Способ определения фактической площади контакта

 

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования неровностей поверхности образца и определения фактической площади контакта твердых тел. Целью изобретения является повышение производительности и информативности. Способ осуществляют следующим образом. На исследуемую поверхность образца устанавливают пакет прозрачных полимерных пленок, толщина которого превышает максимальную высоту микронеровностей, накладывают на пакет контробразец из пластического материала и прикладывают к контробразцу силу. Затем каждую пленку пакета планиметрируют и определяют величину фактической площади контакта по высоте микронеровностей. 2 з.п. ф-лы, 1 ил. ОС О1 -vj оо No

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 657234 (2I) 3920612/25-28 (22) 01.07.85 (46) 15.11.87. Бюл. № 42 (71) Институт сверхтвердых материалов

АН УССР (72) Г. Г. Покладий, И. Х. Чеповецкий, А. Б. Олейников и В. Л. Стрижаков (53) 531.7! 7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 657234, кл. G 01 В 5/26, 1977. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАКТИЧЕСКОЙ ПЛОШАДИ КОНТАКТА (57) Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано

„„SU„„1352178 д 2 (д1) 4 G Ol В 5/28 для исследования неровностей поверхности образца и определения фактической площади контакта твердых тел. Целью изобретения является повышение производительности и информативности. Способ осуществляют следующим образом. На исследуемую поверхность образца устанавливают пакет прозрачных полимерных пленок, толщина которого превышает максимальную высоту микронеровностей, накладывают на пакет контробразец из пластического материала и прикладывают к контробразцу силу . Затем каждую пленку пакета планиметрируют и определяют величину фактической площади контакта по высоте микронеровностей. 2 з.п. ф-лы, I ил.!

352178

Составитель В. Харитонов

Редактор Л. Повхан Тсхред И. Верее Корректор Л. Г!атай

Заказ 5269/33 Тираж 677 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий! 13035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования неровностей поверхности образца и определения фактической площади контакта твердых тел. 5

Целью изобретения является повышение информативности исследований за счет обеспечения контроля фактической площади контакта по высоте микронеровностей и производительности за счет одновременного определения плошади контакта на заданных уровнях.

На чертеже показана схема осуществления способа исследования неровностей поверхности образца.

Способ осуществляют следующим образом.

На исследуемую поверхность тела 1, например абразивосодержащую поверхность хонинговального бруска, устанавливают пакет 3 прозрачных полимерных пленок, толщина которого превышает максимальную 20 высоту микронеровностей 2, накладывают на пакет 3 тела 4 (контртело) из пластичного материала, например, медную пластину, прикладывают к телу 4 давление P.

Затем каждую пленку пакета 3 планиметрируют и определяют величину фактической площади для контакта связи алмазов, контурную плошадь контакта алмаза, число контактирующих зерен, распределение фактической площади контакта по высоте микронеровностей и распределение высоты самих микронеровностей. Использование тела 4 из эластичного материала предохраняет исследуемую поверхность тела 1 от разрушения. Использование пакета 3 с пленками разной толщины обеспечивает сг!ижение трудоемкости при исследовании заданного уровня. Использование пленок одинаковой толщины обеспечивает определение фактической площади контакта с одинаковым шагом по высоте микронеровностей.

Формула изобретения

1. Способ определения фактической площади контакта по авт. св. Мв б57234, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и информативности, размещают между поверхностями тел дополнительные прозрачные полимерные пленки в пакете с основной пленкой, толщина которого превышает максимальную высоту микронеровностей.

2. Способ по и. 1, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости исследований, используют пакет из пленок разной толщины.

3. Способ по и. 1, отличающийся тем, что тело, расположенное со стороны прикладываемого давления, выполняют из пластичного материала.