Времяпролетный масс-спектрометр

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

3(5g.Н 01 J 49/ 40

OllMCAHHE ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 3333809/ 18-21 (22) 25.08.81 (46) 15.12.83 ° Бюл. 9 46 (72) A .È.Áóñûãèí, Б.Ш.Ульмасбаев и Д.Б.Каллестинов (71) Научно-производственное объединение"Квант" (53) 621.384.6(088 ° 8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

Р 198034 кл. Н 01 J 49/40, 1966.

2. Авторское свидетельство СССР

В 515306, кл. Н 01 J 49/40 1973 (прототип ) . (54)(57) 1. ВРЕМЯПРОЛЕТНЕЙ MACC C1lEKTPONETP, содержащий импульсный источник ионов, дрейфовое бесполевое пространство, отражатель и при.емник ионов, о т л и ч а ю щ и й—

„„SU„„1061194 с я тем, ;ro, с целью расширения функциональных возможностей массспектрометра з а счет обеспечения возможности использования источников ионов, непрозрачных для ионных пучков, между источником ионов и отражателем под углом с(=5-80 к оси симметрии камеры анализатора расположен поворотный сетчатый конденсатор, а приемник ионов помещен в дополнительном патрубке, расположенном под углом 2 к оси симметрии масс-ст1ектрометра.

2. Масс-спектрометр по и. 1, о тл и ч а ю шийся тем, что электроды поворотного конденсатора представляют собой две параллельные металлические сетки.

1061194

Изобретение относится к массспектроскопии и может быть использовано в научных и практических целях для проведения масс-спектральных исследований различных веществ.

Известный времяпролетный масс.спектрометр в вакуумной камере анализатора содержит импульсный ионный, источник, камеру дрейфа, приемник ионов и два сетчатых конденсатора с тормозящими электрическими полями — отражатель 513.

В этой конструкции угол между вектором скорости ионных пакетов и плоскостями конденсаторов с тормозящими полями отличен от 90О, и траектории ионов имеют, таким образом, V-образный вид. Вследствие этого значительно возрастают поперечные размеры вакуумно-аналитической части такого масс-спектрометра по сравнению с обычным, увеличивается объем вакуумной системы, усложняется конструкция, затрудняется использование систем, фокусирующих ионный пучок, возрастают трудности при неизбежно близком расположении импульсного источника и приемника ионов, становится невозможным создание прибора с малой длиной дрейфового пространства.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является безмагнитный времяпролетный массспектрометр с высокой разрешающей способностью — масс-рефлектрон, содержащий камеру анализатора, в которой размещены импульсный источник ионов, камера дрейфа, детектор ионов и отражатель, компенсирующий разницу во времени пролета ионами разных энергий бесполевого пространства (2 ).

Однако данный прибор имеет существенный недостаток, состоящий в том, что в нем можно использовать только такие источники ионов, которые могут становиться прозрачными для ионных пакетов после их отражения в отражателе ° Однако существует много источников ионов, которые не обладают этим свойством, например лазерный вторично-ионный, искровой и т.д.

Целью изобретения является.расширение функциональных возможностей масс-спектрометра за счет обеспечения воэмажности использования источников ионов, непрозрачных для ионных пучков.

Пзставленная цель достигается тем, что в времяпролетном массспектрометре, содержащем импульсный источник ионов, дрейфовое бесполевое пространство, отражатель и приемник ионов, между источником ионов и отражателем под углом d.= 5- 800 к оси симметрии камеры анализатора расположен поворотный сетчатый конденсатор, а приемник ионов ïîìåщен в дополнительном патрубке, расположенном под углом 2 с к оси симметрии масс-спектрометра.

Электроды поворотного конденсатора представляют собой две параллельные металлические сетки.

)О На чертеже представлена схема предлагаемого масс-спектрометра.

Масс-спектрометр содержит в камере анализатора импульсный ион: ный источник 1, бесполевое про15 странство 2 дрейфа, два зазораконденсатора 3 и 4 отражателя, приемник 5 ионов и поворотный сетчатый конденсатор, представляющий собой две плоские параллельные сетки

7П 6 и 7, расположенные пад углом aL к оси симметрии камеры анализатора.. Сетка 7 постоянно заземлена.

Сетка 6 с помощью электронного ключа 8, запускаемого сигналом с источника ионов через блок 9 задержки, подключается либо к источнику

10 постоянного напряжения, либо заземляется.

Масс-спектрометр работает следующим обрузом.

В момент, когда источник начинает формировать ионные пакеты, сетка 6 заземлена. По истечении апре" деленного времени, когда пакеты, отразившись ое конденсаторов 3 и 4 отражателя, вновь достигают сетки 7, на сетку 6 с помощью электронного ключа подается потенциал, равный

Пц=2U

4О жатель, и пакеты отражаются на приемник ионов, расположенный под углом 2с к оси симметрии камеры анализатора. увеличивая задержку между началом работы источника ионов

45 и моментом подачи отражающего потенциала на сетку 7, можно сдвигать исследуемый участок масс-спектра в область. более тяжелых масс.

Такая система позволяет осущест5О вить фокусировку.2-ro порядка времени пролета ионов от источника до приемника ионов по энергии, т.е. обеспечить равенство времени про" лета ионами различных энергий с точностью до членов 2-ro порядка малости . Это видно из следующего расчета.

Полное время пролета иона с энергией q ° U от источника до приемника

Ф = cF(K). (1) .здесь F(KJ= i@A(fK-Я-р) Я-р+и А VK (2)

4dк Uî

Сr e 2 О, И„ .65

1061194 где ь ао u=u, а(,.г „

В,:," (":}.: где

=.P"т 2 (6}

Uo . 3-(ь + ь, ) А

Корректор Л. Патай

Заказ 10051/54 Тираж 703 Подпи сное

ЖИИПИ ГосУдарственного комитета СССР по делам:изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ГГП Патент, r. Ужгород, ул. Г эоектная, 4 к

P = п=4 — —;. (4)

dR u0 при о(=45;

RñÎ5 9а .

n =472 — (5} ( () =и,, где q Uz - энергия ионов, соответствующая скорости ионов по оси системы, на которую настраивается отражатель;

q U=kqUo - энергия любого иона) где K=U/00- численный коэффициент порядка единицы;

m u q - соответственно масса и заряд иона; общая длина бесполевого пространства дрейфа;

d,d,ä - соответственно зазоры тормозящего, отражающего и повторного конденсаторов.

Применяя к уравнению (1) условия фокусировки времени пролета по энергии второго порядка получим два алгебраических уравнения:

-A+nA (1-ж)+и A+m=0

3 3

} (1» „3)»1 }ð

Решая данные уравнения, получаем условия фокусировки второго порядка. Они имеют видг

Составитель

Редактор М.Циткина Техред И.Надь

Для уменьшения габаритов отра5 жателя выбираются паl; и «1. Условия (6 ) и (7 ) вместе с условиями (3-5) .определяют параметры отражателя т; "; — 1-, необходимые . }о

10 для выполнения Фокусировки 2-го порядка,- и могут быть легко выполнимы.

Изготовленный времяпролетный масс.пектрометр (масс-рефлектрон ) с приемником ионов, расположенным под углом 90О к оси симметрии камеры анализатора, имеет следующие параметры: и =5 мм оС=45+1о ЗТ-12 мму

4,р 195 мм;(,= 3500 мм.

Тормозящие потенциалы U U u U тГ Х выбираются в зависимости от энергии

eU, на которую настраивается массспектрометр, с помощью делителя напряжения в соответствии с соотношениями, определяемыми из условий (3-7):

" ="о

U =0 73 По

U =0,387 Uо

ЗО

Испытания масс-спектрометра показали, что прибор имеет разрешающую способность, доходящую до нескольких тысяч на полувысоте масс-пиков. В качестве базового образца принят прототип с такой же длиной дрейфового бесполевого пространства.

Использование поворотного конденсатора позволяет, не ухудшая анали-.

40 тических характеристик прибора

1. уменьшить объем вакуумно-анали тическай части масс-спектрометра, значительно уменьшить мощность вакуумных насосов, обслуживающих массспектрометр, улучшить остаточный

45 вакуум в камере анализатора, облегчить использование систем, фокусирующих ионный пучок, избежать технических трудностей, возникающих вследствие неизбежно близкого расположения источника и приемника ионов базового образца, упростить конструкцию прибора.

Использование изобретения позволяет создавать спектрометры с вы55 соким Разрешением и мадой длиной дрейфового пространства.

Н.A лимов а

Времяпролетный масс-спектрометр Времяпролетный масс-спектрометр Времяпролетный масс-спектрометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ

Изобретение относится к газовому анализу, предназначено для определения концентрации микропримесей веществ в газовых средах, в частности в атмосферном воздухе

Изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения микропримесей веществ в газовых средах, в частности атмосферном воздухе

Изобретение относится к области газового анализа и может использоваться для определения микропримесей различных веществ в газах или применяться в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора

Изобретение относится к области спектрометрии и используется для обнаружения атомов и молекул в пробе газа

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к приборостроению, системам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к приборостроению средств автоматизации и систем управления, в частности к масс-спектрометрии
Наверх