Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (i1) 1000869 (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22)Заявлено 01.04.81 (21) 3268069/18-25 с присоединением заявки,% (23) Приоритет

Опубликовано 28. 02. 83 ° Бюллетень № 8 (51)М. Кл.

G 01 М 23/223

Гвеудврстееллый камитет

СССР

h0 делам нзабретелкй и еткрытий (53) УДК 543.53 (088.8) Дата опубликования описания 28.02 .83 (72) Авторы изобретения

Г.А.Иванюкович и А,P.Íàç

I с

7 /

A": К64 но го

Нданов

Ленинградский ордена Ленина и о

Знамени государственный универс (7I ) Заявитель (54) ДАТЧИК РЯДИОИЗОТОПНОГО РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО

АНАЛИЗАТОРА

Изобретени е от носи т ся к флуоресцентному рентгенорадиометрическому анализу и может использоваться для анализа руд в естественном залегании, для анализа в потоке и т.д.

Известны датчики радиоизотопного 5 рентгенофлуоресцентного анализатора, содержащие неколлимированные точечные источник и детектор, закрепленные в корпу се- держат еле (1 3.

Известные датчики обеспечивают ре- о гистрацию флуоресцентного излучения с бол ьшой площади, Однако при анализе руд в естественном залегании на потоке и в других случаях, когда имеет место неравномер15 ное распределение анализируемого элемента по поверхности, точность анализа невысока, Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора, содержащий корпус со сходящимися е единое сечение уэкими цилиндрическими коллимационными каналами, в одном из которых установлен источник излучения, а в другом— дете ктор и злу чени я Г? 3.

В известном датчике поток флуоресцентного излучения, регистрируемый детектором, идет с небольшого участка поверхности анализируемого материала, что, с одной стороны, обеспечивает возможность устранения в значит ел ьной мере влияния нера вномерного распределения анализируемого элемента по поверхности на точность анализа, но с другой стороны, приводит к резкому уменьшению абсолютной величины детектируемого п<>тока излучения. Последнее приводит, в свою очередь, к снижению точности при задаК ном времени анализа (например при анализе в потоке задаваемого скорость движения анализируемого материала) или к необходимости увеличивать время анализа для получения достоверной статистики измерений, Кроме того, 69 лении детектор - источник, фиг, в направлении оси У„ перпендикулярной оси Х. "íà÷åíèÿ координат Х и

У нормированы на величину Н, Датчик радиоизоуопного рентгенофлуоресцентного анализатора содержит точечный изотопный источник 1 излучения, расположенный в коллимационном канале 2, точечный детектор 3 излучения, расположенный во втором коллимационном канале 4, корпус 5

5 и 5" Коллимационные каналы 2 и

4 выполнены в форме конусов, оси которых направлены в сторону исследуемого объекта.6 так, что сечение датчика плоскостью, перпендикулярной поверхности исследуемого объекта 6 и проходящей через источник 1, детектор 3 и оси коллимационных каналов

2 и 4 имеют форму параллелограмма .с основанием и высотой Н без треугольника, образованного сечением части корпуса 5".

В вершинах параллелограмма расположены источник 1 и детектор 3, а боковые стороны и верхние половины диагонали ограничивают продольное сечение в указанной плоскости коллимационных каналов 2 и 4, причем проекция источника 1 на поверхность исследуемого объекта 6 находится на расстоянии В с внешней стороны от ближайшей вершины параллелограмма, отношения

L Í:B=6:2:1.

Сечения коллимационных каналов 2 и 4 поверхностью исследуемого объекта 6 совмещены и имеют форму; эллипса.

Датчик работает следующим образом.

Источник 1 испускает излучение, которое, пройдя через коллимационный канал 2,облучает поверхность исследуемого объекта 6, рассеиваясь в нем и возбуждая рентгеновскую флуоресценцию определяемых элементов, содержащихся в материале исследуемого объекта 6. Это вторичное излучение через коллимационный канал 4 попадает в детектор 3 и регистрируется им, Защит- ный экран 5 поглощает первичное излучение, направленное в сторону от исследуемого объекта 6 или непосредственно в детектор 3, а также вторичное излучение, не попадающее в детектор 3.

Величина потока рентгеновского излу-. чения, приходящего в детектор 3 от произвольной элементарной площадки

3 10008 площадь анализируемого с помощью та-. кого датчика материала мала.

Цель изобретения - оптимизация результатов анализа по точности и эффективности регистрации.

