Магнитный способ измерения покрытий и устройство для его осуществления
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (ii) 947633 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04. 01. 81 (21 ) 3229760/25-28 с присоединением заявки ¹
Р1 М К з
G 01 В 7/10 (23) Приоритет
Государственный комитет
СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК б20.179.14 (088. 8) Опубликовано 30.0782. Бюллетень ¹ 28.Дата опубликования описания 30.07.82 (72) Авторы (54) МАГНИТНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКРЫТИИ
И УСТРОЙСТВО ЦЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения на плоских ферромагнитных изделиях на предприятиях металлургической и ме таллообрабатывающей отраслей промышленности при нанесении защитных покрытий.
Известен способ измерения толщины покрытий на деталях из ферромагнитного материала, заключающийся в том, что помещают над поверхностью контролируемого покрытия магнит и по распределению магнитного потока судят о толщине покрытия.
Устройство для реализации этого способа содержит два магнитопровода
П-образный и Н-образный, расположенные один над другим и создающие вместе с постоянными магнитами две замкнутые идентичные магнитные цепи.
При установке прибора на испытуемую деталь один из магнитных потоков частично замыкается через ферромагнитное основание детали, что фиксируется электромагнитными датчиками (1).
Недостатками известных способа и . устройства являются невозможность измерений больших толщин покрытий вследствие распределения магнитного потока на небольшую глубину, а также сложность конструкции и настройки прибора °
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является магнитный способ измерения покрытий на плоских ферромагнитных изделиях, эа ð ключающийся в том, что помещают над поверхностью контролируемого покрытия магнит и измеряют силу его притяже-. ния, зависящую от расстояния до поверхности ферромагнитного изделия, и по величине этого притяжения судят о толщине покрытия.
Магнитное устройство, реализующее способ, содержит корпус, постоянный .магнит, связанный с корпусом упругой связью (2).
Недостатком способа и устройства для его реализации является недостаточная чувствительность и точность измерений покрытий вследствие наличия значительного зазора между маг-; нитом и изделием, необходимого для свободного хода магнита.
Цель изобретения — повышение точности контроля при измерении покрытий.
947633
Цель достигается тем, что в магнитном способе измерения покрытий на плоских ферромагнитных изделиях помещают над поверхностью контролируемого покрытия магнит и измеряют силу его притяжения, по величине которой судят о толщине покрытия, магнит располагают под углом к поверх- ности покрытия и измерМот изменение угла наклона.
Магнитное устройство содержащее постоянный магнит, соединенный упругой связью с корпусом, снабжено дополнительным постоянным магнитом, соединенным упругой связью с корпусом и шарнирно связанным с основным магнитом, шкалой, прикрепленной к основному магниту, и указателем, соединенным с дополнительным лостояниым магнитом.
На чертеже показана схема устрой- 20 ства для реализации предлагаемого способа.
Устройство состоит из двух постоянных магнитов 1 и 2, двух упругих связей 3 и 4, шарнирной связи 5, кру 25 говой шкалы 6, указателя 7 и корпуса 8.
Постоянный основной магнит 1 расположен под углом Ч к поверхности иэделия, причем один его конец прикреплен к корпусу 8 шарнирной связью
5, а другой конец прикреплен к корпусу 8 упругой связью 3. К магниту 1 жестко прикреплена круговая шкала 6.
Аналогично, постоянный магнит 2 также расположен под углом к поверхности изделия, один его конец прикреплен к корпусу 8 шарнирной связью 5, а другой конец прикреплен к корпусу
8 упругой связью 4. К магниту 2 жестко прикреплен указатель 7. 40
Способ осуществляется следующим образом.
Устанавливают прибор на поверхность контролируемого покрытия. При этом постоянный магнит 1 притягивает-45 ся к ферромагнитному оснований иэделия и, поворачиваясь вокруг шарнира, деформирует упругую связь 3. Угол Ч наклона магнита 1 к поверхности уменьшается. Круговая шкала б, жестко свя-50 занная с магнитом 1, при его повороте перемещается относительно указателя 7. Величина перемещения шкалы 6 будет пропорциональна величине изменения угла Ч . Аналогично магниту 1 поворачивается вокруг шарнира 5 постоянный магнит 2, а жестко связанный с ним указатель 7 перемещается относительно круговой шкалы б °
Таким образом, перемещение шкалы б и указателя 7 происходит в противоположных направлениях, что вдвое увеличивает точность отсчета. По величине перемещения указателя 7 относительно шкалы б судят о толщине покрытия.
Предлагаемый способ и устройство для его осуществления дают возможтность значительно повысить точность измерения толстослойных покрытий на плоских ферромагнитных изделиях.
Формула изобретения
1. Магнитный способ измерения покрытий на плоских ферромагнитных иэделиях, заключающийся в том, что помещают иад поверхностью контролируемого покрытия магнит и измеряют силу его притяжения, по величине которой судят о толщине покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, магнит располагают под углом к поверхности покрытия и измеряют изменение угла ,наклона.
2. Магнитное устройство для измерения покрытий на плоских ферромагнитных изделиях, содержащее постоянный магнит, соединенный упругой связью с корпусом,.о т л и ч а ющ е е с я тем, что оно снабжено дополнительным постоянным магнитом, соединенным упругой связью с корпусом и шарнирно-связанным с основным магнитом, шкалой, прикрепленной к основному магниту, и указателем, соединенным с дополнительным постоянным магнитом.
Источники информации, прийятые во внимание при экспертизе
1 ° Заявка Японии 9 52-27538, кл. G 01 В 7/10, 1977.
2. Патент CQlA Р 3.453.984 кл. G 01 R 33/00, 1966 (прототип) .
947633
Составитель А. Бодров
Техред Л. Пекарь Корректор Г.Решетник
Редактор С. Тараненко
Тиран 614 .Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Заказ 5613/61
Филиал ППП Патент, г. Уигород, ул. Проектная, 4
