Устройство для дисперсного анализа частиц методом микроскопии

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИСПЕРСИОННОГО АНАЛИЗА ЧАСТИЦ МЕТОДОМ МИКРОСКОПИИ , содержащее измерительную ячейку, образованную двумя параллельно размещенньали стеклами, и расположенный между ними штуцер ввода исследуемой среды, отличающееся тем, что, с целью повышения точности анализа, оно снабжено установленным на верхнем стекле ячейки съемны магнитом и размещенными внутри ячейки покровным стек .лом и кольцом из магнитного материала , причем покровное стекло закреплено на нижнем основании кольца , а высота кольца превышает диi аметр отверстия штуцера ввода исследуемой среды. (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

3(51) G 01 N 15/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3475485/18-25 (22) 23,04,82 (46) 30.11..83. Бюл. Р 44 (72) A.Ä.Ãуткович, В.В.Шебырев, Э.П.Рыбкин и Б.Н.Груздев (53) 548.137(088.8), (56) 1. Белопольский А .О. Исследование аппаратурного оформления процесса суспензионной полимеризации винилхлорида . Автореф. дис. канд. техн. наук; М, МИХМ, 1974, с. 16.

2 ° Ueda. Т,, Takeuchi К., Kato М.

Polimer partiс1е formatio in sus—

pension polimerisation of vinil

chlori de and vini1 acetatå.—

J.Polymer Sci., V.10. 1972, Р 10, р. 2841-2852. (19) : П11 А (54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИСПЕРСИОН-

НОГО АНАЛИЗА ЧАСТИЦ МЕТОДОМ МИКРОСКОПИИ, содержащее измерительную ячейку, образованную двумя параллельно размещенными стеклами, и расположенный между ними штуцер ввода исследуемой среды, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности анализа, оно снабже- но установленным на верхнем стекле ячейки съемным магнитом и размещенными внутри ячейки покровным стек.лом и кольцом из магнитного материала, причем покровное стекло закреплено на нижнем основании кольца, а высота кольца превышает диаметр отверстия штуцера ввода исследуемой среды.

105 )81Ц

Изоб:-ет D!!H< с Г:!oc Г )«! к ф>.: и(с;-)1тт И. НИ И МОЖС . 1 бЫ с Ь ИС>!OЛЬ ЗОВ аl-:С ДJ: и Е lт а) тi:3 с=. ас— тиц (эмульсий (»)(?1 c;>»и< 1;зий), и<- >(;—

ЧаЕМЫХ ПСД Д }i!ËÅHHÅÌ, !>3((Ð?)МЕР „.

ХОД(C jCII(-.Н З ИОН:»ОЙ И<: Ji?»i1<-P?1 3 ап!» И винилхлорила (1{Х(. реек: о?эах-((оли-?лOpH" а-„. Ора>(На ранней ста,п .1 про)(ес а полимеризации В результате Г.еремешиВания B прысутстви!{ поверхHoc ноактивных веществ в системе ВХ-вода происход:T обр:iзсиа:.:и(1 .->м;:: ьс и, дисперсной фазои которо " :->вляется

}!Х (сжиженный га =.). (!î ме-.е увели— чения конверс>»?» с обрс, ванием (1(— лимерного с)(оя Fiа поверхности кап—

ЛИ ИЗМЕН ЯЮТС ci:.(лЛЬ? L ..3 а И. .01 <ЭЙСТВ И Я

W»УГ fТ>(>>((1, т -(Ð).—;-;.r PHВЕСТИ

К ИХ аГРЕ. а>(ИИ, З РссЗУ)?В(а гс (С(О

;;..;O M"P,, O —,C)5 КОН(3- (Н},т)л РаO" CP З<- РНа г" УCIIC«>. .HОННО? О ?IОЛИВИ!)?(;?ХЛОРИДа

f (IHX 1 . ((з.-)естна методика -f(>Mcðc«{HH разМЕРОВ !(cll?ЕЛЬ:ЭМУЛ?»СИИ < и КОтОРОй ?3 !

Cc? (ЕСТВЕ i>O,;тЕЛЬНОй жИЛ><ОСТИ ИСИО)ив 3 (>ЮТ Пс»()ссфИ!1, )Мт>>ЛЬТ ИРОБсlНИQ (IРО

})с);я т (i(>è ГIО в> II>10! f Il 0)1 Г е;.(и е?> ат yр( а:3 аТ 0(1 Г PÎ13" }?>. Т OT 13(Р:!<).(>1{но К сl(1! Л(. (>! > У): Ь СИ И Гт У т (Э Г 1 3 а Х О) i: 3.".< H }3 Q!? ? и:> i 1 г J! ..

c?»?! Колодной воцой, Гк> :.ле (е о ио)?у—

>тт 11-,,)t Э . т,. Т-.т < jt>:> ?13;r с.-,. т Ттг) т ",.;Кt.Η, ««э; О(,-. 1 (. >>lно<-. —,i,:IРЕдиаГа(« ".f>) fif3ЛГ>.> ГСЯ т>г "1>,й<- ГВ : -, г!?л< по ">("?> >1(ioi -:т !тол??За т!aC -?!Ц МЕТОДОМ .-(ИКРОСКО) l!i?l > ССДЕР C :ЦЕЕ )>З .:-.РИТЕЛЬНУ:О и-?ЕЙКУ ПРЕДстc?)3.>)яlс (v!> Oобой с:»(:те:-". :; c ра.30

Баг! «l IВ, ?3 т МЯ ) lс(>ЗВГ!Л :. .! I;:3(> Г>c«З> :,) . и

Ти?ми Гек "а).::, <>ее:(олож=::il::й между и . »и «г?т; цэо: и ...(,: ".:.л;эдуе(.10?1 сред;.-1 (; Е-,;„-(а Г(Г>?(с;:3 л«;, ДРУГ К Дт УГ-, (ЗаЗОРОМ 1 . С ПОМО!tt) Ю МЕ гаг)?т» (ЕС:CH>(Ф Irf c!ЦЕВ» ((тт(. . ЙК а ("В и (3 >1 (1 с>. ><Е(ЭЕ 3 В CF! тнлт ОДНИМ ШТУЦЕРОМ C 13;(ж«{Е(» а тi>lO

РЕаКтОРа, а (РУГ?»(! ИЕРЕЗ ВCHTИЛЬ с а-(м с<лерой, :3 (>(0<1(эт !" Отбора пробь? реакцио".::{О. =: массы откр=)вается В.-.-{ тиль св.",!«I.: а Вщи ." „-t; < йку <;=; (;>locф р0Н г П?ЭИ > 1 Осl >т(-ЙКа 3 >Оян(>Е ? СЕ

ОМУЛЬ СИЕй И><и СУСПЕН:3ИЕй. (!ОСЛЕ ЗаКРЫтИЯ >ЗЕНтИЛЕй С ПОМО :(ЬЮ МИКРОСКОПа

?срез стекла чейки иооизво"ят ((><Ото .рафирование образца IZ, указанное устройс..feo из--а больI}!0cO ЗаЗОРа (,лоРДУ C T:<Л>ЗМИ Я,(о (КИ и "{озможнос-,,; переме.ения час .иц В процессе анациза имеет невыс<:1<ую

То -;ность c?F!3 г?иза кОтОРаЯ ОбУслов— лена тем „что затруд-.{eI!о фотогра— фирование движущихся частиц пробы, а иерем=:Io«{H(3 частиц приводит к их столкновениям с последу(с;ей коагу— ляцией или кОалесцеl("IHQI крОме ТОГÎ, ВОЗМОЖНО НапожЕНИЕ -та<=т >И! друГ

)т;т тт-и и t) -е .)t>c!i>F!с{ >:.((> .);>13 т)<-1 - .!r>;! I«<>, () t)H да""> >>>-

-отт(>OЙ(В;: 1::)У:а(СТ:i! Cl (Jт< .»Ы С НЕ«ая?»1 . > i fi! >(1 „; >Р (g; ИЕ! j;>: И<Р;- >< л фс<з:: — д(. 1 (> -.. (3 (>cH. -:i!1< ир(э >соса (3(ло«3!(Ой li lb!i .>?t —.;(> H. )) т-;Е. ( — <10";, "Рт (О>)(I,(COF (.OI <3(>f<;: «? И и? < И(Г)т-—

10 то)Г)т!?(1{FJ з а i cpc "->г, »"-1.. OTO!< >«а> Iи (1 ".! 1

В СГI 7?ЫВ а!О!..ИС К !iÃIËÈ Э(1;>3-.1> ИИ Pа 3>1Е—

p c..:1 > 0-:> 0 i 11 .M о бра з т твт . iOÉ "; Fl c3.%: СЭ JI 1> Н С И Т О Г)Щ И V i) г, сэ . Р ))! . Я Ю"., и Й .C d.:<

ПСЛ )>t! Е1 1 И(:: К а :ЕC >3 Е I! i i ск фO ОГрафHЙ „

15 i rll< И аиалИЗ Ра >МЕРОВ И СТРУКТУРЫ частиц дисперсной фазь:. у .е"ьi c !è(ЗаЗОРа Мсж)„У Ст(3!(ЛаМИ си(ЕЙ (H I?Г>(»ВОД?ТТ К:3«!c! 1)(Гс)(Т>«! .. >)Уи:-:ОС)т>>i\ > С:

:: ?l3!3«1M (. 3(>? ОЛН 3(1>ТЕ. Ялте ii:: т;:., «<(>С— о МС ТОГ> < ?ТО;:;:>Е 3,>ОЯ". >{О<. :!.

)",.,".J1C .»:., =. I:OC.Г,::;,iтЭ:- ... ;:.,;С ИЦ 1-.;Эи их д >иве!?ии " мал:i>1;:.зоре. ((Ри э тО>>I В 10i Ic l! т с т(0ОРа Г(Р>о бы ,г 3> 31(3(ЭС >(я c)Х 1)<Э)т?с> .:! т! )а:(а . а >- >(О;"., >< Рой, c(тО И >?(В )Д(Т и ?»Нт<:--(()1>В— .- :О:(у Испар() Н .?Ю 1!Х< tcft>".СНИЕ Нс:-.;— (Ц . ст (3! т? IIPOT3 l< -, 01» (() 1; >с- т;Т l ас i . 0 10 1«а, .:> (C c ;J>ü - а» е ".его с-.пав . > ,lи з и(э у(ма г! -! c l. (pc f L. .> тiВ(ДОМО И(:1< с?>жC 3 (i(1;)а:3. ТЕ -Э.

ЗО (.-.-ь ....-(>б",>ете(??J! — Г (>В(.! :=. .:-т: (>: "=.1?. >?fc?1(31" .: . .ll ) а!(аг .:за

,c» irIНl а:. ЦЕ.. <> а l а. I>" 3 а тlсl(Т?. „ . .>3; r>ттт);,,;т> т<-;;

СО ?(JP>!(В.Ц(.т И 3) . . РИ .- ЕЛЬ li У :> (- < образов, нн >и )? —.:;. >я !-, !)c!!!,-,(>-.(,» .

MC!ШЕИ;П> (И С-.O(.-„>Г. ? " Г.-"(iO.";.;; =:

МС .:ж:.. ;!:!< Ш ?УЦ(i;>c>t а Hr, û-.- .:- ..0 л (рЕ>тт>. > C!t- !0,01»" -- —;. - -. -, т. -; л

)1>РО>> (IМ C i r>t г: М H !< -.

1»з . .агн:тного::а -..-р? ала, ир:-. - е. .

>Г. >< ЭОВ«{СЭЕ (ТCiа HHлж

ВЕК . ОC OÁа! Hl . КOJ!Ü!I;„> =т:JLICOTà }<(),,-"1 у ?Е:Э-: .т:>С> ct Ct-.r»q, Ет ОЙ СОЕГЫ

a( — Ст--, г... »» >(!.— Й), Се.; дн —. с Н!{O,разба ):ени;. Г>, (, б=: . Играет рогь

It?. уЦPOct 1 Тэ С,(л c : O) Ciли)?» Cpß Ы В а ) < ВЬ г;0» С)»т>Е>{ T И", От>, Fi >1 1, 1!» и.-pc!3(„"азы, равным 10"; . "тад?но

Ct>C)?C TВ;. Н-, ° О 1> Ii --Т,,Е>ЭИ-! (;5 l)ОЙ Я <)ив

Я КЕ ОДН с> К r i т)ЕД>?а;, а Е(>1}> тЛ Ватт>, а ({,1 0578 1.4 п2 /7

Составитель Г.Карманова

Техред C, Х! его.-, а Корректор.11, Ильин

Редактор Н. Ьезродная

Заказ 9575/45 Тираж 873 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета ГССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7l-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г, ужгород, уп. Проектная, 4 аметров частиц максимального размера в исследуемом образце.

Б Предлагаемом варианте устройства толщина образующегося слоя регулируется высотой hg кольцевого паза магнитного кольца 8, что потребует изготовления ряда колец 8 с различной высотой

Однако, возможно изготовление магнитного кольца 8 без кольцевого паза, а регу,лирование толщины 5 образующегося слоя осуществляется глубиной h обечайки 5.

После застудневания желатина, ограничивающего подвижность часTHU, дисперсиир устройство помещают под микроскоп и проводят анализ. аким сбразом предлагаемое устройство псзволяет осуществить качественный и количественный контроль за изменением размера и <-труктуры частиц, находящихся под давлением„ например, в условиях полимеризационного процесса.

11олуча;- данные о точном значении размера частиц, можно изменять условия технологического процесса с целью регулирования требуемых характеристик конечного продукта.

Дискретность анализа не является недостатком, так как техноло15 гические процессы (например, полимеризации) продолжаются достаточно длительное время,

Устройство для дисперсного анализа частиц методом микроскопии Устройство для дисперсного анализа частиц методом микроскопии Устройство для дисперсного анализа частиц методом микроскопии Устройство для дисперсного анализа частиц методом микроскопии 

 

Похожие патенты:

Импактор // 1055997

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для определения параметров частиц загрязнителя в рабочей жидкости и может быть использовано в машиностроении и на транспорте для диагностике трущихся узлов машин

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к приборам, предназначенным для отбора проб аэрозоля с малыми концентрациями из воздуха и может быть использовано для исследования состава аэрозолей совместно с любым анализатором аэрозолей

Изобретение относится к области охраны труда, в частности к приборам для измерения запыленности воздуха

Изобретение относится к оптико-интерференционным способам и устройствам для измерения размеров и концентрации полидисперсных аэрозольных сред и может быть использовано в измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для автоматизированного измерения размеров и числа частиц в проточных средах, в объемах технологических аппаратов, для оценки качества и эффективности технологических процессов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для автоматизированного измерения размеров и числа частиц в проточных средах, в объемах технологических аппаратов, для оценки качества и эффективности технологических процессов

Изобретение относится к средствам для исследования и анализа частиц и материалов с помощью оптических средств и может быть использовано в медицинских исследованиях, геофизике, механике, химии, порошковой металлургии, при контроле загрязнений окружающей среды и т.д
Наверх