Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОВЕЕТЕНИЯ

К,АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()))926577

Союз Советских

Социапистических

Республик (61) plîïîëíèòåëüíîå к авт. свнд-ву (22)Заявлено 22.05.80 (21) 2930787/18-25 с присоединением заявки,%— (23) Приоритет (5l )M. Кл.

G 01 и 13/00//

G 01 и 27/26

)Ьвударетв81иый комитет

СССР ав делам изебретеиий н вткрмтий

Опубликовано 07 05 82 áþëëåòåíü М 17

Р

Дата опубликования описания 07 ° 05.82 (53) УДК 544.545 (088. 8) А.И.Сердюк, С.Н.Зайцев и P.Â.Êó÷åð,: (72) Авторы изобретения

Институт физико-органической химии и сцехимии

АН Украинской ССР (7l ) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВТОРОЙ КРИТИЧЕСКОЙ

КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ ИОНОГЕННЫХ

ПАВ

Изобретение относится к физикохимии, конкретно к методам определения физико-химических свойств поверхност но-акти вных веществ (ПАВ), и может быть использовано: для подбора гидродинамически эффективных ПАВ.

Известен метод определения ККМ по изменению способности раствора

ПАВ солюбилизировать нерастворимые в воде органические соединения (11.

Недостатками этого метода являют- ся 11зменение самой величины ККМ)1 (чаще всего в сторону уменьшения) при насыщении раствора ПАВ,органи15 ческим веществом и невысокая точность определения (ошибка 102).

Наиболее близким к предлагаемому является способ определения ККМ)1 по электропроводности раствора ПАВ l 2 3.

) К недостаткам известного способа относится снижение точности определения ККМ растворов с добавками электролитов, так как последние сильно влияют на определение электропроводност и исследуемого раствора.

Цель изобретения - повышение точности определения ККМ)1.

Указанная цель достигается тем, что в способе определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных ПАВ, основанном на измерении концентрационной зависимости физико-химического парамет. ра системы, в качестве последнего используют электрофоретическую подвижность, определяемую методом подвижной границы, а искомый параметр находят по минимуму на кривой электрофоретической подвижности в функции от концентрации;

Способ осуществляют следующим образом.

В исследуемый раствор ПАВ добавляют любой водонерастворимый краситель и на приборе Кена измеряют скорость движения окрашенной границы при пропускании через раствор постоянного

Формула изобретения

3 9265 тока. Боковая жидкость представляет собой тот же растор ПАВ, но без добавки красителя. Злектрофоретическая йодвижность и рассчитывается по

Формуле Ф

0 где С - расстояние (м), на которое перемещается окрашенная граница за время t (С), d " расстояние между электрода о ми, м;

U - напряжение постоянного тока, В.

По результатам расчета строится

15 кри ва я зав исимости зле кт рофорети чесхой подвижности от концентрации ПАВ, с минимум на кривой ККМ .

Пример 1. В U-образную трубку прибора Кена последовательно помещают растворы цетилпиридиний хлорида (ЦПХ) с концентрацией 0,01

0,22 .моль/л (рН 3, 5), добавляя краситель Судан Й (0 01 г); 0 = 200 В;

d = 0,35 м. С помощью секундомера определяют скорость движения окрашенной границы (м/с) и по формуле (1) рассчитывают значения электрофорети,ческой подвижности. Результаты измерений представлены на фиг ° 1.

ККМ ЦПХ соответствует минимуму на

30 кривой и составляет 0,18 моль/л при рН 3,5 °

Пример 2. В растворы доде@ цилсульфата натрия (ДДСК) с концент" рацией 0,01-0, 1 моль/л (рН 11, 6) добавляюткраситель Судан 1Ч 0,005 г;

0 = 110 В, d = 0,35 м. Ход определения аналогичен примеру l.

Результаты измерений представлены на фиг, 1. ККМ,„ ДДСИ при рИ составляет 0;08 моль/л, Пример 3. В растворы ЦПХ с концентрацией 0,03-0,15; 0,0050 05; 0,003"0,03 моль/л соответствен" но для добавок КС1 0,1, 0,2, 0,3 моль/л прибавляют краситель Су77 4 дан 0,01 г, 0 = 200 В; d = 0,35м.

Ход определения аналогичен примеру

Результаты измерений представлены .на фиг. 2 . KKMg ЦПХ равны О, 105, 0,030> 0,0 15 моль/л для концентрации

КС1 0,1t 0,210, 3 моль/л соответственно.

Предлагаемый способ прост, удобен в эксплуатации и не требует больших затрат времени. Причем присутствие в растворе кислот, щелочей и солей не влияет на точность ortределения ККМ .

Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных ПАВ, оснвванный на измерении концентрационной зависимости физико-химического параметра системы, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности определения, в качестве последнего используют электрофоретическую подвижность, определяемую методом подвижной границы, а искомый параметр находят по минимуму на кривой электрофоретической подвижности в функции от концентрации.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Абрамович С,й., Мингазова P À., Фукс Г.И. Измерение критической концентрации мицеллообразования поверхностно-актиBHtlx веществ в неполярHbtx жидкостях. Коллоидный журнал.

1976, т. 38, " 2, с.230-233.

2. Рябова М.С., Смирнов Н.И. Вторая критическая концентрация мицеллообразования в измерениях электропроводности растворов мыл. Журнал прикладной химии. 1976, т. 49, Р 11, с.2448-2454 (прототип) .

926577

8,0 юг i 0 4Ър

РЖ

4r1Z

008

004

Puz. 1

5а8цсоносяь элеияроаореяическои тИижности мицеялЦПлри рМ Уф(4)иЯФ.СИ пуи рИ Н, E(zj ge концеирации П4В. и о, 926577 нала

4 6 м у

tg0J

Я г.,Г

Составитель Н. Клеанина

Редактор Л.филь Техред И Надь, Корректор О.Билак.Ь>

Заказ 2976/38 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва, N-35, Раувская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул. Проектная, 4 и, о йы щгарщ:-ялжтражрмиияй лод3ижносми om

80 Койценярации gill ири дооабках ХЛОрида калия

0,1(4; О,Л (2); . 0„5 (5) мажь(л..

Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав Способ определения второй критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав 

 

Похожие патенты:
Наверх