Способ регулирования соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждения и устройство для его осуществления

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1276435 (5114 В 22 D 11/16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3928533/22-02 (22) 12.07.85 (46) 15.12.86. Бюл. ¹ 46 (71) Череповецкий ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени металлургический комбинат им. 50-летия СССР (72) Н. И. Шестаков, В. М. Паршин, Е. А. Нечаев, Ю. И. Жаворонков, А. П. Щеголев и Б. Н. Николаев (53) 621.746.27 (088.8) (56) Заявка Франции № 2426514, кл. В 22 D 11/06, 1979.

Авторское свидетельство СССР № 971567, кл. В 22 D 11/16, 1982. (54) СПОСОБ РЕГУЛИРОВАНИЯ СООСНОСТИ КРИСТАЛЛИЗАТОРА И ПОДДЕР

ЖИВАЮЩЕЙ СЕКЦИИ ЗОНЫ ВТОРИЧНОГО ОХЛАЖДЕНИЯ И УСТРОЙСТВО

ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Изобретение относится к металлургии и может быть использовано при непрерывной разливке металла. Цель изобретения— повышение качества слитка. В процессе разливки измерителями 1 и 2 измеряют температуру противоположных рабочих стенок 3 и 4 кристаллизатора в точках, расположенных на расстоянии от нижнего торца кристаллизатора, равном 0,01...0,15 его высоты. Сигналы с измерителей поступают на вход сумматора 5, на выходе которого формируется сигнал, равный разности измеренных температур. Указанный сигнал поступает на вход порогового элемента 7, где он сравнивается с сигналом с задатчика 8 разности температур рабочих стенок кристаллизатора. Если сигнал разности превышает заданную величину, он поступает через усилитель 9, фазочувствительный элемент 11 на исполнительный механизм 13 перемещения кристаллизатора. Если сигнал разности меньше заданной величины, он поступает через усилитель 10, фазочувствительный элемент 12 на исполнительный механизм 14 перемещения поддерживающей секции по нормали к поверхности слитка.

2 с.п. ф-лы, 1 ил.

127б435

Изобретение относится к металлургии, а именно к непрерывной разливке металлов.

Целью изобретения является повышение качества слитка.

На чертеже приведена функциональная схема устройства, предназначенного для осуществления cilocoo3.

Схеv13 содержит измерители и 2 температуры рабочих стенок 3 и 4 кристаллизатора, сумматор 5, регистрирующий прибор (>, пороговый элемент 7, задатчик 8 разности

TcuIIep3Typ рабочих стенок, усилители 9 и 10, фазочувствительные элементы 11 и 12, исполнительные механизмь> 13 и 14. Причем измеритель 1 тем»ературы рабочей стенки, сумматор 5, пороговый элемент 7, усилитель

9, фазочувствительный элемент 11 и исполнительный механизм 13 соединены последователь lo. Также последовательно соединены усилитель 10, фазочувствитсльпыи ->лемент

12 и исполнительный >>еханизм 14. Вхс>д усил HTL! я 10 coE .. >и неп с BTophi >1 вы хо чо м Ilopoгового элемента 7, <1 второй вход порогового элемента 7 соединен с выходом задатчика 8 разности температуры рабочих стенок.

Выход измерителя 2 температуры рабочей стенки соединен с вторым входом блока 5 сравнения, а выход это>о блока соединен также «»voto» регистрирующего прибора 6.

Способ регулирования несоосностн кристаллизатора и ноддерживак>щей секции зоны вторичного Охлаждения включает измерение температуры двуx противоположных рабочих стенок кристаллизатора 33 расстоянии оТ нижнего торца кристаллизатора, равном 0,01 — -0,15 его высоты, и перемсшеIIHc кристаллизатора или поддерживающей секции в зависимости от разности измеренных температур. Этот диапазон установлен экспериментально из условия получения наиболее достоверной информации о величине несоос ности KPHcT3л, > I33ToP>l и f>o;l jPP>KHвающей секции зоны вторичного охлаждения.

Г1ри расстоянии оТ пзжнего торца кристаллизатора, меньшем 0,0!0 и гн>льшем 0,15 его высоты, разность температур двух противоположных рабочих стенок не превышает !0 К. С учетом того, что погрешность замера температуры составляет (1,5 -2) К, точность регулирования уl >3 наклона рабочей стенки, при установке тер;>опар в этих зона:, будет невысокой. Г13ибольшая разНОСТЬ ТЕМ IIC P ITN Р B НИ ЖНЕИ Ч ICTI. КР IICTÇCIлизатора связана с >ем, что существенное влияние на результат замера оказывает вторичное охлаждение, интенсивность которого от величины несоосностн ilc зависит.

При расстоянии от нижнего торца кристал IH33Top3, боль>пем 0,15 его высоты, оболочка с IHTKd под действием ферростатического >авления достаточно плотно IipH)KHмается к рабочей стенке лаже при значительной несоосности, поэтому разнг>сть тем25

55 ператур двух противоположны стенок невелика.

При изменении несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждения слиток будет более плотно прижиматься к одной из рабочих стенок кристалл изатора и отходить от противоположной. Стенка, более плотно контактирующая со слитком, будет иметь и более высокую температуру. Таким образом, по разности температур противоположных стенок можно вполне определенно судить о

Bcличине несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции.

Если несоосность небольшая, то перемещать следует поддерживающую секцию, поскольку технически это осуществить несложно. Однако при значительной несоосности (более 1 — -2 мм) неремегцать поддерживающую секцию не следует, так как 3То влечет за собой существенное искажение технологической оси машины. В данном случае необходимо перемещать кристаллизатор.

Устройство работает следующим образом.

Измерители 1 и 2 измеряют температуру противоположных рабочих стенок 3 и 4 кристаллизатора в точках, расположенных на расстоянии от нижнего торца кристаллизатора, равш>м 0,01 — 0,15 его высоты.

Сигналы, соответствующие измеренным температурам, поступают на входы сумматора 5, на выходе из сумматора формируется сигнал, пропорциональный разности измеренных температур. Этот сигнал постх пает на регистрирующий прибор б для визуального контроля оператором вели чины несоосности. Кроме того, управляющий сигнал с сумматора поступает на вход порогового элемента 7, где он сравнивается с сигналом, поступившим с задатчика 8 разности температуры стенок крнсталлизатора. Ес> и управляющий сигнал превышает заданну>О величину, то оН поступает без изменения на вход усилителя 9, где усиливается до

loluности, необходимой для управления исполнительным механизмом 13 перемещения кристаллизатора по нормали к поверхности слитка. Г1ричем управляющий сигнал проходит через фазочувствительный элемент 11, где определяезся направление перемещения криста T;IH33Top3. Если управляющий сигнал меньше заданной величины, то он поступает без изменения Н3 вход усилителя 10, где усиливается до моьцности, необходимой для управления исполнительным механизмом 14 переме цения поддерживающей секции по нор>:али к поверхности слитка.

В этом случае управляющий сигнал Ilpoходит через фазочувсгвительный элех>е >т.

1276435

Формула изобретения

Составитель P. Курмаева

Техред И. Верес Корректор А. Ильин

Тираж 757 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор М. Бандура

Заказ 6617/9 где определяется направление перемещения секции.

Техническое преимушество изобретения заключается в повышении степени достоверности информации о тепловых процессах, протекающих в рабочих стенках, что позволяет осуществить обоснованное регулирование несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждения. Ожидается снижение пораженности металла трещинами на 35 — 40о/о.

1. Способ регулирования соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждения, включающий перемещение поддерживающей секции по нормали к поверхности слитка, отличающийся тем, что, с целью повышения качества слитка, дополнительно измеряют температуру двух противоположных рабочих стенок кристаллизатора на расстоянии от нижнего торца кристаллизатора, равном 0,01 — 0,15 его высоты, определяют разность этих температур, сравнивают ее с заданной и при разности, меньшей заданного значения, перемещают поддерживающую секцию по нормали к поверхности слитков, контактирующей с более холодной рабочей стенкой, а при разности, большей заданного значения, перемещают кристаллизатор по нормали к поверхности более горячей стенки.

2. Устройство для регулирования соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждения, содержащее первый усилитель и первый исполнительный механизм, отличающееся тем, что, с целью повышения качества слитка, оно снабжено двумя измерителями тем пературы противоположных рабочих стенок кристаллизатора, сумматором, двумя фазочувствительными элементами, задатчиком разности температур стенок кристаллизатора, пороговым элементом, вторым усилителем и вторым исполнительным механизмом, причем выходы измерителей температуры соединены с входами сумматора, выход которого соединен с первым входом порогового элемента, второй вход которого соединен с выходом задатчика разности температур, первый выход порогового элемента соединен

20 с входом первого усилителя, выход которого соединен с входом первого фазоч>вствительного элемента, выход которого соединен с входом первого исполнительного механизма, второй выход порогового элемента соединен с входом второго усилителя, выход которого соединен с входом второго фазочувствительного элемента, выход которого соединен с входом второго исполнительного механизма.