Прибор для измерения толщины слоя накипи

Авторы патента:

Николаев Л.А.

G01B7/06 - для измерения толщины

№ 134432

Класс 426, 11

СССР

Гг опиоАние ивовРйт»йнйя

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Л. А. Николаев

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ НАКИПИ

Заявлено 18 августа 1949 г. за Ке 420367 в Гостехнику СССГ

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» М 24 за 1960 r.

Предмет из o6р е те н и я

Применение плоского конденсатора, включенного в ту или иную измерительную схему для измерения толщины слоя накипи и интенсив ности,накипеобразования, с целью повышения точности измерения, Известно использование плоского конденсатора, включенного в схему, работающую на биениях, для измерения толщин покрытий, нанесенных на листовые материалы.

Для повышения точности измерения толщины слоя накипи и интенсивности накипеобразования предлагается применять в измерительной схеме плоский конденсатор.

На фиг. 1 изображен конденсатор для определения интенсивности накипеобразования; на фиг. 2 вЂ” конденсатор для определения голщины слоя накипи.

Конденсатор состоит из двух пластин 1 и 2, одна из которых через металлический стержень 8 крепится непосредственно к трубе 4 без изоляции, а другая приварена к болту 5, прикрепленному к трубе посредством гайки б, изоляционных втулок 7:и прокладки 8.

Описываемый плоский конденсатор включается в схему, работающую на биениях. На выходе схемы включен прибор, измеряющий изменение емкости конденсатора в зависимости от интенсивности накипеобразования.

Для измерения слоя накипи может быть использована в аналогичной схеме, работающей на биениях, подпружиненная пластина 9, соединенная с коаксиальным кабелем 10. Пластина, приложенная к слою накипи на стенке, вместе с последней образует конденсатор, являющийся датчиком толщины .накипи.

Составитель описания М А. Хесин

Редактор Л. М. Струве Техред А. А. Камышникова Корректор Г, С. Мосолова.

11одп. к печ, 25.Х!-62 г, Формат бум. /ОХ 108 /,а Объем 0,18 изд. л

Зак. 9824 1 праги 275 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Центр, М, Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦБТИ, Москва Петровка, 14.

Прибор для измерения толщины слоя накипи

Тарировочный прибор для измерения толщины смазывающей пленки в подшипниках // 133604

Устройство для измерения в роторных экскаваторах толщины стружки // 133412

Гармонический анализатор кривых, заданных в графической форме // 132767

Устройство для автоматической сортировки листового материала // 131094

Прибор для измерения толщины немагнитного покрытия на ферромагнитную основу // 131090

Способ настройки пневмоэлектрических датчиков в устройствах // 131088

Электромагнитный прибор для контроля толщины металлических изделий // 130191

Способ измерения толщины не ферромагнитных проводящих покрытий на внутренних стенках труб // 129022

Электромагнитный прибор для измерения толщины изделий из цветных металлов // 126615

Термозонд для неразрушающего контроля толщины защитных пленочных покрытий // 2101674

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Устройство для измерения толщины плоского изделия и способ его реализации // 2107257

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Устройство для определения наличия и толщины пленки электролита на поверхности металлических объектов // 2107891

Вихретоковое устройство для неразрушающего контроля // 2111482

Индукционный датчик контроля толщины металлических покрытий // 2112919

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Неразрушающий способ определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений // 2113691

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Устройство для измерения толщины проводящего покрытия с непосредственным отсчетом // 2128818

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий

Магниторезистивный элемент и способ его получения // 2128819

Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Электромагнитный толщиномер // 2129253

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Измерительное устройство // 2133448

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе