Устройство для магнитографической дефектоскопии

 

О П И С А Н И Е (<)1002948

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 09.03.81 (2l) 3257190/25-28 (51)М. Кл.

G 0l N 27/90 с присоединением заявки №

Гасударственный квмнтет (23) Приоритет вв делам нзобретеннй н втнрытий

Опубликовано 07.03.83. Бюллетень № 9

Дата опубликования описания р9. р3 83 (53) УЛК 620.179 °,14(088.8) (72) Авторы изобретения

И.Х. Хусанов и Н.M. Егорычев . 1

Всесоюзный научно-исследовате льский институт по строительству магистральных трубопроводов (7!) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИАГНИТОГРАФИЧЕСКОЙ

ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к неразрушающему контролю металлических изделий и может быть использовано для обнаружения дефектов при магнитографическом контроле стальных иэделий и их сварных соединений, Известен электронный регистратор к магнитографическому дефектоскопу, содержащий многоканальный анализатор сигналов сканирующего преобразователя 1о подключенный к выходу анализатора узел записи и связывающий их узел синхронизации (1).

Недостатками известного регистратора являются громоздкость коммутатора — синхронизатора, невозможность воспроизведения полутоновых изображений магнитных отпечатков полей дефектов. Кроме того, запись диаграммы максимальных значений сигналов вос- го произведения не позволяет определить глубину залегания дефектов и их величину вне зависимости от глубины залегания и не дает полного представления о форме исходных сигналов, что приводит к снижению информативности и достоверности результатов контроля.

Наиболее близким к изобретению является устройство для магнитографической дефектоскопии, содержащее соединенные последовательно узел поперечно-построчного считывания отпечатков полей дефектов с магнитной ленты со считывающим магниточувствительным датчиком, электронный анализатор и узел записи сигналов на электрохимическую бумагу с записывающими электродами, выполненными в виДе рычагов, установленных с возможностью маятникового качания 1 2), Однако отсутствие возможности определения глубины залегания обнаруживаемых дефектов и однозначного определения их величины вне зависимости от глубины залегания снижает достоверность и объективность получаемой информации. Так, например, дефекты большей величины, но при большей глу48

3 10029 бине их залегания относительно контролируемой. поверхности изделия, могут давать сигналы, равные по амплитуде сигналам от дефектов меньшей величины, но расположенных ближе к указанной поверхности.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено многоканаль- 1р ным частотным анализатором с числом каналов не менее трех и непрерывнопоследовательно распределенными по каналам селекции амплитудно-частотными характеристиками, входы каналов обьединены и подключены к выходу . электронного анализатора, а выход каждого из каналов соединен с одним из электродов узла записи сигналов.

При этом электронный анализатор выполнен многоканальным с числом каналов, равным числу каналов в многоканальном частотном анализаторе, каждый из каналов настроен на одну из четных гармоник сигнала, входы всех каналов обьединены и подключены к считывающему магниточувствительному датчику, а выходы — к соответствующим входам каналов многоканального частотного анализатора.

Причем считывающий магниточувствительный датчик узла поперечно-построчного считывания отпечатков полей дефектов с магнитной ленты выполнен многоэлементным с заданными рабочими зазорами между элементами, а каж- И дый элемент датчика через соответствующий канал электронного анализатора подключен к входу соответствующего канала частотного анализатора.

На фиг. 1 представлена блок-схема устройства для магнитографической дефектоскопии; на фиг. 2 - то же, в случае использования многоканального анализатора; на фиг. 3 - то же, при использовании многоэлементного датчика; на фиг. 4 - функции зависимости амплитуды и длительности сигналов от глубины залегания дефектов; на фиг. 5 - полосы пропускания каналов частотной селекции для трех участков °

Устройство содержит соединенные последовательно узел 1 поперечно построчного считывания отпечатков полей дефектов с магнитной ленты 2 со считывающим магниточувствительным датчиком 3, электронный анализатор 4, состоящий из последовательно соединенных полосового усилителя 5 и детектора 6, переключатель 7, частотный анализатор 8, состоящий из трех каналов, выполненных в виде последовательно соединенных селекторов 9-11, усилителей 12-14, с заданными амплитудно-частотными характеристиками, потенциометров 15-17, измерительных механизмов 18-20 и рычагов 21-23 с электродами 24-26, узла записи на электрохимическую бумагу 27.

Дополнительно к выходу электронного анализатора 4 подключены соединенные последовательно усилитель 28 с рычагом 29 и записывающим электродом 30 для регистрации изображения магнитного отпечатка дефекта в плане.

На электрохимической бумаге 27 изображены сигналограммы 31 и 32.

Устройство при использовании многоканального электронного анализатора содержит соединенные последовательно узел 33 поперечно построчного считывания отпечатков полей дефектов со считывающим магниточувствительHbIM датчиком 34, многоканальный электронный анализатор 35, состоящий из трех каналов, каждый из которых выл полнен в виде соединенных последовательно полосовых усилителей 36-38, настроенных на разные четные гармоники, и детекторов 39-41.

Выходы многоканального электронного анализатора через переключатель 42 подключены к многоканальному частотному анализатору 43 и к узлу 44 записи сигналов на электрохимическ о бумагу, выполненному аналогично фиг.1 и содержащему,три потенциометра 4547, усилители 48-50, электроды 51-53 с рычагами и усилитель 54 для регистрации изображения магнитного отпечатка дефекта в плане.

При использовании в .устройстве многоэлементного датчика 55 каждый элемент датчика 55 подключен к соответствующему входу полосовых усилителей 56-58 электронного анализатора 59 и соответственно через детекторы 60-62 к переключателю 63.

Работа устройства основана на том, что с увеличением глубины залегания дефекта амплитуда сигнала от него экспоненциально снижается, а длительность сигнала монотонно возрастает (фиг. 4), где Ф вЂ” глубина залегания дефектов;

A - амплитуда сигнала; T - длительность сигнала;

5 10029

1,1 щ - зоны по толщине контролируемого изделия;

ОД4,2- кривые. зависимости амплитуды сигнала от глубины залегания дефекта, расположенные в порядке возрастания вели чины { диаметра ) дефекта;

1 д,Д Я, g- кривые зависимости длительности сигнала от глубины залегания дефектов. 1О

С увеличением размера дефекта кривые (фиг. 4 ) зависимости параметров сягналов от глубины залегания дефектов располагаются близко одна над другой, причем характер этих зависи- З мостей остается практически неизменным.

Частотный анализ заключается в том, что весь диапазон длительностей сигналов от дефектов, залегающих на раз- 20 личной глубине (от минимальной до максимальной), делится на ряд поддиапазоною (по меньшей мере на три поддиапазона), для каждого из которых с помощью системы активных фильтров верхних и нижних частот, а также полосовых фильтров обеспечиваются раз-дельные каналы частотной селекции с заданными полосами пропускания (фиг.5) где - частота сигнала;

30 коэффициент усиления канала;

1 ll Т селекции для зон 1, 11, 111.

Таким образом, через каждый из каналов селекции с заданной амплитудно-частотной характеристикой могут проходить сигналы только одного.поддиапазона длительностей от тех дефектов, которые залегают в определенной зоне (1, 11, 111) толщины контролируемого изделия. Кроме того, в каждом канале частотного анализатора предусмотрена вмплитудяа коррекция сигналов, позволяющая определять величину дефектов вне зависимости от глуби45 ны их залегания.

Устройство для магнитографической дефектоскопии работает следующим образом.

Магнитную ленту 2 с записью и электрохимическую бумажную ленту 27 заправляют в лентопротяжный механизм и включают привод узла считывания (не показан). При этом рычаги, несущие на своих концах магниточувствительный датчик 3 и записывающий электрод 30 (соответственно), начинают синхронно качаться поперек протяги48 6 ваемых с одинаковой скоростью лент 2 и 27, осуществляя соответственно поперечно-построчное воспроизведение магнитограммы и запись сигналов íà со ответствующей дорожке электрохимической бумажной ленты 27, Электрические сигналы с датчика 3 поступают на вход полосового усилителя 5, с выхода которого, пройдя через детектор 6, поступают на вход усилителя 28 низкой частоты. С выхода усилителя 28 сигнал передается на записывающий электрод, предназначенный для регистрации на бумажной ленте 27 полутонового, изображения 31 магнитных отпечатков полей дефектов в плане.

Одновременно с этим, сигналы воспроизведения с выхода детектора 6, пройдя через переключатель 7, поступают на общий вход параллельных каналов селекции частотного анализатора 8. Сигнал от дефекта, пройдя через один из селекторов 9-11, полосе пропускания которого соответствует его длительность, передается на вход соответствующего усилителя- 12-14 низкой частоты, являющегося продолжением данного канала частотной селекции и имеющего заданные амплитудночастотную характеристику и коэффициент усиления, предварительно установленный с помощью потенциометров 1517 соответственно. С выхода одного из усилителей сигналы от дефекта передаются на поляризованный магнитоэлектрический механизм, на оси которого укреплен маятниковый рычаг 2123 с соответствующим данному каналу селекции записывающим электродом 24-26. Электроды 24-26 предназначены для регистрации на одной из дорожек электрохимической бумажной ленты 27 диаграммы максимальных значений сигналов от дефекта, залегающего в верхней, в средней или в нижней части толщины контролируемого изде,лия. Высота диаграммы отградуирована по величине (вертикальному размеру ) дефектов.

При работе устройства для магнитографической дефектоскопии, выполненного по второму варианту, сигнал от дефекта со считывающего магниточув" ствительного датчика 34 поступает на общий вход полосовых усилителей 3638, настроенных, например, на вторую, четвертую и шестую гармоники тока возбуждения датчика 34. С выходов

1 1002 усилителей 36-38 сигнал от дефекта. через детекторы 39-41 соответственно и переключатель 42, передается одновременно на входы частотного анализатора 43 с заданными амплитудночастотными характеристиками и полосами пропускания. При этом сигнал от дефекта проходит только через тат канал частотной селекции, полосе пропускания которого соответствует его 1Q длительность.