Поставленная цель достигается тем, что в датчике радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора, содержащем корпус со сходящимися в единое сечение коллимационными каналами, в одном из которых установлен источник излучения, а в другом — детектор излучения, коллимационные каналы выполнены в виде расходящихся от источника и детектора конусов, при-,5 чем сечение коллимационных каналов корпуса датчика в плоскости, проходящей через источник, детектор и оси конусов, имеет форму параллелограмма, одна сторона которого проходит через источник и детектор, без треугольника, образованного указанной стороной параллелограмма и .прилегающими к этой стороне полудиагоналями параллелограмма, причем источ25 ник установлен в той вершине параллелограмма, проекция которой на его сторону, противоположную стороне, образованной линией источник — детектор, лежит снаружи от идущей от источника боковой стороны параллелограмма.

При этом, отношения длины соединяющей источник и детектор стороны параллелограмма (L), высоты параллело грамма (Н) и величины расстояния от 35 проекции источника до ближайшей вершины параллелограмма (В) выбраны из условия 1:Н:В=6:2:1.

На фиг. 1 схематически представлен датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора, разрез, на фиг. ? и 3 - графики изменения величины регистрируемого детектором потока рентгеновского излучения а 1 от элементарной площадки на поверхности исследуемого объекта dS с координатами (Х, У) в зависимости от положения этой площадки относительно детектора.

Изменения показаны для датчиков 50 с различным соотношением LjH. Bce результаты нормированы на величину потока dNO, приходящего в детектор с площадки с координатами (0,0) соответствующей проекции детектора 55 на поверхность исследуемого объекта. фиг. 2 иллюстрирует изменение у =

=dN/dNg вдоль оси Х,, т.е. в направ869

3/Н

1, 12 0,84

1,82

1,68

10,0

0,70

1,62

0,64 1,22 О, 81

1,86

7,0

1,58

0,60

1,92

1,32 0,79

5,0

1 54

3,06

0,50 2,56 О, 77

040 198 О 72

0,36 1,48 0,68

0,34 1, 12 0,64

3,0

1,44

2 32

2,0

1,36

1,84

1,5

1,28

1,46

1,0

1,24

038 086 060

1,20

О 5

1,14

041 О 70 057

0,2

1,08

0,66 0,56

0,42

0,1

1,12

S 1000 на поверхности исследуемого объекта

6, определя ет ся соотноше ни ем дЙ=К

1 2 2

1/мп L+p; р 1/sing где К - коэффициент, зависящий от мощности источника, свойств детектора и щ некоторых атомных констант, но не зависящий от свойств среды, ы. и с - линейный коэффициент ослаб1 ления в среде первичного и вторичного излучения $S

d u p - углы падения первичного и выхода вторичного излучения;

Ч, - содержание в среде определяемого элемента;

Ф

Т - массовый коэффициент фотопоглощения первичного излучения атомами определя емо го зле мен т а; р - плотность среды; и R расстояния от источника 1 и детектора 3 до элементарной площадки g3 на поверхности исследуемого объекта 6.

Исходя из геометрических условий измерений, можно выразить значения

R< К2, Sin k и з1п рчерез геометри-30 ческие параметры датчика L и Н и координаты (Х, У) элементарной площадки

Как видно, изменение 3 определяет-, ся соотношением геометрических параметров датчика L и Н и соотношением,и;/ р. . На фи г. 2 и 3 представлены кривые у«Г(Х) и у«f(У), рассчитанные для случая и.;/+>9 1, типично-,. го для анализа руд в условиях естегтвенного залегания. Кривые 7-12 (фиг, 2) соответствуют значениям L/H

О1; 10; 20; 3; 05; О; 100.

При малых L/Í зависимости имеют максимум в области X=(0,4-0,6) Н, при больших L/Í появляется второй максимум, расположенный в областй источника. Графики «т (У), показанные на фиг. 3, симметричны относительно начала координат, Кривые 13-16 соответствуют L/Н 0,1; 1,05; О и 10,0.

Существенно, что зависимости у=5(У) при различных L/Í близки.

Задаваясь максимально допустимымиизменениями, можно определить границы зоны, в которой )")0,5упц х, т.е. изменения уне превышают +253.

В дальнейшем эту зону будем называть зоной равномерной чувствительности.

Значения координат XgjH Ypg, а также

1 ширины зоны д Х и 4У сведены в таблиЦЫ

7 1000869

Если вторичное излучение попадает в детектор 3 только с участка поверхности исследуемого объекта 6, совпадающего с зоной равномерной чувствительности, то величины потока слабо зависят от распределения анализируемого элемента в пределах этого участка и определяют только его содержанием. Датчик, обеспечивающий таwe условия измерений при максималь- 0 ных размерах зоны равномерной чувствительности, позволяет получить наибольшую точность анализа. Из таблицы видно, что ширина зоны по оси Х максимальна при соотношении L/Н Ф3, 15 а указанные условия измерений достигаются, если корпус 5, 5" и 5" с коллимационными каналами 2 и 4 выполнен описанным образом.

Из таблицы следует, что при увели- 2о чении L/Í величина аХ убывает, координаты точки Хо уменьшаются, а точ-! ки - Х увеличиваются. При этом сеI чение принимает вид трапеции с меньшим нижним основанием. При уменьше- 25 нии L/Í величина d X также уменьшается, а сечение преобразуется в трапецию с меньшим верхним основанием.

Из таблицы следует также, что границы зоны равномерной чувствительности по оси У симметричны относительно проекции линии детектор — источник, а ширина зоны меняется незначительно и равна (1,1-1,7) Н, причем этот диапазон изменения ЬУ.соответствует изменению L/Н в 100 раз. Поэтому форма коллимационных каналов 2 и 3, ограничивающая размеры "просматриваемойн детектором площади по оси У, менее существенна.

Однако целесообразно коллимационные каналы 2 и 4 выполнять в форме таких конусов, совмещенные сечения которых поверхностью исследуемого объекта 6 имеют форму эллипсов, малые полуоси которых равны расстоянию что обеспечивает максимальные размеры зоны равномерной чувствительности по оси У если выполнены условия,„ рассмотренные выше.

На фиг. 2 и 3 приведены кривые 8 и 14, которые относятся к датчику одной из известных конструкций > для кот оро го L/Í бли з ко к 1, а колли мационные каналы направлены так, что вторичное излучение попадает в детек- тор с площадки на поверхности исследуемого объекта, не совпадающей с зоной равномерной чувствительности, Кривая 10 (фиг. 2 ) относится к предлагаемому датчику. Как видно, площадь зоны равномерной чувствительности для предла гаемо го дат чи ка примерно в 4 раза больше, чем для известного. Во столько же раз больше оказывается и величина потока рент гено вс ко го излучения, ре ги стри руемого детектором, что повышает статистическую точность анализа вдвое.

Кроме того, за счет выбора направлений и формы коллимационных каналов в предлагаемом датчике существенно увеличивается вклад в регистрируемое излучение от участков поверхности исследуемого объекта, дающих наибольший поток.

Использование изобретения обеспечивает повышение точности анализа и эффективности регистрации в различных условиях работы, Формула изобретения

1, Дат чи к радиои зотопного рент генофлуоресцентного анализатора, содержащий корпус со сходящимися в единое сечение коллимационными каналами в одном из которых, установлен источник излучения, а в другом — детектор излучения, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью оптимизации результатов анализа по точности и эффективности регистрации, коллимационные каналы выполнены в виде расходящихся от источника и детектора конусов, причем сечение коллимационных каналов корпуса датчика в плоскости, проходящей через источник, детектор и оси конусов, имеет форму параллелограмма, одна сторона которого проходит через источник и детектор, без треугольника, образованного указанной стороной параллелограмма и прилегающими к этой стороне полудиагоналями параллелограмма, причем источник у стано вле н в той верши не параллелограмма, проекция которой на его сторону, противоположную стороне, образованной линией источник - детектор, лежит снаружи от идущей от источника боковой стороны параллелограмма.

2. Датчик по и, 1, о т л и ч а— ю шийся тем, что отношения длины соединяющей источник и детектор стороны параллелограмма (L), высота параллелограмма (Н) и величины расстояИсточни ки информации, принятые во внимание при экспертизе

Об

9 1000869 10 ния от проекции источника до ближай 1. Плотников P.È. и Пшеничный Г.A. шей вершины параллелограмма (В) вы- флуоресцентный рентгенорадиометрибраны из условия L:Í:8=6:2:1. ческий анализ. И., Атомиздат, 1973, с, 122.

2. Патент США Н 3944822, кл. 250-272, опублик. 1976 (прототип) .

1000 869

Составитель К., Кононов

Редактор А. Мотыль Техред Ж. Кастелевич Корректор Н. Коста

Заказ 1368/44 Тираж 871 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб-., д 4/5 филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная,4

Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора Датчик радиоизотопного рентгенофлуоресцентного анализатора 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх