Рентгеновский спектрометр
Союз Советских
Социалистических
Республик
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 03. 08. 79 (21) 2804336/18-25
6 01 М 23/207 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 3006,81. Бюллетень N9 24 Дата опубликования описания30. 06. 81 (53) УДК 621 386 (088.8) (72) Авторы изобретения Ф. Н. Чуховский, А. Б. Гильварг и В. Н. Глазунов (71) Заявитель С пециальное конструкторское бюро Института кристаллографии Изобретение относится к устройствам для прецизионных рентгено-дифракционных исследований структурногс совершенства монокристаллов. Известен рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновских лучей, кристалл-монохроматор, коллиматор, кристалл-анализатор и детектор Г11 . Наиболее близким к предлагаемому является рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодержателях кристалла-монохроматора с расположенным между ними коллиматором,15 один из которых установлен на гониометре, кристалл-анализатор и детектор 2) . Недостатками известных устройств являются высокие требования. к взанм- 20 ной юстировке и тонкой подъюстировке в процессе работы используемых плоских кристаллов-монохроматоров и потеря интенсивности излучения в результате коллимации. Цель изобретения — увеличение светосилы за счет изгиба кристалламонохроматора. Поставленная цель достигается тем, что в рентгеновском спектромет- 30 ре, содержащем источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодержателях кристалла -монохроматора с расположенным между ними коллиматором, один из которых установлен на гониометре, кристалл-анализатор и детектор, кристаллодержатель установленного на гониометре кристалла-монохроматора выполнен в виде рамы, торцы которой закреплены в стойках, а центральная часть соединена через винт и пружину с жестко укрепленным на гониометре кронштейном. На фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — схема кристаллодержателя; на фиг. 3 — сечение A-A на фиг.2; на фиг. 4 — кристаллодержатель, вид сбоку. В устройстве кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены так, что отраженный от кристалла-монохроматора 1 рентгеновский пучок направляют на изогнутый кристалл-монохроматор 2 и затем на поверхность кристалла-анализатора 3. Кристалл- монохроматор 2 укреплен в кристаллодержателе,выполненном в виде рамы 4, торцы ко842522 4 торой закреплены в стойках 5, а центральная часть соединена через винт 6 и пружину 7 с жестко укрепленным кронштейном 8. Кристалл-монохроматор 2 укреплен в центральной части рамы, деформация пластин которой, лежащих в одной плоско .ти с ним, определяется соотношением жесткости этих пластин и деформирующей их регулирующей пружины 7. Это дает с заданной степенью точности (0,1-0,01 ) параллельность дифрагированного вдоль поверхности кристалла-монохроматора 3 излучения. Кроме того, выбранный способ силового регулирования изгиба кристалламонохроматора 2 обеспечивает необходимую точность и стабильность работы прибора (абсолютную погрешность радиуса изгиба л R 10-20 см при R 100-150 м) . Радиус изгиба определяют по формуле «« = Lp yg (" g ) ) где Lo - расстояпнйе мнимого источника излучения (дифрагированного на первом плоском кристалле-монохроматоре«, от изогнутого кристалла-монохроматора по направлению падающего а него луча; «- и щ„ — направляющие косинусы падающего и отраженного лучей от изогнутого кристалла. При этом происходит резкое сужение угловой расходимости дифрагирующего пучка без потери его интенсивности, нормированной по отношению к интенсивности излучения, отраженного от первого плоского кристалла-монохроматора. Устройство работает следующим образом. Рентгеновский пучок падает на плоский кристалл-монохроматор 1,KQ торый устанавливается в отражающее положение с помощью механизмов пово.рота. Дифрагированный кристаллом-монохроматором 1 пучок проходит через щелевой коллиматор и отражается от изогнутого кристалла-монохроматора 2, установленного в отражающее поло-! жение с учетом указанного условия изгиба. Переход на другие значения углов дифракции и длины волн излучения осуществляется известным способом. Предлагаемое устройство позволяет повысить интенсивность дифрагированного излучения в 5-10 раз, что повышает экспрессность прецизионного анализа дефектной структуры монокристаллов. Формула изобретения Рентгеновский,спектрометр,содержащий источник рентгеновских лучей, два укрепленных в кристаллодержателях кристалла-монохроматора с ðàñЩ положенным между ними коллиматором, один из которых установлен на гониометре, кристалл-анализатор и детектор, отличающийся тем, что, с целью увеличения светосилы за счет изгиба кристалла-монохроматора, кристаллодержатель установленного на гониометре кристалла-монохроматора выполнен в виде рамы, торцы которой закреплены в стой«<ах, а центральная часть соединена через винт и пружину с жестко укрепленным на гониометре кронштейном. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Lida А., Kohra К. Separate mesurement of dynamical and kynematiса! Х-ray diff ractions from perfect and surface-demand single crista1s with à triр1е crista! 40 diffractometer. — "japan Appl. Phys". 1978, 17, 968. 2. Авторское свидетельство СССР «: 48733, кл. С 01 М 23/20, 1973 (прототип). 842522 л-л ф г. Л Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного. комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5. Заказ 5056/45 Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная,4 Составитель Т. Владимирова Редактор Т. Мермелштайн Техред Т.Маточка Корректор М. Пожо
