Оптико-электронное устройство для контроля неплоскостности

 

Изобретение относится к контрольно-измерительным устройствам, используемым для контроля неплоскостности объектов. Целью изобретения является повьшение точности контроля, которая достигается за счет использования системы отражателей, установленных после источника коллимированного излучения. Устройство содержит источник 1 коллимированного излучения, корпус 2, систему 3 отражателей , координатно-чувствительный фотоприемник 4, платформу 5,электронный блок 6 обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 4, термоизолируюЕций слой 7, а система 3 отражателей состоит из двух зеркал , образующих двугранный угол, и светоделителя, размещенного по отношению к зеркалам так, что его светоделительная плоскость совпадает с биссектрисой двугранного угла.Платформа 5 устанавливается на контролируемый объект 10. 2 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (1I) (51) 4 С 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Фиг.1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К детоРСКОМУ CBHQETEJlbCTB Y (21) 3673900/24-28 (22) 12.12.84 (46) 15.01.87. Бюл. ¹ 2 (71) Краматорский индустриальный институт (72) С.А. Певзнер и Т.С. Певзнер (53) 53 1.7 17 (088 ° 8) (56) Ельников И.Т., Дитев А.Ф., Юрусов И.К. Сборка и юстировка оптико-механических приборов. М.: Машиностроение, 1974, с ° 66-67, рис. 28.

Авторское свидетельство СССР

¹ 438867, кл. G 01 В 11/30, 26.04.72. (54) ОПТИКО-3JlEKTPOHHOE УСТРОЙСТВО

ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕПЛОСКОСТНОСТИ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительным устройствам, используемым для контроля неплоскостности объектов. Целью изобретения является повышение точности контроля, которая достигается за счет использования системы отражателей, установленных после источника коллимированного излучения. Устройство содержит источник 1 коллимированного излучения, корпус 2, систему 3 отражателей, координатно-чувствительный фотоприемник 4, платформу 5,электронный блок 6 обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 4, термоизолирующий слой 7, а система

3 отражателей состоит из двух зеркал, образующих двугранный угол, и светоделителя, размещенного по отношению к зеркалам так, что его светоделительная плоскость совпадает с биссектрисой двугранного угла. Платформа 5 устанавливается на контролируемый объект 10. 2 ил. раллельному смещению светового пучка на выходе на величину К и наклону на угол

Так как светоделительная плоскость светоделителя 9 совпадает с биссектрисой двугранного угла, образованного зеркалами 8, и направлением измерения, то два пучка лучей

1 и I (фиг.2) на выходе системы 3 отражателей будут симметричны относительно направления измерения прн любых смещениях и наклонах пучка лучей I источника 1 коллимированного излучения, а следовательно, разность фототоков с двух площадок координатно-чувствительного фотоприемника 4 будет неизменной, На фиг.2 показано, что если пучок лучей из источника i коллимированного излучения перейдет в положение II (наклон на угол М и линейное смещение на величину К ), то на выходе системы 3 отражателей два пучка луI 1Д чей II u II будут также симметричны относительно направления измерения.

Таким образом, изменение направления пучка лучей источника 1 коллимированного излучения не влияет на результаты измерения, что приводит к повышению точности контроля.

Оптико-электронное устройство для контроля неплоскостности, содержащее последовательно установленные источник коллимированного излучения, платформу, координатно-чувствительный фотоприемник, размещенный на платформе, и электронный блок обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности,оно снабжено установленной между источником коллимированного излучения и платформой системой отражателей,выполненной в виде двух зеркал, обра50 зующих двугранный угол, и светоделителя, размещенного по отношению к зеркалам так, что его светоделительная плоскость совпадает с биссектрисой двугранного угла и направлением

55 измерения, источник коллимированного излучения установлен под углом к направлению измерения, светоделитель расположен на выходе источника колли1 1283525

Изобретение относится к контрольно-измерительным устройствам, используемым для контроля неплоскостности объектов.

Цель изобретения — повышение точности, На фиг. 1 изображена функциональная схема устройства, на фиг.2 — выполнение системы отражателей.

Устройство (фиг. 1) содержит источник 1 коллимированного излучения,. корпус 2, систему 3 отражателей,координатно-чувствительный фотоприемник 4, платформу 5, электронный блок

6 обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 4, термоиэолирую.щий слой 7, а система 3 отражателей состоит из двух зеркал 8, образующих двугранный угол, и светоделителя 9, размещенного по отношению к зеркалам ,так, что его светоделительная плос. кость совпадает с биссектрисов двугранного угла. Платформа 5 устанавливается на контролируемый объект 10.

Устройство работает следующим образом.

Пучок лучей иэ источника 1 коллимированного излучения делится на два пучка лучей в системе 3 отражателей и попадает на две площадки координатно-чувствительного фотоприемника 4, размещенного на платформе

5. Последняя перемещается по поверхности контролируемого объекта 10.

Отклонение поверхности контролируемого объекта 10 от плоскости приводит к смещению платформы 5, а,следовательно, и координатно-чувствительного фотоприемника 4 относительно двух пучков лучей на выходе системы 3 отражателей. Электронный блок б обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 4, фиксирует разность фототоков с двух площадок фотоприемника 4, пропорциональную величине смещения платформы 5 т.е. величине неплоскостности поверхности контролируемого объекта 10.

Для уменьшения влияния нагрева источника 1 коллимированного излучения на систему 3 отражателей между источником i коллимированного излучения и корпусом 2 установлен тормоизолирующий слой 7.

Нагрев источника 1 коллимированного излучения может привести к паФормула изобретения

1283525 4 венно с одной иэ площадок координатно-чувствительного фотоприемника. мированного излучения, а каждое иэ зеркал оптически связано соответстЕ юг.2

Составитель А. Заболотский

Редактор Н. Слободяник Техред M.Õîäàêè÷ Корректор С. Черни

Заказ 7426/36

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,4

Тираж 677 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Яеиия е вг

I

Оптико-электронное устройство для контроля неплоскостности Оптико-электронное устройство для контроля неплоскостности Оптико-электронное устройство для контроля неплоскостности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в .частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в заданном диапазоне высот микронеровнос тей

Изобретение относится к измерительной технике и .может быть использовано для бесконтактного измерения параметров шероховатости сверхгладких анизотропных поверхностей , в частности поверхностей, обработанных алмазным точением

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного оптического контроля шероховатости поверхности изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля труднодоступных внутренних полостей-, в частности для контроля каналов и трубопроводов атомных реакторов, имеющих центральный стержень

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к контрольноизмерительной те.хнике и используется для контроля качества обработки повер.хности

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к фотоэлектрическим устройствам для контроля отклонений от прямолинейности поверхности объекта,и является усовершенствованием известного устройства по авт.св

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх