Авторадиографический способ определения распределения концентрации вещества

 

Авторадиографический способ определения распределения концентрации вещества на поверхности шлифов, преимущественно составляющих топливо твэлов ядерных реакторов, при котором изготавливают исследуемый и образцовый шлифы, устанавливают шлифы на трековые детекторы, проявляют детекторы, определяют их оптическую плотность и по ней определяют распределение концентрации контролируемого вещества на поверхности шлифов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений при сохранении производительности, устанавливают образцовый и исследуемый шлифы на детекторы одновременно, выдерживают их одинаковое время и проявляют в одинаковых условиях, а после определения оптической плотности образцового и исследуемого детекторов вторично проявляют образцовый детектор, вторично определяют его оптическую плотность и определяют распределение концентрации контролируемого вещества по формуле где Кi и Ко - концентрация контролируемого вещества в исследуемом и образцовом шлифах; Di - распределение оптической плотности на исследуемом детекторе; Dо1 - оптическая плотность образцового детектора после первого проявления; d - максимальная оптическая плотность образцового детектора, получаемая с помощью длительного повторного проявления.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборам для регистрации ядерных излучений , более конкретно осколков деления атомных ядер

Изобретение относится к методам регистрации заряженных частиц с помощью твердотельных трековых детекторов

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и позволяет повысить эффективность наблюдения прямых следов частиц, идущих под КР- лым углом к оптической оси микроскопа Конденсор 2 оптического микроскопа снабжен кольцевой дифракционной решеткой 3, центры кольцевых бороздок которой образуют эквидистантную последовательность точек на прямой линии в плоскости решетки

Микроскоп // 1273861
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

Изобретение относится к методам регистрации излучений трековыми детекторами с оптическим съемом информации в долговременных экспериментах с автономно функционирующими приборами

Микроскоп // 1323995
Изобретение относится к экспериментальной физике-элементарных частиц и может быть использовано при исследовании свойств элементарных частиц

Изобретение относится к трековым детекторам
Наверх