Патенты автора Ситникова Вера Евгеньевна (RU)
ИК СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АНИЗОМЕТРИИ ЧАСТИЦ НАПОЛНИТЕЛЯ В ОБЪЕМЕ ПОЛИМЕРНОЙ МАТРИЦЫ // 2600516
Изобретение относится к области исследования частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы с помощью ИК спектроскопии, в частности к методам экспресс-анализа анизометрии полимерных композитов методом Фурье-ИК спектроскопии. ИК спектроскопический способ определения анизометрии частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы заключается в последовательной регистрации ИК спектров пропускания образцов, состоящих из полимерной матрицы и наполнителя, причем , где nМ и nН - соответственно показатели преломления матрицы и наполнителя, при повороте образца во фронтальной и/или поперечной плоскостях. Преобразование полученных спектров в кривые распределения частиц наполнителя по размерам и идентификация их экстремумов позволяет определить анизометрию частиц наполнителя в полимерной матрице. Техническим результатом является разработка ИК спектроскопического экспресс-способа определения анизометрии частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы. 13 ил., 1 табл.
Изобретение относится к области исследования частиц с помощью ИК спектроскопии, в частности к методам экспресс-анализа полимерных композитов. В способе определения ориентации анизометричных частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы при выполнении условия |nМ-nН|>0, где nМ и nН - показатели преломления матрицы и наполнителя соответственно, производится регистрация ИК спектров пропускания при облучении композитов под разными углами источником ИК излучения. Далее, преобразованием полученных спектров в кривые распределения частиц наполнителя по размерам и идентификацией экстремумов кривых распределения частиц наполнителя по размерам определяют угол ориентации частиц в объеме полимерной матрицы. Техническим результатом является разработка ИК спектроскопического экспресс-способа определения ориентации анизометрических частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы. 2 табл., 4 ил.
