Способ определения неоднородности нагрева кристаллов дигидрофосфата калия (кдр)

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социвлистичесиик

Рес ублии

<1>968632 (61)Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 10.04 ° 81 (21) 3272940/18-25

И11 М. Кл. с присоединением заявки ¹â€”

G 01 J 5/50

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (33) УДК 536.35 (088 ° 8) (23) Приоритет—

Опубликовано 23,10.82. Бюллетень Мо 39

Дата опубликования описания 23.10.82

В. T. Фаерман, Ш.Л. Фаерман, E.Н. Волкова и В..Н. Танаева--=-(72) Авторы изобретения

Ф 1

) k 1 (71) Заявитель

Калининский государственный университет (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТИ

НА1 РЕВА КРИСТАЛЛОВ ДИГИДРОФОСФАТА

КАЛИЯ (КДР) Изобретение относится к способам определения неоднородности нагрева и: контроля постоянства температуры крйсталла дигидрофосфата калия (КДР) и может быть использовано в радиоэлектронике.

Известен способ измерения температуры среды, который реализуется с помощью термистора. Об изменении .температуры судят по изменению электрического сопротивления термистора 11).

Недостатками данного способа являются его сложность и ограниченная функциональная возможность, состоящие в том, что его применение требует токоподводов и затруднено в полупрозрачных средах.

Известен .также способ определения неоднородности нагрева кристаллов, состоящий в измерении излучения, йспускаемого нагретым телом, как с

его поверхности в области непрозрачности материала, так и внутренних слоев в области прозрачности. Зная толщину пластины, рассчитывают разность температур между центром пластины и его поверхностью 2).

Недостатком известного способа является его сложность, так как для его осуществления необходимо два оптических пирометра, работающих в различных спектральных диапазонах.

Целью изобретения является упрощение способа.

Цель достигается тем, что согласно способу определения неоднородности нагрева кристаллов дигидрофосфа«О та калия (КДР), основайному на измерении параметров лучистых потоков, через кристалл КДР пропускают лазерный луч, определяют угол двуосности по коноскопической картине и по изменению угла двуосности опре15 деляют неоднородность нагрева.

На чертеже изображена схема, осу.ществляющая предлагаемый способ.

Схема содержит лазер 1, матовую пластинку 2, кристалл КДР 3, поляризатор 4 и экран 5. Осуществление способа возможно в результате обнаружЕнного свойства кристаллов КДР— изменения аномальной двуосности кристалла -в зависимости от градиента

25 температуры.

Луч лазера 1, проходя через матовую пластинку 2, расширяется и попадает на кристалл КДР 3, который в силу своих оптимальных свойств

30 формирует на экране 5 при Положении

968632

Формула изобретения

Составитель В. Петухов

Техред Т.Маточка Корректор С. Шекмар

Редактор Г.ус

Заказ 8147/68 Тираж 887 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 пропускания света поляризатором 4 коноскопическую картину, представляющую собой совокупность изогир.

При нагревании грани cd кристалла

КДР возникает градиент температур и тотчас появляется двуосность, фиксируемая увеличением расстояния меж. ду изогирами или вершинами гипербол (изогиры на экране наблюдаются в виде гипербол ). .Количественно этот эффект измеряется углом двуосности 10

8= где d - расстояние между вершинами гипербол;", 1 — расстояние от кристалла до о экрана; и — показатель преломпения крис. талла>

1 — длина кристалла.

Процесс индикации градиента температуры малоинерпионной обратимый и составляет доли секунды. При выравнивании температуры в кристалле коноскопическая картина возвращается к первоначальному виду. 25

Например, в сегнетоэлектрическом кристалле КДР размером 1,1 ° 0,7. 1,6сМ за счет неоднородного нагрева создали градиент температуры ЫТ/ДК= 10 /см . угол двуосности .изменился от 28 до 30

1 30 .

Таким образом, по изменению угла двуосности можно судить о наличии градиента температуры в кристалле, что очень важно для контроля 35 постоянства температуры кристалла

КДР, работающего в режиме затвора или электрооптического модулятора.

Равномерно нагретый кристалл имеет небольшую величину аномальной двуосности, .но при неоднородном нагреве кристалла аномальная двуосность кристалла. резкО возрастает, что отрицательно сказывается на электрооптических свойствах кристалла. В этой .связи контроль неоднородности нагрева кристалла КДР в процессе его работы в качестве электрооптического элемента весьма важен и способствует предупреждению

его выхода из строя.

) Способ определения неоднородности нагрева кристаллов дигидрофосфата калия (КДР),.основанный на измерении параметров лучистых потоков, о т— л и ч а ю шийся тем, что, c целью упрощения способа, через кристалл КДР пропускают лазерный луч, определяют угол двуосности по коноскопической картине и по изменению угла двуосности определяют неоднородность нагрева.

Источники информации, принятые во внимание .при экспертизе

1.арутюнов В.О. Электрические измеритбльные приборы и измерения.

М., 1958, с. 546.

2. Веаttiе J R. The measurement

of the temperature of semitransparant materials. Acta iHEK0, S 8 .

1961, Sepa ra ta Р 23-UK-38 25 р.

Способ определения неоднородности нагрева кристаллов дигидрофосфата калия (кдр) Способ определения неоднородности нагрева кристаллов дигидрофосфата калия (кдр) 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области пирометрии и может быть использовано для определения коэффициентов излучательной способности и температур тел

Изобретение относится к физике плазмы, а именно к способам измерения электронной температуры плазмы, создаваемой лазерным излучением на мишенях из проводников

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам и устройствам для определения коэффициентов излучательной способности внутренних поверхностей неоднородно нагретой полости, и может быть использовано в металлургической, химической, электронной, авиационной и других отраслях промышленности
Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению, в частности к ИК термографии (или тепловидению)

Пирометр // 2437068
Изобретение относится к технике измерения физической температуры объекта по его тепловому радиоизлучению

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано в измерительной технике, автоматике и оптической электронике

Изобретение относится к технике измерений, в частности к измерению спектральных характеристик оптического излучения, например ширины спектральной линии лазерного излучения

Изобретение относится к технической физике, в частности к методам измерения временных параметров лазерных импульсов, например, в системах контроля особо точных дальномерных систем
Наверх