Способ атомно-абсорбционного анализа

 

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано в атомно-абсорбционной спектрофотометрии. С целью повышения точности измерений за счет исключения шумов ато.мизатора на частоте модуляции излучения модуляцию этого излучения осуществляют в виде групп п импульсов с периодом следования t. Период Т следования групп импульсов определяется равенством Т 2nt. Электрический сигнал с выхода фотоприемника усиливают на частоте модуляции излучения и разделяют по времени на основной и сравнительный сигналы . При этом основной сигнал соответствует группе импульсов от источника света. Зате.м из обоих сигналов выделяют спектральные составляющие, частота которых равна частоте модуляции излучения, и из основного сигнала вычитают сигнал сравнения . со ю ел 00

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (504 G 01 1 342

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

jj (/

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3697861/18-25 (22) 03.02.84 (46) 23.07.87. Бюл. № 27 (7l ) Институт физики АН ГССР (72) А. Н. Рчеулишвили (53) 535.36 (088.8) (56) Разумов В. А. и др. Неселективное ослабление света в атомно-абсорбционном и атомно-флуресцентном анализе. — ЖПС, т. 31, вып. 3, 1979, с. 381 — 387. (54) СПОСОБ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО АНАЛИЗА (57) Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано в атомно-абсорбционной спектрофотометрии.

С целью повышения точности измерений за

„„SU„„1325306 А 1 счет исключения шумов атомизатора на частоте модуляции излучения модуляцию этого излучения осуществляют в виде групп и импульсов с периодом следования t. Период

Т следования групп импульсов определяется равенством Т = 2nt. Электрический сигнал с выхода фотоприемника усиливают на частоте модуляции излучения и разделяют по времени на основной и сравнительный сигналы. При этом основной сигнал соответствует группе импульсов от источника света.

Затем из обоих сигналов выделяют спектральные составляющие, частота которых равна частоте модуляции излучения, и из основного сигнала вычитают сигнал сравнения.

l325306

Формула изобретения

Составитель И. Гапоненко

Реда кто р A. Во ро ви ч Техред И. Верес Корректор И. Муска

Заказ 3040/36 Тираж 776 Подписное

ВИИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1 l 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к области спектрального анализа и может быть использовано в атомно-абсорбционной спектрофотометрии.

Целью изобретения является повышение точности измерений за счет исключения шумов атомизатора на частоте модуляции излучения.

Способ осуществляют следующим образом.

Излучение источника света модулируют, например, путем подачи на источник света импульсов питающего напряжения в виде групп с п импульсами с периодом следования t, при этом период Т следования групп импульсов определяется равенством Т = 2nt.

Промодулированное таким образом излучение пропускают через атомизатор с анализируемым веществом и преобразуют с помощью фотоприемника в электрический сигнал. Этот сигнал усиливают на частоте модуляции излучения и разделяют на основной сигнал и сигнал сравнения так, чтобы в or новной сигнал попала группа импульсов от источника света. Затем из обоих сигналов выделяют спектральные составляющие, частота которых равна частоте модуляции излучения и из основного сигнала вычитают сигнал сравнения. Поскольку составляющие, обусловленные шумом атомизатора на частоте модуляции сигнала, в основном сигнале и сигнале сравнения равны, в результате указанных действий происходит компенсация этого шума.

Способ атомно-абсорбционного анализа, включающий модуляцию оптического излу10 чения, пропускание его через атомизатор, преобразование излучения в электрический сигнал, выделение составляющей на частоте модуляции излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет исключения шумов атомизатора на частоте модуляции излучения, модуляцию излучения осуществляют в виде групп из и импульсов в каждой с периодом t следования импульсов в группе, при этом период

Т следования групп импульсов выбирают из условия Т == 2nt, электрический сигнал разделяют по времени на две части так, чтобы первая часть включала в себя группы импульсов от источника излучения, а вторая — только излучение атомизатора, спектральную составляющую на частоте модуляции излучения выделяют из обеих частей сигнала, а из первой части сигнала исключают его вторую часть.

Способ атомно-абсорбционного анализа Способ атомно-абсорбционного анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к спектральному оборудованию для атомно-абсорбционного измерения давления паров веществ

Изобретение относится к технической физике и предназначено для использования в спектральных измереш1ях, например, для определения среднеквадратичного шума спектральной лампы или оптической плотности при спектральных измерениях

Изобретение относится к спектральному приборостроению

Изобретение относится к спектральному анализу и предназначено для определения концентрации химиыеских элементов при атомно-абсорбционных измерениях

Изобретение относится к атомно-абсорбционному спектральному анализу

Изобретение относится к устройствам для-, спектрального анализа

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению и позволяет увеличить производительность измерений спектров рассеивающих излучение твердых веществ

Изобретение относится к аналитической технике и позволяет повысить точность измерений за счет использования в двухлучевс атомно-абсорбционном спектрометре второго вычитающего устройства, исключающего влияние параметров источника излучения на ре- , зультат измерения

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх