивление 6, стабилизация по переменной составляющей осуществляется перекодныи конденсатором 7.

Благодаря стабилизации анодяого напряжения испытуемой лампи ее режим не зависит от величины анодного сопротивления 6, которое может быть выбрано достаточно болыпиы. При смене испытуемых ламп, имеющих различные токи, заданный испытательный режим будет сохраняться.

При измерении крутизны, внутреннего сопротивления и коэффициента усиления лампы переменное напт>яжение от особого источника питания, не покаванного на чертеже, подают в соответствующие цепи лампы одним ив известных способов.

ПРЕЦМЕТ ЮОБРЕТИПИ

1. Способ измерения параметров, приемно-усилительных и генераторных ламп путем изиерения постоянного или ереиенного напряжения на анодной нагрузке, отличающийся тем, что, о целью обеспечения возмож ности проведения иамерения прж значительной величине етой нагрузки, осуществляют стабилизацию напряжения на конце анодной нагрузки, присоединенном к аноду испытуемой лампы, с помощью чувствительного, злемента, соединенного своим входом с анодои и управляющего внутреннии сопротивлением регулирукщей лампы между ее внодной нагрузкой и источником питания, 2. Прием осуществления способа по и. 1, отличающийся теи, . 97050 что, с целью измерения крутизны лампы, на сетку ее подают переменное напряквние от особого источника.

Э. Прием осуществления способа по и. 1, отличающийся тем, что для измерения внутреннего сопротивления лампы в ее анодную цепь подают переменное aaapsaeaie от особого источника.

4. Прием осуществления способа по и. 1, отличающийся тем, что для измерения коэффициента усиления лампы в ее анодную цепь подают переменное напрякение от оообого источника, а на ее сетку - переменное напряквние иэ цепи обратной связи, соединенной с анодной нагрузкой, Подписано R нечет> 2фЯ. Ъорняг бумаги 70х108/?б

Тирах 150 нкз. Раков М РЩ Подписное

ППИИПИ Комитета но делам иаобретеяиИ и открытиИ нри Совете Министров СССР

Производственно-полиграфическое предприятие "Патент", пр.Серова,4

Способ измерения параметров приемно-усилительных и генераторных ламп Способ измерения параметров приемно-усилительных и генераторных ламп Способ измерения параметров приемно-усилительных и генераторных ламп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах
Наверх