Фотометрический шар для абсолютных измерений

 

ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ А СОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, верстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которым установлен прозрачный экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отвер тий независимо от длины волны излу чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шарар , определяемому по формуле , ,.iL|S л Э; f площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия; коэффициент отражения свободного от отверстий участка его поверхности; площадь и коэффициент отражения j-ro отверстия в шаре.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU „„1187030 ()4 G 01 N 21/55

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Ф 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ, " /

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шара у, определяемому з 01 по формуле

I- )Б, 1

Р o = f o

° ( (21) 3485983/24-25 (22) 02.09.82 (46) 23.10.85. Бюл. ¹ 39 (72) M.A. Бухштаб (53) 535.242 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 759863, кл. С 01 J 1/04, 1980.

Топорец А.С. Приспособление к спектрофотометру СФ-4 с интегрирующим шаром для измерения коэффициентов отражения и пропускания.

Оптика и спектроскопия, Т.Х, вып. 4, с. 528. (54)(57) ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ1 ШАР ДЛЯ АБСОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, отверстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которыми, установлен прозрачный экран, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излугде Б — площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия; о — коэффициент отражения свого бодного от отверстий участка его поверхности; и у. — площадь и коэффициент отf

1 ) ражения j-го отверстия в шаре °

1187030

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности фото- и спектрофотометрии, и может быть использовано в научных исследованиях, метрологии и промышлен- 5 ности °

Цель изобретения — повышение точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излучения.

На чертеже изображены фотомет— рический шар с оптической системой, формующей излучение.

Система включает источник 1 .излу- чения, апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделено от приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности учась 20 ка шара 8 выполнено дополнительное отверстие 9.

Устройство работает следующим образом.

Когда зеркало 3 и экран 7 стоят 25 в показанном пунктиром положении, свет попадает на участок поверхности шара 8, в котором имеется дополнительное отверстие 9 такого размера, что выполняется следующее соотношение: о 54

Jc9 g =f 5 -Уо

S -5

Кф о 4 о у где К вЂ” коэффициент пропорциональности;

30 Ф вЂ” поток входящего в шар излучения; р — эффективный спектральный коэффициент отражения всей внутренней поверхности шара.

Когда свет направляют на исследуемый объект с коэффициентом отражения р, отсчет N равен о 4 о

S я- -Sy

«Ю

8о 4

0 Уо

40 откуда

N и о поэтому для любой длины волны коэффициент отражени- будет определяться без систематической погрешности.

Составитель М. Стукова

Редактор Е. Папп Техред О.Неце Корректор С. Черни

Заказ 6539/47 Тираж 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР го делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 где S — площадь участка поверхности шара 8;

S — площадь внутренней поверхности шара;

Яя — площадь отверстия 9;

S4 — площадь входного отверстия 4.

В предлагаемой конструкции шара свет, первый раз отразившись от исследуемого образца, может потеряться только во входном отверстии, которое ничем не закрыто, поэтому где f > — спектральный коэффициент отражения покрытия внутренней поверхности шара; у „ вЂ” эффективный спектральный коэффициент первого отражения всей внутренней поверхности шара.

Следовательно где р — коэффйциент отражения с участка поверхности шара с дополнительным отверстием.

Отсчет приемника при освещении используемого вместо эталона участка поверхности шара равен

Фотометрический шар для абсолютных измерений Фотометрический шар для абсолютных измерений 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической оптике, в частности к рефлектометрии, и может быть использовано для измерения коэффициентов отражения оптических поверхностей, например лазерных зеркал, а также элементов силовой оптики в ИК-диапазоне спектра

Изобретение относится к измерительной технике, а точнее - к фотометрическим устройствам, и может быть использовано для исследования материалов оптическими методами

Изобретение относится к области измерений в теплофизике и теплотехнике

Изобретение относится к методам исследования биологических, биохимических, химических характеристик сред, преимущественно биологического происхождения и/или контактирующих с биологическими объектами сред, параметры которых определяют жизнедеятельность биологических объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для экспресс-контроля разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к устройству и способу для проведения, в частности, количественного флуоресцентного иммунотеста с помощью возбуждения кратковременным полем
Наверх