Рентгеновская камера для исследования линейно-напряженных образцов

 

.% 109695

Класс 42k, 20;, с

-- cl: . E с t: с ,.с:;

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕЕЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ6СТВУ

H. A. Игна(ьев

РЕНТГЕНОВСКАЯ КАМЕРА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ

ЛИНЕЙНО-НАПРЯЖЕННЫХ ОБРАЗЦОВ

335)яit(:fý 16 апвспя (с)1:) T. 3;i, 081188 (::.:>б .1

) (звестпыс реп тГспОВс кис кяъ(i .phi для исследования свойств тверды; тел, связанны> с и.: кристаллической стрмкт ) роН, им(. !OT ToT c) цц ствснпый недос.l3toK, по в шис свободная для лучей поверкпость испытуемого образца при любык способак мсканичсског0 воздействия

ОСТ ЯСТС5(II< .(13 FI p5(i!iCIIIIOII ил((K OcHoBHoiIx ияпряжс!(и(О приояВ 15!(oTся побочные. Кро.(е того, В зтик к;!М!. РЯ F(C.ЧЬЗЯ СОЗ:IЯТЬ . IIHC?(FfhIF МЕ: апичсскис напряя: иия В папрявЛСНИИ ПерВИЧ !ОГО .!Мс!а lip!I СВОбОдцой иоверкпос Ги исследуемого ()I)р азца.

Предметом изобретепия 5!ВГ!5!с Гсl! реитгсновскяя камера для получения рсптгс)|ограмм папряжсниык образцов, свободная от недостатков известнык камер. Устройство камеры. благодаря применению в ней бериллисвой пластинки. дает возможность определять изменения ((сжплоскост)!ык расстояний при лиие(п(ык иапряжспия. ., Иаправлспиык вдоль первичного луча или иод небольшими к нему углами.

Г)и чертеже показано устройство камеры в продольном разрезе.

Рсн f ãcf;Oâcкис Г!м (и, про);одя че-!

>iз систему т(>нки диафрагм 1 и с)СРИЛГ!ИСВУЮ ПЛЯСГИНКУ 2с ВЫПОЛ-!!СПИУ!О В ВИДЕ УСЕс!ЕНИОГО КОНУСа, ЗЯПРСССОВЯ!!Ш>ГО В ОС! >()31«IC, ), ПО;!Ядают иа испы Гусмый образец 4. () ГРЯЗИВШПСЬ ОТ ООР3311,3 И ВТОРИ (НО ! I ) n Й. (и «c P (: О е Г) и, 1,1(l е В У 10 и Г(а с т и н) У, РСНТГСНОВСКИс,!Усl И фПКСПРУ(OТc5! Ия фо (оп, Iс!1!ic 3, креп, !синоп В !

). Е яс. ест;) и!)Средстaox(! p () f l Ill 1 Ñ È !I I > Â / И ОО, I Т О В сСсс 3 а и р С П Л С-!

13 ПЯ ОС5!ОВЯНИI» Кс! .)(СРЫ Т3fwIIX(ООразом, что сс можпо поворячив ГГВ

ВОКРМГ ВСPTIIIi3 IЬНОИ Оеl(, !1РОХО.Z5( (с!СЙ Чс. p03 ИСС,(с:(уC Xf VIO:10!301>. :НО(Th )01) 3-сц-(ЯВ 3 Я:1 П (I I Ч (! С Т И I) C I I O B 3 I I! I 51 и Я .) 1 EPhI, 3 ЯК Я П !И В ЯIОПГСГOC51 ЦИ. 1! !!(.l PI! 1(cfiIf)1 па Грмбко)1, имссяся ОтВерс Гис, в когорос ввернут 13!!HI 7, в!)Здс!1с!Вуюц(ий через шарик 1О и шток

11 на виту!о пружипу 1 >., (,Явг!Сиие

lip 1жИ НЫ и! ПСЗ ци. 1!Ih с р 1с) ООСС!1С IHB3Lт прижим образца к б)сриллиеВГ>!! ПГ!с)СТИНКС.. ) СИЛИС (ЯВЛЕНИЯ На ооразсц Определяется по градуированной шкале И посредством указательной стрелки, укрепленной ия штоке.

¹ 109695

11 р е д м с T II з 0 б l3 с T C II ii EI

Отв. редактор Л. Г. Голандсний

Стандартгиз. Подп. к пен. 11/И 1958 г. Объем 0,125 п. л. Тираж 800. Цена 25 кок.

Типография Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Москва, Неглинная, 23. Зак. 518.

Рентгеновская камера для исследования линеино-напряженнык образцов, отл и ч а гощ аяся тем, что, с целгно создания механических напряжений, направлсннык вдоль первичного пучка лучей или под небольшими к нему углами, в основании камеры установлена бериллиевая пластинка в виде усеченного конуса, служащая передним упором для исследуемого образца, сдавливаемого посредством винта с пружиной, усилие давления которой на образец фиксируется указательной стрелкой на градуированной шкале.

Рентгеновская камера для исследования линейно-напряженных образцов Рентгеновская камера для исследования линейно-напряженных образцов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к горной технике и предназначено для оценки напряженно-деформированного состояния горных пород и диагностики массива

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами

Изобретение относится к области рентгенографической аппаратуры, к рентгеновским дифрактометрам и может быть использовано при определении напряжений, текстуры и фазового состава конструкции и изделий

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа

Изобретение относится к области оптических изображений, полученных из голограмм

Изобретение относится к области измерительной техники и направлено на уменьшение погрешности контроля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерений перемещения и деформации силоизмерительных элементов динамометров, а также при нормировании условий эксплуатации различных образцов металлоконструкций
Наверх