Устройство для спектрального анализа

 

Изобретение относится к спектральному анализу и обеспечивает возможность применения просвечивающих излучений, направляемых через дуго- . вой столб параллельно плоскости стола в направлении, совпадающем с обра , JO 8 зугащей цилиндра, формирующего калиброванную прокладку, т.к. стабилизирующий дугу газ подается по цилиндрической щели, а светоотбор осуществляется в направлении, аксиальном образукхцей цилиндра. Контролируемый образец 10 устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11, затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и 8, из которых по цилиндрической щели по направляющим каналам в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением , направляемым параллельно плоскости стола 11 в направлении образующей цилиндра, форьшрующего калиброванную прокладку 5. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 19, расположенные в торцах, вьтолняющих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы. 2 ил. 9 L. В (Л N9 СО С5 00 ел 2t 20 is 17 fff Т6 fpuff.l

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

<50 4 G 01 J 3 10

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3903748/27-25 (22) 31.05.85 (46) 15.03.87. Вюл. Â 10 (71) Камское объединейие по производству большегрузных автомобилей (72) Ф.Г.Карих (53) 535.853(088,8) (56) Рыжов В.В., Шанов В.П., Фишман И.И. Атомно-абсорбционный анализ монолитных образцов в дуге переменно-!

ro тока. — Заводская лаборатория, 1984, 50, Р 6, с. 39-41.

Авторское свидетельство СССР

Ê 1262297, кл. G 01 J 3/10, 1983. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО

АНАЛИЗА (57) Изобретение относится к спектральному анализу и обеспечивает возможность применения просвечивающих излучений, направляемых через дуговой столб параллельно плоскости стола в направлении, совпадающем с обра„„SU„„1296851 A1 зующей цилиндра, формирующего калибI рованную прокладку, т.к. стабилизирующий дугу газ подается по цилиндрической щели, а светоотбор осуществляется в направлении, аксиальном образующей цилиндра. Контролируемый образец 10 устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму — стол

11, затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и

8, из которых по цилиндрической щели по направляющим каналам в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением, направляемым параллельно плоскости стола 11 в направлении образующей цилиндра, формирующего калиброванную прокладку 5. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна

19, расположенные в торцах, выполняющих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы. 2 ил.

1 1296851

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для определения химического состава электропроводных материалов с применением дуговых источников возбужде- g ния спектра.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения возможности проведения атомно-абсорбционного анализа.

На фиг.1 схематически изображено предлагаемое устройство, разрез по оси каналов, формирующих стабилизирующий поток и расположенных в плоскостях, перпендикулярных оптической г оси; на фиг.2 — профилированная калиброванная прокладка, вид сверху. у

Для обеспечения возможности использования известного устройства для прямого атомно-абсорбционпого

\ анализа монолитных металлических I

1 образцов стабилизирующий дугу газ подают к поверхности образца по цилиндрической щели. Затем включают источник питания дугового разряда, атомизирующего контролируемый образец, используя при этом прианодную зону разряда в качестве ячейки, поглощающей просвечивающее излучение.

30. Устройство для осуществления способа спектрального анализа электро— проводных материалов содержит приэлектродную диафрагму 1, вьпголненную разъемной с корпусом 2 по цилиндрическим поверхностям 3 и 4 равного радиуса, промежуток между которыми заполнен профилированной прокладкой 5, служащей для подачи стабилизирующего д0 газа через канал 6 из газораспределительных линейных камер 7 и 8 в зону приэлектродного пятна 9, контролируемого образца 10, служащего в .качестве одного из электродов, установлен— ного на плоской поверхности ll, выполняющей функции стола и ограничивающей приэлектродпую диафрагму сверху, а снизу — поверхностью 3, каналы 12, сходящиеся в отверстие 13, ограничены поверхностями 3 и 4 и боковыьп поверхностями 14 зубьев 15 прокладки 5, причем изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание поверхностями вершин зубьев с о разующей выходного отверстия 13 приэлектродной диафрагмы 1. На оси корпуса 2 размещена разрядная камера, 16, служащая для прохода дугового разряда 17 и паров атомизированного материала, в плоских торцах 18 которой выполнены светопроводящие окна 19, касающиеся своей образующей

20 поверхности 4 в зоне 21. Торцовые поверхности 22 каналов 12 прокладки

S сочленены с плоскими внешними поверхностями.камер 7 и 8.

Пример. Контролируемый образец 10, служащий одним из электродов, устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму — стол 11 размером

?О х 70 мм с выходным отверстием диаметром 6 мм. Затем подают стабилизирующий газ в газораспределителььые камеры 7 и 8, из которых по цитиндрической щели радиусом 100 мм по аправляющим каналам 12 в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового разряда 17, просвечиваемого излу— ением, направляемым параллельно плоскости стола 11 в направлении образующей цилиндра, формирующего калиброванную прокладку 5, изготовленную из медной фольги толщиной 0,!мм.

Г>ихревой поток стабилизирующего газа образован в результате слияния потоков из обеих газораспределительных камер 7 и 8, Таким образом при про— тяженности газораспределительных камер, равной 35 мм, ширина основания вихреобразующих зубьев, как и основания каналов, определяется величиной 5 мм. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 19 диаметром

8 мм, расположенные в торцах, выполняющих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы, имеющих толщину 15 мм.

При этом оптическая ось излучения, совпадающая с осью окон 19, проходит на удалении 4,5 мм от плоскости стола 11 приэлектродной диафрагмы l, Использование стабилизации приэлектродного участка дуги путем подачи газа к поверхности контролируемого образца в виде цилиндрической кольцевой струи сходящихся в вихрь отдельных потоков газа. из двух газораспределительных камер позволяет расширить применение дуги постоянного тока в области атомно-абсорбционного анализа, обеспечивая рост чувствительности определения микропримеси в металлах с возможностью перехода <а единый градуированный график для различных марок сплавов, повьппая качество технологического контроля.!

2968

<ие 2

Составитель Б.Широков

Техред И.Ходанич

Корректор С.Шекмар

Редактор С.Лисина

Заказ 766/42

Тирах 777

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Н-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Формула из обретения

Устройство для спектрального анализа образцов электропроводных материалов, содержащее корпус с разрядной камерой, с отверстиями для подво- 5 да и отвода газов, приэлектродную диафрагму, на которой установлен электрод, являющийся образцом, газораспределительную камеру, полость для подачи стабилизирующего газа, вы- 10 полненную в виде кольцевой щели, расположенной между корпусом и диафрагмой, изготовленными с разъемом по поверхности щели диафрагмы, снабженной по внешнему периметру разъема герметизирующей калиброванной прокладкой, имеющей набор клиновидных зубьев, вершины которых лежат на образующей входного отверстия в разрядный канал, а основания расположены на наружной 20 поверхности газораспределительной камеры, о т л и ч а ю щ е е с я тем, 5l

4 что, с целью расширения функциональных возможностей за счет возможности обеспечения проведения атомно-абсорбционнбго анализа, щелевое отверстие диафрагмы выполнено цилиндрической формы, гаэораспределительная камера образована двумя прямолинейными камерами, расположенными в корпусе симметрично относительно оптической оси устройства, а клиновидные зубья калиброванной прокладки выполнены иэог нутыми с основаниями, опирающимися на плоские наружные поверхности обеих гаЗораспределительных камер, при этом изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание вершин зубьев с образующей выходного отверстия приэлектродной диафрагмы в точках, равноудаленных друг от друга, при равенстве сечений выходных от.верстий каждого из образованных газопроводящих каналов.