Патент ссср 402830

 

лоавзо

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹,Ч. Кл. 6 Olr 29. 00

Н Olh 100

Н 05h 1/18

Заявлено 29.V11,1971 (№ 1687843i26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 19.X.1973. Ьюллетепь ¹ 42

Дата опубликования описания 6.III.197-1

Государственный комитет

Совета Министров СССР по доим изобретений и открытий

УДЬ; 621.317.335.3(088.8) Авторы тзобретения

Л. 1О. Абрамович и В. А. Гомзин

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА

В СЛОЕ ОБЪЕМНОГО ЗАРЯДА

Предмст изобрстсния

Изобретение относится к ооласти электротехники и может быть использовано для диагностики слоев объемного заряда у электродов электроразрядных устройств.

Известен способ измерения распределения потенциала в слое объемного заряда путем введения в него зонда и коллектора и изменения потенциала зонда. Предлагаемый способ позволяет повысить точность измерений. Для этого измеряют ток на установленный на границе слоя коллектор при отсутствии зонда, затем зонд вводят в слой объемного заряда на требуемое расстояние от коллектора и устанавливают величину потенциала зонда такой, чтобы ток на коллектор был равен току на него при отсутствии зонда. Потенциал зонда, соответствующий такой величине тока на коллектор, принимают за потенциал объемного заряда в данной точке слоя.

Сп особ измерения распределения потенциа1а в слос объемного заряда путем введения в него зонда и коллектора и изменения потенциала зонда, отлачаюшийся тем, что, с

10 целью повышения точности измерений, измеряют ток на установленный на границе слоя коллектор при отсутствии зонда, затем устанавливают величину потенциала зонда, введенного в слой объемного заряда на трсбуе15 мое расстояние от коллектора, такой, чтобы ток на коллектор Оыл равен току на пего при отсутствии зонда, и по этой величине потенциала зонда судят о потенциале пространства.

Патент ссср 402830 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам определения электрофизических параметров диэлектрических композиционных слоев на проводящей подложке, а также к способам измерения плотности электростатического заряда материалов

Изобретение относится к электротехническим измерениям и предназначено для измерения поверхностной плотности полного (реального) заряда диэлектрических материалов плоской формы

Изобретение относится к электротехническим измерениям и предназначено для экспрессного наблюдения изменений поверхностной плотности заряда и его среднего положения в плоских диэлектриках при различных воздействиях на его поверхность
Наверх