Способ измерения толщины неферромагнитных изделий

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалнстичеснии

Республик

<п>962757 (6l ) Дополнительное к авт. свнд-еу (22)Заявлено 25.02.81 (21) 3253516/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.09. 02. Бюллетень № 36

Дата опубликования описания 30.09.82 (53)M. Кл.

G 01 В 7/06

3Ьеударстванньй комитет

СССР вв 39JIIIN N%6P9NIIIIA и открытий (5З) УДК 620. 179. .142. 5(088.8) j

В.Г.Брандорф и В.Л.Котляров (72) Авторы изобретения

Львовский лесотехнический институт. и Львовский ордена Ленина политехническии "йнстйтут (7l ) Заявители (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОДЦИНЫ НЕФЕРРОИАГНИТНЦХ

ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к толщинометрии и может быть использовано для измерения геометрических параметров иэделий иэ неферромагни тных материалов.

Известен способ измерения толщины неферромагнитных иэделий, заключающийся в том, что создают магнитное поле, преобразователь параметра поля перемещают перпендикулярно поIO верхности контролируемого иэделия, при достижении выходного сигнала преобразователя определенного значения измеряют расстояния от преобразователя до поверхности контролируемого

}S изделия и по результату измерения определяют толщину изделия f1).

Недостаток способа - низкая точностьь °

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ измерения толщины неферромагнитных изделий, заключающийся в том, что создают магнитное гюле излуча"

2 телем, расположенным на одной поверхности контролируемого изделия, и измеряют зто поле преобразователем-полимером, установленным на другой поверхности контролируемого иэделия(2 j.

Однако способ отличается недостаточной точностью, вызванной нелинейной зависимостью выходного сигна" ла преобразователя от измеряемой ве" личины и влиянием нестабильности интенсивности магнитного гюля на результат измерений.

Цель изобретения - повышение точности:

Поставленная цель достигается согласно способу измерения толщины неферромагнитных изделий, заключающемуся в том, что создают магнитное поле излучателем, расположенным на одной поверхности контролируемого изделия, и измеряют это поле преобразователем"полимером, установленным на другой поверхности контролируемого изделия, дополнительно иэ3 96 меряют градиент поля преобразовате- лем- градиентометром, расположенным на поверхности контролируемого изде лия в непосредственной близости от преобразователя- полемера, и измеряемую толщину определяют иэ соотношения оп„/О„г, где 0„п- выходнои сигнал преобразователя-полемера, 0я,-выходной сигнал преобразователя-градиентометра, На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего способ.

Излучатель магнитного поля, выполненный в виде линейного проводника с протека ющим по нему током, расположен на поверхности контролируемого изделия 2. На другой поверхности контролируемого изделия 2 установлены преобразователь- полемер 3 и преобразователь-градиентометр 4 маг: нитного поля, выходные сигналы которых подаются на блок 5, деления, к выходу последнего подключен индикатор 6 измеряемой величины.

Способ осуществляется следующим образом.

При возбуждении излучателя I магнитного поля на выходах преобразователей 3 и 4 появляются сигналы

dH

"rr ат

Х где Н " напряженность магнитного поля;

Тх - толщина изделия.

В общем случае Н на.Тх, где значение п определяется видом создаваемого магнитного поля, а - его интенсивность. Поэтому выполняются соотношения

2757 ф ния сигнала О„с выхода которого поступает на индикатор 6 измеряемой толщины. При этомU, 1-,т.е. сигнал пп

"пг

Х< на выходе измерительной системы линейно зависит от измеряемой толщ<ины.

Способ позволяет измерять геометрические параметры неферромагнитных изделий сложной формы при изменяющихся параметрах излучателя. формула изобретения

-(и+1)

0„п dT„ i Unr Tx

Выходные сигналы преобразователей 3 и 4 подаются на блок 5 деле15

Способ измерения толщины неферромагнитных изделий, заключающийся в том, что создают магнитное поле излучателем, расположенным на одной поверхности контролируемого изделия, и измеряют это поле преобразователемполемером, установленным на другой поверхности контролируемого изделия, о т л и чающий с я тем, что, с целью повышения точности, дополнительно измеряют градиент поля преобразователем-градиентометром, расположенным на поверхности контролируемого изделия в непосредственной близости от преобразователя-полемера, и измеряемую толщину определяют из соотношения

u,n/Опг< где Оп„- выходной сигнал преобразо33 вателя-полимера;

0п - выходной сигнал преобразова" теля-градиентометра.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

И 352114, кл. G 01 В 7/06, 1972.

2. Авторское свидетельство СССР

t<" 619783 кл. 6 01 В 7/06, 1977 (прототип) .

962757

Составитель Л.Хигарев

Редактор С.Юско Техред И.Гайду. Корректор Н.Король

Заказ 7 92/ 0 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35,;Рауаская наб., д. "/5

Филиал ППП "Патент, r. Ужгород, ул. Ироектная,

Способ измерения толщины неферромагнитных изделий Способ измерения толщины неферромагнитных изделий Способ измерения толщины неферромагнитных изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх