Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей

 

О П И С А Н И Е (95345)

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву У 834501. (22)Заявлено 11.10.79 (21) 2827074/25-28 с присоединением заявки № 2827073/28 (23) Приоритет (51)М. Кл.

G 01 В 9/02

9Ьвудерстваиный комитет

СССР ао делам нзабретеннй н отнрытнй

Опубликовано 23. 08. 82 Бюллетень № 31 (53) УДK 531 ° 715 .1{088.8) Дата опубликования описания 25. 08. 82 (72) Авторы изобретения

Б. M. Комраков и Б.А. Шапочкин

Московское ордена Ленина и ордена Трудо ,Знамени высшее техническое училище им. (7!) Заявитель (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВОГНУТЫХ

СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для . контроля качества оптических поверх ностей.

Известен интерферометр для .контроля оптических поверхностей, содержащий осветительную систему, расположенные последовательно по ходу лучей светоделитель, объектов, апланатический мениск и регистратор интерференционной картины.

Недостатками известного интерферометра являются низкая точность контроля, обусловленная тем, что лучи света отражаются от кОнтролируемой

15 поверхности только один раз, а также сравнительно высокая трудоемкость контроля, обусловленная тем, что интерференционная картина черезвычайно чувствительна к смещениям контро- >о лируемой поверхности относительно интерферометра.

По основному авт. св. N 834501 известен интерферометр для контроля

2 вогнутых сферических поверхностей, содержащий осветительную систему,, расположенные последовательно по ходу лучей светоделитель, объектов, апланатический мениск, плоское зеркало с отверстием и регистратор ин-;, терференционной картины.

Недостатком этого интерферометра является сравнительно низкая точность контроля, обусловленная тем, что лу" чи света отражаются от контролируемой поверхности только два раза.

Цель изобретения - повышение тъчности контроля.

Укаэанная цель достигается тем, что интерферометр снабжен оптической деталью, выполненной в виде половинки концентрического мениска, первая по ходу лучей поверхность которого рросветленная, а втораязеркальная, установленной за аплана- тическим мениском так, что общий центр кривизны поверхностей концент- рического мениска совмещен с фокусом

953451

3 интерферометра, а плоская боковая поверхность половинки концентрического мениска проходит через оптическую ось интерферометра.

Кроме того, с целью контроля также гиперболических и вогнутых эллиптических поверхностей, радиус кривизны зеркальной поверхности концентрического мениска равен расстоянию между геометрическими фокусами конт- 10 ролируемой поверхности, а плоское зеркало установлено с возможностью вывода из хода лучей.

На фиг. 1 приведена принципиальная схема предлагаемого интерферометра при контроле сферической поверхности; на фиг, 2 — ход лучей при контроле гиперболической поверхности; на фиг. 3 — ход лучей при контроле эллиптической поверхности.

Интерферометр (фиг. 1) содержит лазер 1, расположенные последовательно по ходу его лучей микрообъектов

2, светоделитель 3, объектив 4, апланатический мениск 5 .со светоделитель- ным покрытием 6, оптическую деталь в виде половинки 7 концентрического мениска с зеркальным покрытием 8, плоское зеркало 9 с отверстием, установленное в фокусе интерферометра отражающим покрытием к контролируемой сферической поверхности 1О, и регистратор 11 интерференционной картины.

Центр отверстия зеркала 9 и общий

35 центр кривизны поверхностей половинки 7 концентрического мениска совмещены с фокусом интерферометра.

Плоская боковая поверхность половинки 7 концентрического мениска проходит через оптическую ось интерферометра. Центр кривизны контролируемой поверхности 10 смещается перпендикулярно оптической оси интерферомера на величину, большую или равную

1/4 диаметра отверстия плоского зер кала 9.

Интерферометр работает следующим образом.

Излучение лазера 1 проходит микрообъектив 2, светоделитель 3, объек50 тив 4 и разделяется светоделительным покрытием 6 апланатического мениска

5 на два пучка. Отраженный от светоделительного покрытия 6 пучок является эталонным, а прошедший — рабочим. Йабочий пучок проходит отверстие в плоском зеркале 9 и попадает в рабочую ветвь, где отражается последовательно от контролируемой поверхности 10, плоского зеркала 9, вновь от контролируемой поверхности

10, проходит через отверстие зеркала 9, отражается от зеркального покрытия 8 половинки 7 концентрического мениска, проходит рабочую ветвь интеферометра в обратном направлении и интерферирует с эталонным волновым фронтом на светоделительном покрытии;6 апланатического мениска 5, Получаемая интерференционная картина исследуется с помощью регистратора 11. Одновременно в поле зрения регистратора l1 возникает интерференционная картина, являющаяся результатом взаимодействия волнового фронта, отраженного от зеркального покрытия"8 половинки 7 концентрического мениска со стороны стекла, с эталонным волновым фронтом, которая позволяет судить о правильности установки половинки 7 концентрического мениска в схеме интерферометра. в процессе контроля.

При контроле гиперболических (фиг ° 2) и вогнутых эллиптических (фиг. 3) поверхностей 12 радиус кривизны зеркального покрытия 8 половинки 7 концентрического мениска равен расстоянию между геометрическими фокусами контролируемой поверхности l2, плоское зеркало 9 выводится из хода лучей, а фокус интерферометра совмещается с одним из геометрических фокусов контролируемой поверхности 12. При этом рабочий волновой фронт отражается последовательно от одной половины контролируемой поверхности 12, от зеркального покрытия 8 половинки 7 концентрического мениска в точке Г1, от другой половины контролируемой поверхности 12, затем от всего зеркального покрытия 8 половинки 7 концентрического мениска и далее проходит рабочую ветвь интерферометра в обратной последовательности.

Снабжение интерферометра оптической деталью, выполненный в виде половинки концентрического мениска, позволяет повысить точность контроля благодаря тому, что лучи света отражаются от контролируемой поверхности не два, а четыре раза, кроме того, позволяет контролировать гиперболические и вогнутые эллиптические поверхности.

Формула и зоб рет ения

95345>

1. Интерферометр для контроля вогнутых сферических. поверхностей по авт. св. N 834501, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен оптической деталью, выполненной в виде половинки концентрического мениска, первая по ходу лучей поверх- 30 ность которого просветленная, а вторая - зеркальная, установленной за апланатическим мениском так, что общий центр кривизны поверхностей концентрического мениска совмещен 15 с Фокусом интерферометра, а плоская боковая поверхность половинки концентрического мениска проходит через оптическую ось интерферометра.

2. Интерферометр по и. 1, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью контроля также гиперболических и вогнутых эллиптических поверхностей, радиус кривизны зеркальной поверхности концентрического мениска равен расстоянию между геометрическими фокусами контролируемой поверхности, а плоское зеркало установлено с возможностью вывода из хода лучей.

953451

Заказ 2 О/ 7 Тираж 1

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, Составитель О. фомин

Редактор С. Патрушева Техред С. Мигунова Корректор. О. Биг ак

Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх