Спектральный способ определения концентрации веществ

 

1. СПЕКТРАЛЬНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ВЕЩЕСТВ, включающий возбуждение разряда в спектральной лампе импульсом тока, первое и второе измерения коэффициента поглощения анализируемого вещества при различных ширинах линии резонансного излучения в течение этого импульса, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения оптической плотности исследуемых веществ при одновременном упрощении проведения измерений, возбуждение разряда в лампе прово-дят симметричным импульсом тока, амплитуду которого устанавливают вьш1е номинального значения непрерывного режима питания, первое измерение коэффициента поглощения ведут во время развития разряда до его стационарного режима, второе измерение после установления стационарного W режима. 2. Способ по п. 1, отлис чающийся тем, что амплитуду симметричного импульса тока устанавливают в 1,5-100 раз больше номинального значения непрерывного режима питания. 00 00 СП 4 СП

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМ У СВИДЕТЕЛЬСТВМ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ HOMHTET СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 1133512 (21) 3627804/24-25 (22) 22.07.83 (46) 30. 10. 85. Бюл. Р 40 (72) К.П. Курейчик, В.Л. Макаров, С.С. Ветохин, И.P. Гулаков и Н.В. Козловский (53) 535.3(088.8) (56) G. J. De Jong and Е.Н. Piepmeier. Time-and waveleght resolved

emission line for pulsed Cu and Ag

hollow cathode lamps-spectrochimica

Acta. 1974, ч. 29В, р. 159-177.

Авторское свидетельство СССР

У 1133512, кл. G 01 N 21/67, 30. 06. 84. (54) (57) 1. СПЕКТРАЛЬНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ВЕЩЕСТВ, включающий возбуждение разряда в спектральной лампе импульсом тока, первое и второе измерения коэффициента поглощения анализируемого вещества .

„„SU„„1188545 A (5 )4 С 01 J 3/42, G 01 N 21/63 при различных ширинах линии резонансного излучения в течение этого импульса, отличающийся . тем, что, с целью повышения точности определения оптической плотности исследуемых веществ при одновременном упрощении проведения измерений, возбуждение разряда в лампе прово-дят симметричным импульсом тока, амплитуду которого устанавливают выше йоминального значения непрерывного режима питания, первое измерение коэффициента поглощения ведут во время развития разряда до его стационарного режима, второе измерениепосле установления стационарного режима.

2. Способ поп. 1, отли†ч а ю шийся тем, что амплитуду симметричного импульса тока устанавливают в 1,5-100 раз больше номинального значения непрерывного режима питания.

1188545

Составитель О.Матвеев

Редактор E.Êîï÷à Техред М.Кузьма Корректор M.Ñàìáîðñêàÿ

Тираж .896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 6733/41

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к атомноабсорбционному спектрально анализу и предназначено для определения концентрации веществ с учетом неселективного поглощения.

Цель изобретения — повышение точности определения оптической плотности исследуемых веществ при одновременном упрощении проведения измерений.

Способ осуществляют следующим образом.

На спектральную лампу, например, с полым катодом, подают симметричный импульс тока, например, П-образной формы. Получают импульс све-. та от спектральной лампы. Измеряют коэффициент поглощения анализируемого вещества в момент развития разряда в лампе. Длительность этого измерения зависит от типа лампы, амплитуды импульса тока и может состав" лять несколько десятков микросекунд, После установления стационарного режима разряда проводят повторное измерение коэффициента поглощения.

5 Затем расчетным путем определяют оптическую плотность и концентрацию анализируемого вещества в аналити-ческой ячейке. Амплитуду снмметрич1 ного импульса тока устанавливают в 1,5-100 раз больше номинального значения непрерывного режима пита-ния. Это связано с тем, что при уменьшении амплитуды импульса тока меньше, чем в 1,5 раз, различие в ко15 эффициентах поглощения становится небольшим, вследствие чего точность измерения уменьшается. Увеличение амплитуды тока более чем в 100 раз.. приводит к увеличению флуктуаций све20 тового излучения, что также приводит к уменьшению точности измерения (по причине ухудшение воспроизводимости).