Способ определения контактной разности потенциалов
Авторы патента:
Похожие патенты:
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам определения электрофизических параметров диэлектрических композиционных слоев на проводящей подложке, а также к способам измерения плотности электростатического заряда материалов
Изобретение относится к электротехническим измерениям и предназначено для измерения поверхностной плотности полного (реального) заряда диэлектрических материалов плоской формы
Изобретение относится к электротехническим измерениям и предназначено для экспрессного наблюдения изменений поверхностной плотности заряда и его среднего положения в плоских диэлектриках при различных воздействиях на его поверхность
Измеритель ионного тока // 397850
