Способ дефектоскопии однотипных изделий

 

1. СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ОДНОТИПНЫХ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на яшдкость полем для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дна ванны, отличающийся тем, что, с целью раапирення функциональных возможностей способа, на жидкость воздействуют электрическим полем и используют жидкость с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью. 2. Способ по П.1 , о т л и ч а ю щ и и с я тем, что в качестве жидкости используют электрореологическую суспензию. §

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН, SU„„1006993

3(58 G 01 и 2790

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И AB TOPCIPOPIV СВСВТЮЪСТВТ (21) 3311170/25 — . 28 (22) 26;06.81 (46) 23;03;83. Бюл. Р 11 (72) В. А, Дятлов (53) 620.179.1(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР й"- 479956, кл, 6 01 и 5/02, 1973.

2. Авторское свидетельство СССР У 286318, кл. G 01 N 27/82, 1968 (прототип). (54) (57) 1. СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ

ОДНОТИПНЫХ ИЗДЕЛИИ, заключающийся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дйаванны,отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа, на жидкость воздействуют электрическим полем и используют жидкость с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью.

2. Способ по п.1, о т л и ч а юшийся тем, что в качестве жидкости используют электрореологическую суспензвю.

Составитель А, Жигарев

Техред О.Неце

Корректор М. Демчик Редактор О. Поповка

Заказ 2129(67 Тираж &71

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное. Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4

1 10

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии и сортировки однотипных иэделий с дефектами в виде пустот или инородных включений.

Известен способ дефектоскопии, заключающийся в том, что в композиционную среду помещают контролируемое изделие и по величине его погружения определяют наличие дефектов (1) .

Недостатком способа является низкая достоверность контроля вследствие сложности подбора композиционной среды с плот-. ностью, равной плотности контролируемого изделия.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ дефектоскопии однотипных изделий, заключающийся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дна ванны. В данном способе на жидкость воздействуют магнитным полем и используют жидкость с изменяющейся в магнитном поле кажущейся плотностью (2)., Недостатком известного способа является невозможность контроля ферромагнитных изделий.

Цель .изобретения — расширение функцио- „ нальных возможностей способа.

Цель достигается тем, что согласно способу ! дефектоскопии однотипных изделий; заключающемуся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем

06993 2 для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дна ванны, на жидкость воздействуют электрическим полем и используют жидкость с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью.

В качестве жидкости может быть исполь ц зована электрореологическая суспензия.

Способ реализуется следующим образом.

В ванну, заполненную жидкостью с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью, погружают контролируемые изделия. На жидкость воздействуют однородным электрическим полем. Изменяя величину напряженности поля, добиваются, чтобы исправные изделия заняли в жидкости безразличное положение. Иэделия, обладающие дефектами, при этом либо всплывут на поверхность жидкости,. либо опустятся на дно ванны в зависи,мости от вида дефекта. Направление силовых линий поля значения не имеет.

Электрическое поле может быть выбрано неоднородным. При этом кажущаяся плотность жидкости будет меняться неравномерно по объему ванны при изменении напряженности поля, и.йеисправные изделия расположатся на разных расстояниях от исправных изделий в зависимости от размеров дефекта.

Способ позволяет производить одновременно сортировку и дефектоскопию больших партий изделий из ферритов, легко может быть автоматизирован и не требует перейаладки.

Э, оборудования при изменении вида контроли руемых изделий.

Способ дефектоскопии однотипных изделий Способ дефектоскопии однотипных изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх