Имитатор для настройки дефектоскопов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (п)926585

Союз Советских

Социалистических респубики (51) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 15. 09.80 (ф1) 2982691/25-28 (5l)М. Кл. с присоединением заявки М

G 01 N 27/90 фюударатааеМ иивтет

CCCP ав аеаи взебратений и втхриткв (23 ) Приоритет

Опубликовано 07.05 82 бюллетень М 17 (53) УДК 620.179. . 14(088. 8) Дата опубликования описания 07;05.82

В.Г. Вяхорев, В.С.Никульшин и A.0.0ëåéíèêîâ (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение при дефектоскопии материалов и иэделий методом вихревых токов.

Известен имитатор для настройки дефектоскопов, состоящий из элект" .ропроводного основания и искусственного дефекта в виде углубления в тело основания (1).

Этот имитатор труден в изготовлении, имеет плохую воспроизводимость и практически не позволяет имитировать подповерхностные дефекты.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является имитатор для настройки дефектоскопов, . содержащий цилиндрическое основание с искусственным дефектом и электропроводнмй экран, установленный на . основании. Экран выполнен в виде цилиндрической втулки t2>. .Имитатор, сложен при изготовлении искусственных дефектов с переменной глубиной залегания, поскольку основание необходимо изготавливать из большого числа слоев с искусственным дефектом постоянных размеров в каж5 дом слое, что снижает точность и увеличивает трудоемкостьизготовления имитатора.

Цель изобретения - повышение точности изготовления подповерхностных

3О дефектов с переменной глубиной залегания, а также упрощение технологии изготовления.

Указанная цель достигается тем, что в имитаторе для настройки дефектоскопов, содержащем цилиндрическое основание с искусственными. дефек тами и электропроводный экран, установленный на основании, экран выполнен в виде эксцентричной втулки, установленной с возможностью фиксированного поворота вокруг своей оси, а имитатор снабжен указателем угла поворота экрана относительно основания.

926585 формула изобретения

Основание может быть выполнено из непроводящего материала, а искусственный дефект - в виде твердого тела из электропроводящего и/или магнитного материала и жестко скреплен с основанием.

На фиг.1 показан имитатор, в котором основание выполнено в виде стержня и размещено внутри экрана (основание и экран выполнены иэ материала с равной электропроводностью), на фиг. 2 - имитатор, в котором основание выполнено с виде трубы из электропроводного материала, охватывающей экран на фиг. 3 — ими- 15 татор, в котором основание выполнено в виде стержня из непроводящего материала, а дефект - в виде тела из электропроводного и/или магнитного материала. 26

Имитатор содержит основание 1 с искусственным дефектом 2, электропроводящий экран 3, установленный на основании, шкалу 4 толщины экрана, указатель 5, Фиксатор 6, торцо-. 2S вые ограничительные элементы 7, прикрепленные к основанию.

Изготавливают имитатор следующим образом.

В основании 1 изготавливают искусственные дефекты 2 в виде углуб.лений требуемых размеров и формы, или в виде тела из электропроводного и/или магнитного материала. На одном основании может быть выполне3$ но несколько различных дефектов, расстояние между которыми должно быть больше эоны чувствительности электромагнитного преобразователя, <о используемого в дефектос коле. Измерительным п »ибором, например микроскопом, измеряют размеры дефектов, затеи измеряют толщину стенки экрана 3 в различных точках и градуируют шкалу 4, которую крепят к основа45 нию 1. Устанавливают основание 1 и экран 3 одно в другое и крепят их с помощью торцовых элементов 7, обеспечивая при этом вращение экрана 3 вокруг своей оси. На экране 3 по числу дефектов устанавливают указатели 5, которые по шкале 4 показывают глубину залегания дефекта. Фиксатор 6 обеспечивает жесткое крепление эк,рана 3 к основанию 1 в требуемом поло-33 жении.

С имитатором работают следующим образом.

Выполнение в имитаторе экрана в виде поворачиваемой эксцентричной втулки позволяет при вращении ее вокруг. оси изменять глубину залегания искусственного дефекта, выполненного в основании. При вращении экрана 3 по шкале 4 с помощью указателя 5 устанавливается требуемая толщина стенки экрана 3 над искусственным дефектом 2, и фиксатором 6 жестко фиксируется положение экрана 3 относительно основания 1. При настройке дефектоскопа его электромагнитный преобразователь 8 устанавливается над искусственным дефектом 2.

Предлагаемый имитатор прост в изготовлении, обладает хорошей воспроиэводимостью, позволяет имитировать дефекты с переменной глубиной залегания на наружной и внутренней flo верхности труб, прутков, листов и др.

1. Имитатор для. настройки дефектоскопов, содержащий цилиндрическое основание с искусственным дефектом и электропроводный экран, установленный на основании, о т л и ч а ющ и и с- я тем, что, с целью повышения точности изготовления подповерхностных дефектов с переменной глубиной залегания, экран выполнен в виде эксцентричной втулки, установленной с возможностью фиксированного поворота вокруг воей оси» а имитатор снабжен указателем угла поворота экрана относительно основания.

2. Имитатор по и. 1, о т л и ча юшийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления, основание выполнено иэ непроводящего материала, а искусственный дефект в виде твердого тела из электропроводного и/или магнитного материала и жестко скреплен с основанием.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 182924, кл. G 01 М 27/82, 1965 °

2, Авторское свидетельство СССР

739391» wl. G 01 ы 27/86, 197 B (прототип).

926585

Составитель А.Жигарев

Техред М. Надь . Корректор О.Билак

Редактор А.Власенко филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Заказ 2976/38 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, N-35, Раушская наб., д. 4/5

Имитатор для настройки дефектоскопов Имитатор для настройки дефектоскопов Имитатор для настройки дефектоскопов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх