Способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов

 

СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОЛЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ОШ ЕКТОВ, заключающийся в том, что в контролируемом объекте размещают проводник и образуют электрически замкнутый контур, частью которого ;является контролируемый объект, измеряют распределение по меньшей мере одного параметра магнитного поля над внешней поверхностью контролируемого объекта и по полученной функции распределения магнитного поля определяют качество контролируемого объекта, отличающийс я тем, что, с целью повышения надежности контроля, внутри контролируемого объекта параллельно охваченному участку контура дополнительно размещают два проводника, каждый из которых последовательно соединяют с амплитудно-фазовыми регуляторами и перед получением функции распределения магнитного поля путем регулирования амплитуды или фазы токов В проводниках устанавливают ми (Л нимальный магнитный поток над внешней поверхностью контролируемого участка объекта. Oi со со

СОЮЗ COBETCHHX

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

3(50 G 01 N 27 90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

K ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPbfTMA (21) 3276234/25-28 (22) 16.04.81 (46) 23.03.83. Бюл. 9 11 (72) Л.И.Трахтенберг и П.Н.Шкатов (71) Научно-производственное объецинение . Энергия (53) 620.179.14(088.8) (56) 1. Патент CBQ, 9 3879502; кл. G 01 R 33/12 1975.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 905764, кл. G 01 N 27/90, 1978 (прототип). (54)(57) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ

ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОЛЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ

ОБЪЕКТОВ, заключающийся в том, что в контролируемом объекте размещают проводник и образуют электрически .замкнутый контур, частью которого .является контролируемый объект, из„„SU„„1006991 A меряют распределение по меньшей мере одного параметра магнитного поля, над внешней поверхностью контролируемого объекта и по полученной функции распределения магнитного поля определяют качеСтво контролируемого объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, внутри контролируемого объекта параллельно охваченному участку контура дополнительно размещают два проводника, каждый из которых последовательно соединяют с амплитудно-фазовыми регуляторами и перед Получением функции распределения магнитного поля путем регулирования амплитуды или фазы то- m ков в проводниках устанавливают минимальный магнитный поток над внешней поверхностью контролируемого участка объекта.

1006991

Изобретение относится к нераэрущающим физическим методам контроля и может быть использовано для контроля полых цилиндрических объектов.

Известен способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов, заключающийся;- в том, что измеряют с помощью измерительных преобразователей параметры магнитно- го поля вихревых токов, возникающих в стенке объекта, и по замеренной величине сигнала судят о наличии дефекта н контролируемом объекте (1).

Оснонным недостатком этого способа является низкая надежность конт-15 роля иэ-эа. непосредственного действия на измерительные преобразователи возбуждающего переменного магнитного потока, а следовательно, иэ-эа низкого отношения сигнал/помеха. 2(}

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является способ Электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов, заключающийся 25 в том, что н контролируемом объекте размещают проводник и образуют элект-! рически замкнутый контур, частью которого является контролируемый объект, измеряют распределение по меньшей мере одного параметра магнитного поля над внешней поверхностью контролируемого объекта и по полученной функции распределения магнитного поля определяют качество контролируемого объекта (2 ).

Однако и известный способ не обеспечивает необходимой надежности контроля, что связано с воздействием на измерительные преобразователи магнитного поля, обусловленно- 40 го несимметрией контролируемого объекта.

Целью изобретения является повышение надежности контроля.

Цель достигается тем, что согласно способу электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов, заключающемуся в том, что в контролируемом объекте размещают проводник и образуют электрически замкнутый контур, частью которого является контролируемый объект, измеряют распределение по меньшей мере одного параметра магнитного поля над внешней поверхностью контролируемого 5э объекта и по полученной функции распределения магнитного поля определяют качество контролируемого объекта, внутри контролируемого объекта параллельно охваченному 60 участку контура дополнительно размещают два проводника, каждый из которых последонательно соединяют с амплитудно фазовыми регуляторами и перед получением функции рас- 65 пределения магнитного поля путем регулирования амплитуды или фазы токов в проводниках устанавливают минимальный магнитный поток над внешней поверхностью контролируемого участка, объекта, На чертеже представлена блоксхема, с помощью которой осуществля-. ется способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов.

На схеме показаны контролируемый ,объект 1, в котором размещен проводник 2, объект 1 и проводник 2 образу4 ют электрически замкнутый контур (не показан), с которым сцепляют переменный магнитный поток (не показан), катушку 3 индуктивности для замера магнитного поля (параметра) над внешней поверхностью контролируемого участка объекта 1, преобразователь 4 для измерения функции распределения магнитногд поля, проводника 5 и б, которые размещены внутри контролируемого объекта 1 параллельно проводнику 2, каждый проводник 5 и б последовательно соединяют с амплитудно.-фазовым регулятором (не показан), с помощью которых регулируют величину амплитуды или фазы токов в проводниках 5 и б.

Способ контроля осуществляется следующим образом.

С помощью известных средстн соэдают переменный магнитный поток. Narнитный поток приводит к возникновению переменных токов н замкнутом контуре и проводниках 5 и б. При условии угловой симметрии н системе, образованной контролируемым объектом 1 и.пронодником 2, в идеальном случае магнитное поле над внешней поверхностью контролируемого объекта 1 отсутстнует. Однако н реальных системах.симметрия нарушается, что может быть следствием либо несимметрии контролируемого объекта 1, либо несимметричным размещением проводника

2 относительно контролируемого объекта 1. Реально над внешней поверхностью контролируемого объекта 1 существует некоторое магнитное поле, которое не связано с наличием подлежащих выявлению дефектон. Интегральную оценку этого поля определяют путем измерения ЭДС, наводимой в катушке 3 индуктивности, размещенной над внешней поверхностью контролируемого участка объекта 1. Для обеспечения симметрии системы регулируют амплитуду или фазу токов в проводниках 5 и 6 амплитудно-фазовыми. регуляторами, добиваются минимального магнитного потока через внешнюю поверхность контролируемого участка, т.е. соотнетствующей ЭДС, наводимой в катушке 3 индуктивности, при этом уро1006991

Составитель A.×åðíûõ

Редактор О.Половка Техред М.Коштура Корректор М.лароши

Заказ 2128/66 Тираж 871 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г.,ужгород,. Ул. Проектная, 4

3 вень фона, не связанный с наличием дефектов, существенно уменьшается.

После этого сканируют поверхность контролируемого участка объекта 1 измерительным преобразователем 4 и выявляют дефекты по его сигналам.

При использовании предлагаемого способа для непрерывного. контроля исключается изменение электромагнитных свойств контролируемого объекта 1, так как это обусловлено симметрией системы, образованной контролируемым объектом 1 и проводниками 2,5 и 6 с протекающими по ним токами относительно контролируемого объекта 1.

ПреиМуществом предлагаемого способа является повышение надежности контроля благодаря уменьшению уровня помех, связанный с несимметрией размещения проводника в контролируе=

10 мом объекте.

Способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов Способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов Способ электромагнитной дефектоскопии полых цилиндрических объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх