Спектрофотометр

 

СПЕКТРОФОТШЕТР, содержащий монохроматор с источником света и далее по ходу луча двухканальную зер7Г CbVi/ кальную систему с плоскими выходными зеркалами и зеркальным переключателем , кюветное отделение и приемник света, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности измерения относительных оптических плотностей материалов, плоские выходные зеркала снабжены системами, состоящими изДополнительных источников света, дисковых обтюраторов и вогнутых зеркал, причем дополнительные источники света расположены в фокусе указанных вогнутых зеркал и оптически связаны с плоскими выходными зеркалами . (Л /7 00 со 00 ;о

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

151)4 С 0

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3704991/24-25 (22) 27.02.84 (46) 15.12.85. Бюл. Ф 46 (71) Физико-технический институт низких температур АН УССР (72) Г.К. Кладов, В.И. Фомин и Ю.Н. Юрковский (53) 535.853(088.8) (56) Патент Японии У 56-33657, кл. G 01 J 3/42, 1981.

Авторское свидетельство СССР и 503142, кл. G 01 J 1/44, 1968. (54) (57) СПЕКТРОФОТОИЕТР, содержащий монохроматор с источником света и . далее по ходу луча двухканальную sepÄÄSUÄÄ I 1 98389 А кальную систему с плоскими выходными зеркалами и зеркальным переключателем, кюветное отделение и приемник света, о т л и ч а:ю шийся тем, что, с целью повьппения точности измерения относительных оптических плотностей материалов, плоские выходные зеркала снабжены системами, состоящими иэ дополнительных источников света, дисковьм обтюраторов и вогнутых зеркал, причем дополнительные источники света расположены в фокусе укаэанных вогнутых зеркал и оптически связаны с плоскими выходными зеркалами.

1198389

ВНИИПИ Заказ 7713/42 Тираж 896, Подписное

Филиал ППП "Патент", r.Ужгород, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к оптическому приборостроению.

Цель изобретения — повышение точности измерения относительных оптических плотностей материалов путем .стабилизации интенсивности теплового излучения на приемнике.

На чертеже изображена схема спектрофотометра.

Спектрофотометр содержит монохрома-1О тор 1 с ист9цником света, за которым последовательно расположены плоское зеркало 2, вогнутое зеркало 3, вращающееся зеркало 4. Далее по ходу лучей расположены вогнутое зеркало 5, 15 плоское зеркало 6, диафрагма 7, окно

8, исследуемый образец 9, окно 10, вогнутое зеркало 11, в фокусе которого размещен дифференциальный прием.ник 12 излучения. Спектрофотометр также содержит вакуумный узел 13, вогнутое зеркало 14, плоское, зеркало 15, диафрагму 16, эталонный образец 17, окна 18 и 19, вогнутое зеркало 20, точечные источники 21 и 22 25 излучения,обтюраторы 23 и 24 и вогнутые зеркала 25 и 26.

Точечные источники 21 и 22 излучения заключены в экраны с отверстиями, которые расположены между вогнутыми зеркалами 25 и 26 и точечными источниками. Между экранами и вогнутыми зеркалами 25 и 26 расположены обтюраторы 23 и 24. Источники 21 и 22 расположены в фокусе вогнутых зеркал 25 и 26.

Спектрофотометр работает следующим образом.

Луч от монохроматора 1 с источником света, отразившись от плоского зеркала 2, собирается вогнутым зеркалом 3 в плоскости вращающегося зеркала 4.

В положении зеркала 4, изображенном на чертеже, излучение попадает 45 на вогнутое зеркало 5, от которого параллельным пучком, после отражения от плоского зеркала 6, попадает на диафрагму 7. Пройдя последовательно окно 8, исследуемый образец 9 и

50 окно 10, излучени отражается от вогнутого зеркала 11 и собирается на приемной площадке приемника 12 излучения.

В положении зеркала 4, перпендикулярном изображенному на чертеже, излучение от вогнутого зеркала 3 попадает на вогнутое зеркало 14, от которого параплельным пучком, после отражения от плоского зеркала

15, попадает на выходную диафрагму

16. Пройдя последовательно окно 18, образец 17 и выходное окно 19, излучение отражается от вогнутого зеркала 20 и собирается на приемной площадке приемника 12 излучения.

Излучение от источников 21 и 22 излучения, отраженное соответственно от вогнутых зеркал 25 и 26, попадает на соответствующие плоские зеркала 6 и 15.

Угол падения излучения источников 21 и 22 на соответствующие плоские зеркала 6 и 15 выбран таким, что только диффузионно рассеянное этими зеркалами излучение поступает в отверстия диафрагм 7 и 16 и попадает на приемник 12 излучения.

Интенсивность диффузно рассеянного излучения, попавшего на приемник

12 от каждой выходной диафрагмы 16 и

7, экспериментально подобрана равной величине изменения теплового фона по каждому каналу. Для этого перед измерением относительной оптической плотности производят стабилизацию теплового фонда, поступающего на приемник, следующим образом. Перекрывается луч от монохроматора 1 и одна из диафрагм, например 7. Изменением

Интенсивности излучения, поступающего от источника 22, и момента от- крытия обтюратором 24 этого излучения достигается значение сигнала приемника 12 равное нулю. Ввиду того, что приемник 12 регистрирует только изменяющееся во времени излучение, стабильное тепловое излучение фона приемником не регистрируется.

Наличие в оптической схеме точечных источников, с абженных обтюраторами и системой зеркал, вводящих диффузионно рассеянный свет в момент спада теплового фона, позволяет получить предельную точность регистрации, равную 10 Вт.

Спектрофотометр Спектрофотометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх