Способ измерения чувствительности к отклонению электронно- лучевой трубки

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗЬЬРЕТЕН Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советсимк

Соцмалметмчвеимк

Реслублмм

H 01 J 9/42 с присоединением заявки М—

9кудврстеенньй колнтет CCCP но делом нэобретеннй н открытий (23) П риоритет

Опубликовано 28 09.82. Бюллетень №З5 (53) УДК 621.885. .832(088.8) Дата опубликования описания 29.09.82

A. С. Чайковский и В. И. Третяк (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЪНОСТИ

К ОТКЛОНЕНИЮ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЙ ТРУБКИ

Изобретение относится к радиоизмерительной технике, а именно к способу измерения параметров отклонения ЭЛТ— чувствительности к отклонению.

Известен способ измерения чувствите5 льности к отклонению электронноЛучевой трубки, заключающийся в измерениях отношения линейного отклонения электронного луча и вызывающему это отклонение напряжению, подводимому к пластинам(1

Недостатком такого способа является относительно низкая точность измерения.

Известен также способ измерения чувствительности отклонения ЭЛТ, заключающийся в отклонении электронного луча и получении HB экране ЭЛТ изображений двух линий развертки или abyx яркостных точек (благодаря поочередной подаче на сигнальные и временные пластины трубки напряжения развертки и постоянного от- 20 клоняющего напряжения), отстоящих друг от друга на определенную величину, определяемую величиной постоянного отклоняющего напряжения. С помощью линейки или.шаблона производится измерение расстояния между двумя линиями или точками и вычисление отношения расстояния межпу линиями к значению отклоняющего о постоянного напряжения f2).

Недостатками известного способа явля ются низкая точность и значительные затраты времени на измерение чувствитель» ности. Целью изобретения является повышение точности и уменьшение времени измерения.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения чувствительности к отклонению электроннолучевой трубки, заключающемуся в отклонении электронного луча, формировании на экране иэображений линий развертки и определении отношения величины отклонения электронного луча к величине отклоняющего напряжения, изображение линий развертки формируют импульсами линейной электронной: цифровой развертки, заполняющей рабочую часть экрана, величину отклонения электроййого луча определяют

S (фиг. 2в), которые дают команду нв за- поминание эаактрических коорд»»».ат микродатчиков, например U4 (фиг. 2г) по оси

Х и 0 (фиг. 2д) по оси У.

Электрические координаты датчиков о ъ осям Х и У представляют собой число ступеней (число линий растра) соответственно начала кадровой „(фиг. 26) и начала соответствующей строчн ой О (фиг. 2a) разверток.

За время одного кадра цифровой развертки запоминаются электрические координаты всех узловых точек масштабной сетки.

При определении чувствительности нв любом участке экрана ЭДТ вычисляется разность. одноименных электрических координат узловь»х точек масштабной сетки (линий растра), расположенных на границе этого участка соответственно в направлении оси Х или У, преобразуется в напряжение отклонения электронного луча путем умножения на известный постоянный масштабный коэффициент напряжения и вычисляется значение чувствительности отклонения как отношение расстояния между узловыми точками к напряжению отклонения электронного луча.Коэффициент напряжения К разьертки по Х и У определяется выражением

К =И где 0 и и — соответственно величина напряжения и число ступеней развертки, Предлагаемый способ измерения чувствительности к отклонению ЭЛТ позволяет повысить точность измерения чувст вительности отклонения, сократи ь временные затраты, обеспечить автоматизацию процесса измерения, существенно улучшить условия работы оператора. Он может найти применение на предприятияхизготоьителях ЭЛТ, а также на предприятиях, использующих ЭЛТ ь системах точных измерений параметров обьектов.

Ф орму ла.из обре тени я

Способ измерения чувствительности к отклонению электроннолучевой трубки, заключающийся ь отклонении электронного луча, формировании на экране изображений линий развертки и определении отношения величины отклонения электронного луча к величине отклоняющего напряжения, о r л и ч а ю шийся тем,что, с целью повышения точнссти и уменьшения времени измерения, изображение линий

3 МОЙЙ с помощью масштабной сетки наложенной на рабочую часть экрана, ь узлоьых точках которой размещены фотооптические микродатчики, а величины отклоняющего напряжения определяют как разность одно ° именных электрических координат узловых точек масштабной сетки на заданном размере отклонения электронного луча, умноженную на многоанодн»»й коэффициент.

На фиг. 1 показан экран ЭЛТ с нало- О женной на него масштабной сеткой, в уз ловых точках которой устаноьлены миниатюрные фотооптические микродатчики, сье точувствительной стороной обращенные к экрану ЭЛТ; на фиг. 2 - осциллограммы импульсов, поясняющие принцип работы по предлагаемому способу.

Способ осуществляется сле дующим,об« разом.

На рабочее поле экрана ЭЛТ наклады - lo ьается масштабная сетка с миниатюрными фотооптическими микродатчиками таким образом, что центр ее совмещается с центром экрана, а горизонтальная и вертикаль» ная оси масштабной сетки располагаются 2$ параллельно соответствующим осям экрана.

Расстояние между узловыми точками масштабной сетки по вертикалям и горизонталям выбирается произвольным, но строго постоянным, что обеспечивает жесткую фиксацию геометрических координат центроь датчиков как между собой, так, например, по отношению к положению микродатчика в левом нижнем. углу (фиг. 1).

Затем, например, из леього нижнего угла в плоскости экрана разьорвчивают

3$ снизу вверх и слева напраьо электронный луч в прямоугольный растр на экране трубки. Такая развертка луча получается в результате подачи на вертикально отклоняю40 щие и горизонтально отклоняющие пластицы ЭЛТ изменяющихся по линейн ому закону ступенчатых напряжений соответственно строчной Ц (фиг. 2а) и кадровой

0,2 (»»г. 2б} разверток. При этом каждое последующее прирв»цен»»е ступенчатого на4$ пряжения строчной и кадровой разверток выбирают так, что между двумя соседними узловыми точками масштабной сетки обеспечивается заданная разрешающая способность. Так, например, если при размере ячейки масштабной сетки. 10х10 мм укладывается соответственно 100 или 200 ступеней, то разрешающая способность составляет соответственно 0,1 и 0,05 мм.

В момент. пересечения электронным лу- $$ чом узловых точек, соответствуюшил»и фо-тооптическими микродатчиками, формируются импульсы отметки, например 0 5 960998 6 развертки формируют импульсами линей- го луча, умноженную на масштабный коной электронной цифровой развертки, за- эффициент. цолняющей рабочую часть экрана, величину отклонения электрскного луча опре- Источники информации, деляют с помацью масштабной сетки, на- принятые во внимание при экспертизе ложенной HR рабочую часть экрана, в уз- 1. Коганов И. Л. Промышленная элеловых точках которой размещены фотооп- ктроника. М., Госэнергоиздат, -1961, тические микродатчики, а величину откло с. 371-373. няющего напряжения определяют как раз- 2. Трубки электроннолучевые осцилность одноименных электрических «оорди-, р лографические. Методы измерения основнат узловых точек масштабной сетки на ных параметров. ГОСТ 19т48. 4-74 заданном размере отклонения электронно- (прототип).

ВНИИПИ Закаэ 7302/68 Тираж 761 Подписное

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4