Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов

 

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля геометрических параметров диэлектрических объектов - их ширины, длины или толщины - и имеет целью повьшение производительности контроля . Устройство для осуществления данного способа содержит измерительный конденсатор 1, камеру влажности, подключенный к одному электроду измерительного конденсатора 1 источник 1 переменного тока и подключенный к другому электроду измерительный блок 3. При осуществлении способа объект 4 перемещают в пространство между электродами и заполняют его пространство влажной средой, подготовленной с помощью камеры влажности. После выпадения конденса:та на поверхности объекта, образующего электропроводное покрытие 5, определяют изменение емкости конденсатора 1 по сравнению с начальным значением до осаждения конденсата. По изменению емкости определяют контролируемый параметр (толщину, длину или ширину), предполагая , что все прочие геометрические параметры объекта неизменны. Благодаря малой трудоемкости нанесения электропроводного покрытия повышается производительность контроля. 1 ил. (Л Г Г1

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (50 4 0 01 В 7/08

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

М А ВТОРСНОМ .Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пО ДЕЛАМ ИЭОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (2i) 3972003/25-28 (22) 05.11.85 (46) 15.06.87. Бюл. Nр 22 (72) В.К.Федотов (53) 621.317.39.531.71 (088.Ь) (56) Патент Японии Ф 58-29841, кл. G 01 В 7/08, 1983.

Авторское свидетельство СССР

1019232, кл. С 01 В 7/08, 1980. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля геометрических параметров диэлектрических объектов — их ширины, длины или толщины — и имеет целью . повышение производительности контроля. Устройство для осуществления данного способа содержит измерительный конденсатор 1, камеру влажности, подключенный к одному электроду изме„„SU„„1317275 А1 рительного конденсатора 1 источник 2 переменного тока и подключенный к другому электроду измерительный блок

3. При осуществлении способа объект

4 перемещают в пространство между электродами и заполняют его простран ство влажной средой, подготовленной .с помощью камеры влажности. После выпадения конденсата на поверхности объекта, образующего электропроводное покрытие 5, определяют изменение емкости конденсатора 1 по сравнению с начальным значением до осаждения конденсата. По изменению емкости определяют контролируемый параметр (толщину, длину или ширину), предпо- а

Ю лагая, что все прочие геометрические параметры объекта неизменны. Благодаря малой трудоемкости нанесения электропроводного покрытия повышается С производительность контроля. 1 ил.

1317275

Изобретение относится к измерительной технике и может быть испольСоставитель И.Кислицын

Техред А.Кравчук Корректор В.Бутяга

Редактор К.Волощук

Заказ 2412/36 Тираж 677

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35., Раушская наб,, д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 эовано для контроля геометрических параметров диэлектрических волокон и иэделий из пластмассы, например ши- 5 рины и толщины неэлектропроводных лент и т.п.

Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет упрощения технологии нанесения электропроводного покрытия на диэлектрическое изделие.

На чертеже показана конструкция устройства для реализации способа контроля геометрических параметров диэлектрических объектов.

Устройство содержит измерительный конденсатор 1, к одному из электродов которого подключен генератор 2 переменного тока, а к другому электроду— измерительный блок 3. Между электродами .измерительного конденсатора 1 помещают с воздушным зазором относительно них контролируемый диэлектрический объект 4. На его поверхность в процессе измерений наносят электропроводное покрытие 5, например, в виде пленки водного конденсата. Для этого пространство между электродами измерительного конденсатора 1 запол30 няют влажной воздушной средой, подготовленной с помощью камеры влажности (не показана), в которой размещают конденсатор1 с объектом 4. Начальную температуру влажной среды устанавли- 35 вают большей, чем температура объекта контроля, а относительную влажность— большей, чем ее критическое значение (точка образования росы) при температуре объекта контроля. Вследствие того, что при указанных условиях температура объекта контроля ниже точки росы влажной среды, -на его поверхности конденсируется пленка влаги— электропроводящее покрытие 5. С помощью измерительного блока 3 определяют изменение емкости измерительного конденсатора 1 относительно его начальной емкости. Так как его емкость однозначно зависит (при постоянной площади контролируемого объекта 4), например, от толщины объекта или (при постоянной толщине объекта) от его ширины (диаметра или длины), то по изменению емкости измерительного конденсатора может быть определен контролируемый геометрический параметр.

Благодаря тому, что процесс нанесения электропроводного покрытия достаточно прост и может быть автоматизирован, повышается производительность контроля.

Формула изобретения

Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов, заключающийся в том, что на контролируемый объект наносят электропроводящее покрытие, помещают его между электродами измерительного конденсатора, определяют изменение емкости этого конденсатора и по его величине определяют контролируемый параметр, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, контролируемый объект устанавливают с воздушным зазором относительно электродов измерительного кон денсатора, а электропроводящее покрытие наносят путем размещения измерительного конденсатора во влажной воздушной среде с температурой, превышающей температуру объекта контроля, и относительной влажностью, превышающей ее критическое значение при температуре объекта контроля.

Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушаюшему контролю материалов и изделий и может быть использовано для измерения толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных изделий

Изобретение относится к метрологии и может быть использовано для поверки различных видов толщиномеров

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может использоваться для контроля сдвига во вращающихся объектах типа вал - кольцо подшипника

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества электро проводящих цилиндрических изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Цель изобретения - повышение лроизводительности и.достоверности контроля - достигается за счет установки в гальванической ванне 1 двух групп электродов-свидетелей 2 и 3, объединенных в каждой группе гальванически и подключаемых реверсивным коммутатором 7 к положительному и отрицательному полюсам источника питания гальванической ванны

Изобретение относится к испыта тельной технике и может быть использовано при определении толщины покрытия

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров, например толщины или ширины ленты из проводящего или -непроводящего материала

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх