Способ ядерно-физического анализа сыпучих материалов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

K ABTOPCROA4Y CBHQETEJlbCTBY

Союз Советскик

Социалистическик

Республик

<и>989414 (61)Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 020781 (21) 3310501/18-25 с присоединением заявки Нов (И) М. Ка.з

6 01 М 23!223

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет— (опубликовано 150183. Бюллетень Йо 2

Дата опубликования описания 150183 (53) УДК539. 1.06 (088. 8) Е.И. Лзбель, В.A. Лрцыбашев, A.A. Волков, Н. Н.;: ЕрофееЪ

В.Г. Кузнецов, Б.Э. Пушницкий и Ю.И. Чековый

Ленинградский ордена Ленина, ордена Октябрьской РЕволюции и ордена Трудового Красного Знамени -горный институт, .имени Г.В.Плеханова и Всесоюзный научно-исследовательский ийститут методики и техники разведки (72) Авторы изобретения (71)Заявители (54 ) СПОСОБ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКОГО

AHAJMSA СЫПУЧИХ МЛТЕРИЛЛОВ

Изобретение относится к анализу. сыпучих материалов, а конкретно к способам ядерно-физического анализа вещества, и может быть использовано при анализе сыпучих неоднородных по составу материалов, например дробленых геологических проб.

Известно устройство для ядернофиэического анализа вещества, содержащее датчик, пробоподающее устройство и набор емкостей (кювет) для размещения в них анализируемого вещества 1).

Недостатком указанного устройства является малый объем кювет, вследст-, вие чего при анализе материала значительных масс для повышения точности исследований необходимо использование большого числа навесок.

Известно устройство для ядернофизического анализа сыпучего материала крупностью 20-0 мм, содержащее датчик и кюветы для размещения в них анализируемого вещества массой около 2 кг, представляющие собой прямоугольные сосуды размером 30и30 см.

Лнализируеьый материал насыпается в кювету ровным слоем, а для уменьшения влияния неоднородности материала измерение выполняется по 12 точкам, равномерно расположенным по площади кюветы. Для этого датчик последовательно устанавливается на каждую, точку и снимается отсчет.

Результаты измерений на точках в дальнейшем усредняются 2 j.

Недостатками этого устройства являются низкая производительность измерений, обусловленная необходимостью затрат времени на последовательные установки датчика на точках измерений, а также недостаточная точность вследствие ограниченного количества измерений.

Наиболее близким к предлагаемому является способ ядерно-физического анализа сыпучих материалов, заклю« чающийся в облучении исследуемого материала, находящегося на вращающей« ся кювете в виде диска с бортами, и регистрации вторичного излучения, по которому судят об анализируемом параметре Р 3).

Цель изобретения - повышение точности и производительности ядерно" физического анализа сыпучих неоднородных по составу материалов.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу ядерно-физического анализа сыпучих материалов, 989414 заключающемуся в облучении исследуемого материала, находящегося на вращающейся кювете в виде диска с Gopтами, и регистрации вторичного излучения, по которому судят об анализируемом параметре, датчик перемещают в радиальном направлении над. кюветой таким образом, что проекция последовательных положений датчика на поверхность кюветы представляет собой спираль Архимеда с шагом, равным радиальному размеру исследуемого датчиком участка поверхности материала, а угловую скорость вращения кюветы изменяют так, чтобы она была обратно пропорциональна расстоянию от датчика до центра кюветы.

На чертеже показано устройство для осуществления способа.

Устройство содержит привод вращения 1, вертикальную ось 2, кювету 3, редуктор 4 для гередачи вращения от вертикальной оси к червячному валу 5 и укрепленному на нем датчику б. При вращении червячного вала датчик передвигается с центра кюветы к ее периферии. Анализируемый материал 7 насыпается на поверхность кюветы относительно равномерно.

Кювета вращается со скоростью, обратно пропорциональной расстоянию от датчика до центра кюветы. За счет сложения вращательного движения кюветы 3 и радиального перемещения датчика 6 проекция последовательных положений датчика на поверхность кюветы представляет собой спираль Архимеда. Передаточное число редуктора

4 и шаг червячного вала 5 подбирают так, чтобы перемещение датчика за один оборот кюветы равнялось ради.альному размеру исследуемого датчи- 49 ком участка поверхности. Тогда при совершении кюветой числа оборотов, равного отношению радиуса кюветы к радиальному размеру исследуемого участка поверхности, исследуется вся поверхность расположенного в кювете материала.

Требование одинаковой экспозиции равных площадей поверхности материала выполняется, если линейная скорость перемещения датчика относительно поверхности кюветы постоянна.

Последнее достигается обратной пропорциональнcñTûá QÃëÎÂÎÈ скорости вращения кюветы от расстояния между датчиком и центром кюветы.

Использование данного способа анализа позволяет повысить точность измерений в 1,5 — 2 раза при увеличении производительности в 2 — 3 раза по сравнению с прототипом.

Формула изобретения

Сгособ ядерно-физического анализа супучих материалов, заключающийся в облучении исследуемого материала, находящегося на вращающейся кювете в виде диска с бортами, и регистрации вторичного излучения, по которому су,дят об анализируемом параметре, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и производительности анализа сыпучих неоднородных по составу материалов, датчик перемещают в радиальном направлении над кюветой таким образом, что проекция последовательных положений датчика на поверхность кюветы представляет собой спираль Архимеда с шагом, равным радиальному размеру исследуеемого датчиком участка поверхности материала, а угловую скорость враще- ния кюветы изменяют так, чтобы она была обратно пропорциональна расстоянию от датчика до цен "pcL кюветы.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Вознесенский Л.И., Волков A.A.

Применение рентгенорадиометрического метода с аппаратурой БРА-б для определения марганца в необработанных и частично обработанных пробах технологического потока. — "AI ïàðàòóðà и методы рентгеновского анализ а" .

Вып. 19, Л., "Машиностроение", 1977, с. 221-273.

2. Гамма-методы в рудной геологии.

Под ред. Очкура A.Ï., Л., "Недра", 1976, с. 333.

3. Авторское свидетельство СССР по заявке Р 3218912/18-75 кл. G 01 и 23/?23, 1980 (прототип).

989414

Составитель М. Викторов

Редактор Т. Веселова Техред A.A÷ Корректор Е. Рошко

Заказ 11114/61 Тираж 871 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4