Изобретение относится к измерительной технике, к рентгенодифракционному определению градиента деформации неоднородных по составу монокристаллических пленочных образцов
Изобретение относится к устройствам управления рентгеновским излучением и может применяться в рентгеноспектральном и рентгеноструктурном анализе, рентгеновской микроскопии и астрономии