Настройка полосовых усилителей 3638 на разные четные гармоники облегчает разделение тракта воспроизведения на каналы частотной селекции и исключает возможность попадания сигналов одного канала селекции в другой, поскольку их полосы пропускания в данном случае разнесены друг от друга со значительными частотными интер- валами. Пройдя через свой канал селекции, сигнал от дефекта, как и в первом варианте, поступает на вход соответствующего усилителя 48-50 низкой часто- ты, с выхода которого сигнал передается на один из поляризованных магнитоэлектрических механизмов, являющийся приводом для соответствующего маятникового рычага с записывающим электродом 51-53 соответственно. При этом на соответствующей дорожке электрохимической бумажной ленты осуществляется регистрация диаграммы величины дефекта, находящегося на определенной глубине. 35

Как уже упоминалось амплитуда сигнала от дефекта снижается по мере увеличения глубины его залегания. Одновременно с настройкой полосового усилителя на гармонику более высокой частоты (4-ая, 6-ая и т.д.) происходит затухание амплитуды сигнала от одного и того же дефекта. Этот эффект использован в предлагаемом варианте устройства и обеспечивает дополнитель-45 ную коррекцию амплитудно-частотной характеристики сигнала (выравнивание амплитуды сигнала от дефектов, залегающих на разной глубине).

В устройство для магнитографической дефектоскопии, выполненном по третьему варианту (фиг. 3) для считывания магнитной записи с ленты применена система датчиков 55 (микроферрозондов}, в каждом из которых выбрано разное расстояние (рабочий зазор) между парами элементов 1 полузондов с таким расчетом, что микроферрозонд

48 с минимальным расстоянием между элементами лучше реагирует на магнитные отпечатки полей дефектов, залегающих на малой глубине, микроферрозонд со средним расстоянием между элементами — на поля дефектов, залегающих в средней части толщины контролируемого изделия, и микроферрозонд с большим расстоянием между элементами (полузондами) — на поля дефектов, залегающих на значительной глубине.

В процессе считывания магнитной записи сигнал от дефекта с каждой пары элементов, т.е. с каждого микроферрозонда, поступает на вход соответствующего полосового усилителя 56-58,, с выходов которых через детекторы 6062 соответственно и через переключатель 63 сигнал от дефекта одновременно поступает на выходы каналов частотной селекции, Пройдя через один из каналов селекции, полосе пропускания которого соответствует длительность, сигнал от дефекта как и в первых двух вариантах, направляется на вход усилителя низкой частоты, с выхода которого - на поляризованный измерительный механизм соответствующего маятникового рычага с записывающим электродом (соответственно) для регистрации диаграммы величины дефекта на соответствующей дорожке электрохимической бумаги, по которой определяется глубина залегания данного дефекта.

Изобретение обеспечивает. высокую достоверность результатов контроля путем повышения полноты и надежности информации о дефекте, благодаря возможности однозначного определения его величины независимо от глубины залегания, а также определения глубины залегания дефекта.

Формула изобретения

1. Устройство для магнитографической дефектоскопии, содержащее соединенные последовательно узел поперечно-построчного считывания отпечатков полей дефектов с магнитной ленты со считывающим магнитонувствительным датчиком, электронный анализатор и узел записи сигналов на электрохимическую бумагу с записывающими электродами, выполненными в виде рычагов, установленных с возможностью маятникового качания, о т л и ч а ю48 10 считывающему магниточувствительному датчику, а выходы - к соответствующим входам каналов многоканального частотного анализатора.

3. Устройство по пп ° 1 и 2, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что считывающий магниточувствительный датчик выполнен многоэлементным с заданными рабочими зазорами между элементами, а каждый элемент датчика через соответствующий канал электронного анализато ра подключен к входу соответствующего канала частотного анализатора.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

И 688876, кл. G 01 N 27/82, 1978.

2. Авторское свидетельство СССР по заявке У 2755320/25-28, кл. G 01. и 27/90, 1979 (прототип).

9 10029 щ е е с я тем, что, с целью повешения достоверности контроля, оно снабжено многоканальным частотным анализатором с числом каналов не менее трех и непрерывно-последовательно распределенными по каналам селекции амплитудно- частотными характеристиками, входы каналов объединены и подключены к выходу электронного..анализатора, а. выход каждого из каналов соединен с ..1р одним из электродов узла записи сигналов.

2. Устройство .по и. 1, о т л и ч аю щ е е с я тем,. что электронный анализатор выполнен многоканальным с числом каналов, равным числу каналов в многоканальном частотном анализаторе, каждый из каналов настроен на одну из четных гармоник сигнала, входы всех каналов объеденены и. подключены к

1002948

1002948

l002948

Щ к. с7

1002948

Составитель 6. Глазков

Редактор Н. Бобкова Техреду А. БабинеЧ Корректор Е. Рошко

Заказ 1539/26 Тираж 871 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

) я -З ч я наб. д.4 5

Филиал ППП ППатент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии Устройство для магнитографической дефектоскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх